接上一篇,盡管14條RTD測(cè)量通道的溫度測(cè)量誤差曲線具有一致的趨勢(shì),但由于產(chǎn)量的變化,它們的斜率和截流量在一定程度上有所不同。為了對(duì)這一過程產(chǎn)生的所有RTD測(cè)量通道進(jìn)行誤差補(bǔ)償,需要找到14條溫度測(cè)量誤差曲線所包圍的區(qū)域的中間曲線。更合適的方法是使用一個(gè)分段函數(shù)來描述錯(cuò)誤函數(shù),它分為兩個(gè)部分:零和零。
在本節(jié)中,我們將探究集成模式的數(shù)組,每個(gè)模式都是為了提供無縫集成解決方案而定制的。這些模式作為結(jié)構(gòu)化的框架,促進(jìn)了不同系統(tǒng)之間的聯(lián)系和數(shù)據(jù)交換。它們大致分為三類:
數(shù)據(jù)治理 是一個(gè)由具有不同角色和責(zé)任的個(gè)人協(xié)作制定的框架。該框架旨在建立有助于各組織實(shí)現(xiàn)其目標(biāo)的流程、政策、程序、標(biāo)準(zhǔn)和衡量標(biāo)準(zhǔn)。這些目標(biāo)包括為業(yè)務(wù)運(yùn)作提供可靠數(shù)據(jù)、建立問責(zé)制和權(quán)威性、開發(fā)評(píng)估業(yè)績的準(zhǔn)確分析方法、遵守監(jiān)管要求、保護(hù)數(shù)據(jù)、確保數(shù)據(jù)隱私以及支持?jǐn)?shù)據(jù)管理生命周期。
當(dāng)電流型DAC(IDAC)驅(qū)動(dòng)它們的負(fù)載時(shí),通道供電電壓(PVDS)和輸出負(fù)載電壓之間的差異會(huì)在負(fù)載上下降。這導(dǎo)致芯片內(nèi)功率耗散,因此可能導(dǎo)致模具溫度過高,影響可靠性,并降低整體系統(tǒng)效率。
人工智能軟件,特別是深學(xué)習(xí)組件,是目前實(shí)現(xiàn)自主汽車等自主系統(tǒng)的最先進(jìn)和經(jīng)濟(jì)上可行的解決方案。然而,DL算法的性質(zhì)及其當(dāng)前的實(shí)現(xiàn)與汽車、衛(wèi)星和火車等安全關(guān)鍵系統(tǒng)中嚴(yán)格的軟件開發(fā)過程不一致。
隨著技術(shù)的進(jìn)步,電子產(chǎn)品變得越來越強(qiáng)大和緊湊.這種上升的性能與規(guī)模比率是最終用戶的便利和成本的好消息,但它也會(huì)帶來一些可靠性問題。熱失控是當(dāng)今最突出的問題之一。
在不斷追求系統(tǒng)更高性能的過程中,集成設(shè)備制造商(IDMS)已經(jīng)非常擅長開發(fā)數(shù)字接口,能夠在充滿挑戰(zhàn)的電力環(huán)境中高速運(yùn)行。標(biāo)準(zhǔn)接口,如SPI和I2C,提供了一種相對(duì)簡單的方式,以可靠和有效的方式連接來自不同供應(yīng)商的設(shè)備。其他類型的接口也是如此。
當(dāng)前最有趨勢(shì)的機(jī)器學(xué)習(xí)和人工智能在不知疲倦地創(chuàng)新,為客戶提供最先進(jìn)的解決方案。然而,在這一快速演變過程中,確保一個(gè)以高質(zhì)量和完整性為特征的穩(wěn)健數(shù)據(jù)宇宙是不可或缺的。雖然人們經(jīng)常把重點(diǎn)放在改進(jìn)人工智能模型上,但原始數(shù)據(jù)集的重要性有時(shí)會(huì)被掩蓋。
在嵌入式系統(tǒng)中,使用單片機(jī)(MCU)通過SPI(Serial Peripheral Interface)接口與ADC(模擬到數(shù)字轉(zhuǎn)換器)通信時(shí),優(yōu)化SPI驅(qū)動(dòng)程序以提高ADC的吞吐量是一個(gè)重要的任務(wù)。以下是一些關(guān)鍵步驟和策略,可以幫助你實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo):
深層次學(xué)習(xí) 是人工智能(AI)的一個(gè)基本組成部分。它的目的是使機(jī)器能夠執(zhí)行需要決策機(jī)制的任務(wù),這些決策機(jī)制往往接近人類的推理機(jī)制。DL模型是許多先進(jìn)應(yīng)用的核心,如醫(yī)療診斷和自主駕駛。
近年來,我看到了嵌入式開發(fā)人員在使用單元測(cè)試和測(cè)試驅(qū)動(dòng)開發(fā)(TDD)方面的興趣顯著提高。測(cè)試驅(qū)動(dòng)開發(fā)有可能降低時(shí)間到市場(chǎng)和成本,同時(shí)提高整體產(chǎn)品質(zhì)量。使用TDD的開發(fā)人員通常編寫測(cè)試,使其失敗,然后只編寫生產(chǎn)代碼使測(cè)試通過。失敗的測(cè)試驅(qū)動(dòng)代碼開發(fā)。
當(dāng)嵌入式開發(fā)人員測(cè)試他們的軟件時(shí),多種力量正在發(fā)揮作用。系統(tǒng)的復(fù)雜性越來越大--這是由于對(duì)計(jì)算工作量的要求越來越大、連通性越來越廣泛以及安全性和可靠性的提高--這使得開發(fā)人員更難根據(jù)需求驗(yàn)證代碼。隨著發(fā)布時(shí)間的縮減,測(cè)試團(tuán)隊(duì)很難適應(yīng)傳統(tǒng)測(cè)試方法更大的復(fù)雜性和規(guī)模。
回顧之前的直流掃描分析是一種特性,它允許模擬發(fā)電機(jī)電壓或電流值變化的電子電路,這一程序使人們能夠在單一圖表中獲得一個(gè)或多個(gè)理想值的趨勢(shì)。在這種情況下,x軸代表的不是時(shí)間,而是變化電壓的值,而y軸代表的是設(shè)計(jì)者所希望的任何其他電氣量。它是用"指令"。在實(shí)踐中,就好像你在運(yùn)行許多模擬,在這些模擬中,你改變了一個(gè)參數(shù)的值。例如,如果您想運(yùn)行從0V到5V的輸入電壓分析,可以在電路描述文件中使用以下命令:
應(yīng)用程序編程接口(APIS)在企業(yè)正在進(jìn)行的數(shù)字化改造中發(fā)揮著核心作用,是應(yīng)用程序、基礎(chǔ)設(shè)施和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備之間交換數(shù)據(jù)的渠道。如今,很多組織都向客戶和合作伙伴提供多種API,無論是內(nèi)部開發(fā)的還是開放的。然而,這些API通常是由不同的團(tuán)隊(duì)構(gòu)建的,使用不同的應(yīng)用程序棧,遵循不同的開發(fā)計(jì)劃和發(fā)布程序,導(dǎo)致安全和監(jiān)督不一致。這使API成為一把雙刃劍,對(duì)安全構(gòu)成各種挑戰(zhàn),例如:
車輛互聯(lián)網(wǎng)是一種能夠?連接車輛 與道路基礎(chǔ)設(shè)施和其他設(shè)備實(shí)時(shí)通信。V2X包括V2V、V2I和V2P通信,使車輛能夠?qū)崟r(shí)地相互作用、基礎(chǔ)設(shè)施和行人。V2X技術(shù)旨在改善道路安全,減少交通擁堵,提高駕駛經(jīng)驗(yàn),并使自主駕駛能力成為可能。