0.5μm CMOS帶隙基準(zhǔn)電路設(shè)計(jì)
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基準(zhǔn)電壓源是模擬電路設(shè)計(jì)廣泛采用的一個(gè)關(guān)鍵模塊.可提供高精度和高穩(wěn)定度基準(zhǔn)量電源。該基準(zhǔn)電壓源與電源、工藝參數(shù)和溫度相關(guān)性很小,但產(chǎn)生的基準(zhǔn)電壓精度、溫度穩(wěn)定性和抗噪聲干擾能力直接影響整個(gè)電路系統(tǒng)的精度和性能。因此,設(shè)計(jì)高性能基準(zhǔn)電壓源具有重要意義。
1971年Robert Widla提出帶隙基準(zhǔn)電壓源技術(shù)以來,相對(duì)其他類型的基準(zhǔn)電壓源而言,帶隙基準(zhǔn)電壓源以其低溫度系數(shù)、低電源電壓,可與標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝相兼容的特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于集成電路翻。現(xiàn)以帶隙基準(zhǔn)電壓源的產(chǎn)生原理為基礎(chǔ),提出了一種具有良好自啟動(dòng)和低功耗特性的CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源。該帶隙基準(zhǔn)電壓源用于BLVDS總線收發(fā)器電路,主要為BLVDS總線驅(qū)動(dòng)器、接收器提供所需的1.25 V偏置電壓。
2 帶隙基準(zhǔn)電源的電路結(jié)構(gòu)
2.1 帶隙基準(zhǔn)電源核心電路
帶隙基準(zhǔn)電源的原理是將兩個(gè)具有相反溫度系數(shù)(TCs)的量以適當(dāng)?shù)臋?quán)重相加,其結(jié)果顯示為零溫度系數(shù)。例如:對(duì)于隨溫度向相反方向變化的電壓V1和V2,選取α1和α2,使得αaV1/aT+α2aV2/aT=0。這樣可得到具有零溫度系數(shù)的電壓基準(zhǔn):Vref=α1V1+α2V2。
通常,帶隙基準(zhǔn)電路采用雙極晶體管實(shí)現(xiàn),其基極一發(fā)射極電壓Vbe具有負(fù)溫度系數(shù),而熱電壓(Vt=KT/q)具有正溫度系數(shù)。圖1給出利用雙極晶體管產(chǎn)生的一個(gè)零溫度系數(shù)基準(zhǔn)。其輸出電壓Vref=Vbe+KVt(K是玻爾茲曼常量,Vt為熱電壓)。
2.2 帶隙基準(zhǔn)啟動(dòng)電路
在與電源無關(guān)的偏置電路中有一個(gè)很重要的問題就是存在“簡并”偏置點(diǎn)。因此需要在電路中增加啟動(dòng)電路。以驅(qū)使電路擺脫“簡并”偏置點(diǎn)。圖2給出簡單的偏置電路。當(dāng)電源上電時(shí),所有晶體管的傳輸電流均為零。
圖3給出帶自啟動(dòng)特性的偏置電路。圖中增加了二極管連接器件VM5。上電時(shí)VM5提供了從VDD經(jīng)VM0,VM5,VM2及R0到地的電流通路,使電路不再保持關(guān)斷,從而擺脫了“簡并”點(diǎn)。一旦電路正常工作,啟動(dòng)電路中各支路都沒有電流通過,不會(huì)引起額外功耗。為了仔細(xì)分析和模擬啟動(dòng)問題,不僅在直流掃描仿真中要求電源電壓從零伏開始上升.而且在瞬態(tài)仿真中也要求電源電壓從零伏開始上升。另外,還必須在每個(gè)電源電壓下檢查電路特性。在較為復(fù)雜的電路中,可能存在不止一個(gè)“簡并”點(diǎn)。
3 提出的帶隙基準(zhǔn)電路
3.1 啟動(dòng)電路實(shí)現(xiàn)
由于電路采用共源共柵結(jié)構(gòu),因此為了防止電路工作在零偏置點(diǎn),增加啟動(dòng)電路,使A6節(jié)點(diǎn)偏置,注入電流也可使電路擺脫“簡并”點(diǎn)而正常工作。圖4給出帶隙基準(zhǔn)電壓源電路。VDD經(jīng)VM6,VM7,VM12為一條到地通路,A4節(jié)點(diǎn)拉高,經(jīng)過反相器,A5節(jié)點(diǎn)為低,使VM8啟動(dòng)并向A6節(jié)點(diǎn)注入電流,從而使核心電路擺脫零偏置開始工作,完成啟動(dòng)。當(dāng)電路開始正常工作時(shí),VM5經(jīng)過VM4的鏡像電流,使A3節(jié)點(diǎn)拉高。當(dāng)VM13啟動(dòng)后,A4節(jié)點(diǎn)拉低,A5節(jié)點(diǎn)經(jīng)反相為高,促使VM8關(guān)斷,啟動(dòng)電路停止工作。
3.2 核心電路實(shí)現(xiàn)方法
圖4給出帶隙基準(zhǔn)電壓源電路。該電路的核心,是通過采用共源共柵結(jié)構(gòu)保證了A1和A2節(jié)點(diǎn)的電壓相等,因而在一定程度上增加了整個(gè)電路的電源抑制比。假設(shè)VM3和VM4,VM9和VM10均為寬長比相等的對(duì)管,則采用共源共柵結(jié)構(gòu),可使流過雙極晶體管VQ1的電流等于流過雙極晶體管VQ2的電流,即I1=I2。由此可得:
式中:Is為飽和電流;Vbe為雙極晶體管的基極一發(fā)射極正偏電壓Vbe=Vtln(I/Is);V1=KT/q;K為玻爾茲曼常量;T為絕對(duì)溫度;q為電子電荷。
依據(jù)Vbe和Vt的溫度系數(shù),選擇合適的Vt系數(shù),以得到零溫度的基準(zhǔn)系數(shù)。在該電路中取VQ1,VQ2的發(fā)射結(jié)面積之比為8:1,即IS1/IS2=8。
3.3 反饋回路
在帶隙基準(zhǔn)電源電路中增加負(fù)反饋回路會(huì)增加系統(tǒng)輸出的穩(wěn)定性,并在一定程度上提高電路的電源抑制比δPSRR。圖4中所示,假設(shè)Vref節(jié)點(diǎn)的電壓升高,VM1的漏源電壓減小,導(dǎo)通程度減弱,IVM1減小。通過VM14和VM15,VM2和VM3,VM4的鏡像結(jié)構(gòu),I1和I2都有減小的趨勢。由式(1)可得Vref減小,從而穩(wěn)定輸出電壓Vref。
4 仿真結(jié)果
采用SYNOPSYS公司的HSPICE電路仿真。圖5給出啟動(dòng)過程的仿真結(jié)果。圖6給出Vref,δPSRR和帶隙基準(zhǔn)電源隨溫度變化特性仿真結(jié)果。其電源電壓VDD=3.3V±10%;仿真溫度范圍為-45℃~+85℃。仿真的corner包括:ff(fast model),tt(typical model),ss(slow model)。仿真結(jié)果表明,在VDD=3.3 V,T=25℃時(shí),輸出電壓Vref=1.25V:在溫度范圍為-45℃~+85℃時(shí),溫度系數(shù)為20 pm/℃;低頻下的δPSRR=一58.3 dB。
5 結(jié)語
隨著CMOS工藝的發(fā)展,采用CMOS工藝設(shè)計(jì)高性能、低功耗、低成本的高速電路。該設(shè)計(jì)采用華潤上華0.5μmCMOS工藝,運(yùn)用帶隙基準(zhǔn)原理,設(shè)計(jì)出輸出穩(wěn)定的帶隙基準(zhǔn)電路。該電路用于BLVDS總線收發(fā)器,主要為BLVDS總線驅(qū)動(dòng)器、接收器提供所需的偏置電壓。HSPICE仿真結(jié)果表明,在電源電壓VDD=3.3V,溫度為25℃時(shí),Vref=1.25 V。在溫度范圍為一45℃~+85℃,輸出電壓溫度系數(shù)為20 pm/℃,在低頻時(shí)電源電壓抑制比為一58.3 dB。