本文詳細說明了一家消費類產(chǎn)品市場中大型無晶圓半導(dǎo)體公司的數(shù)字IC設(shè)計團隊如何活用標(biāo)準(zhǔn)化工具的互操作性，以維護大型、講求性能的40納米設(shè)計的手工版圖優(yōu)勢。該團隊已經(jīng)在多家供應(yīng)商工具的協(xié)助下，通過Silicon Integration Initiative(Si2)的OpenAccess(OA)互操作性標(biāo)準(zhǔn)化成果有效展開整合，從而形成了具有更大生產(chǎn)力的定制IC版圖流程。

大型數(shù)字集成電路(IC)設(shè)計的版圖通常都是使用高度自動化的版圖與繞線(APR)工具而建立的。盡管使用APR取代定制版圖存在著許多爭議，然而對大多數(shù)設(shè)計而言，APR的速度與掌握度等優(yōu)勢依然勝過面積或效能上的犧牲;但是，需要最高效能或最小面積的設(shè)計仍然依賴“手工”運用定制IC版圖方法來完成。

在新一代的定制芯片中，復(fù)雜的規(guī)則、緊迫的上市時程以及纖薄尺寸與設(shè)計復(fù)雜度，使整個定制數(shù)字區(qū)塊的設(shè)計越來越難以實現(xiàn)。全自動化的APR流程無法提供必要的版圖與繞線的互動掌控。設(shè)計人員需要高度自動化而且可控制的全定制數(shù)字IC設(shè)計流程，獲致最佳的性能、速度與面積。

定制設(shè)計中可控制式自動化的好處

在設(shè)計大量儲存解決方案時，多年來設(shè)計團隊都是為自己的模擬與定制數(shù)字設(shè)計而部署定制IC版圖自動化。雖然模擬設(shè)計人員一直都使用定制設(shè)計方法，但數(shù)字設(shè)計團隊通常只有性能、功耗、速度或面積要求超過APR工具的能力時，才會轉(zhuǎn)而使用定制設(shè)計工具與流程。

為了實現(xiàn)最佳性能與周轉(zhuǎn)時間，工程師們會使用采用先進可控制式自動化技術(shù)的工具，更快速且更事半功倍地建立定制數(shù)字設(shè)計。包括先進的電路圖導(dǎo)向版圖(SDL)流程，這個流程運用具備高度可架構(gòu)性、不依存于制程的參數(shù)式單元技術(shù)與器件層floorplan工具，提供實現(xiàn)最佳效能與密度所需的速度與控制，而不必改變設(shè)計風(fēng)格或犧牲成果質(zhì)量。

工程師們運用繼承自電路圖的聯(lián)機而自動產(chǎn)生飛行線(flight lines)，然后使用內(nèi)建的規(guī)則導(dǎo)向交互式繞線器，手工配置關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)的線路，以滿足超過2GHz的嚴苛頻率速度要求。在這種效能水平下，個別網(wǎng)絡(luò)的繞線對于環(huán)境以及與其他繞線、網(wǎng)絡(luò)甚至層別之間的互動會很敏感。為了平衡這些元素，設(shè)計團隊必須與設(shè)計環(huán)境中所有元素互動。手工繞線時，設(shè)計團隊可以安排路線、萃取與評估關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)以實現(xiàn)絕佳時序，然后加以修改，直到獲得所需值。

圖1. 飛行線顯示鏈接，并導(dǎo)引規(guī)則導(dǎo)向的手工繞線

迎接新一代定制數(shù)字設(shè)計的挑戰(zhàn)

盡管定制版圖與手工繞線作法能夠滿足效能需求，卻越來越難在合理期間內(nèi)完成新一代定制數(shù)字區(qū)塊。

隨著設(shè)計益趨龐大而且復(fù)雜，版圖設(shè)計人員遭遇嚴重的繞線問題，并發(fā)現(xiàn)自己是在一片未知領(lǐng)域中設(shè)計繞線通路，必須放棄密度以便使越來越龐大的區(qū)塊中的手工與點對點自動化繞線作業(yè)獲得妥善的管理。雖然設(shè)計團隊仍然能夠達成能效目標(biāo)，卻常常要付出增加面積的代價，這在講究成本的市場上不能令人滿意。此外，完成設(shè)計所需的時間也遠遠超過單一版圖所需時間。

圖2. OpenAccess中的相互操作性

隨著設(shè)計團隊轉(zhuǎn)移到40nm制程以滿足日增的效能需求，挑戰(zhàn)也水漲船高。對于手工繞線與既有的自動化定制繞線解決方案而言，在這個制程中，模塊變得過于龐大(太多互連線)，而且設(shè)計規(guī)則也太先進。沒有任何大規(guī)模定制繞線器能夠提供先進制程所需的深亞微米DRC-clean與DFM-aware繞線技術(shù)。

剛開始的時候，設(shè)計團隊嘗試使用混合式流程，使用版圖編輯器像以前一樣以手工進行關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)的繞線工作，然后運用APR支持先進DRC規(guī)則的數(shù)字繞線器來完成非關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)。很不幸地，不斷地換用多種工具降低了生產(chǎn)力。無論個別步驟的效率有多高，定制與數(shù)字設(shè)計領(lǐng)域還是無法密切配合。此外，這個方法并非交互式的，會導(dǎo)致團隊損失層次與連接數(shù)據(jù)。自動化繞線器多半會反復(fù)執(zhí)行部分精心繪制的關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)的繞線，需要廣泛的手工校對，甚至要繞線器重復(fù)作業(yè)。因此，設(shè)計團隊要花6個星期時間反復(fù)作業(yè)，才能夠獲得可接受，卻不是最佳的結(jié)果。

圖3. 繞線器辨識障礙然后繞線
 

即便是在非關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)，只要不妨礙反復(fù)作業(yè)的能力，自動化繞線都能夠提高設(shè)計團隊的生產(chǎn)力。而且，目前還無法呈現(xiàn)部分預(yù)先繞線與導(dǎo)引APR工具所需的精密間隔限制。所以，反而導(dǎo)致定制模塊中不良的寄生效應(yīng)，需要耗費人力的手工重新繞線與多次冗長的重新執(zhí)行。

雖然自動化通?？梢蕴岣呱a(chǎn)力，但是現(xiàn)在卻使困難的制程變得更冗長，因為設(shè)計人員無法控制結(jié)果。事實上，對已經(jīng)全部完成繞線的版圖中關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)的手工校對，通常比用手工從頭開始繞線還要花費更多時間。設(shè)計團隊得到一個結(jié)論，為了以更短時間實現(xiàn)最佳結(jié)果，需要能通過可控制式自動化而維護層次、連接與設(shè)計完整性的異質(zhì)環(huán)境。

相互操作性節(jié)省時間

標(biāo)準(zhǔn)組織Silicon Integration Initiative(Si2)提供電子設(shè)計自動化(EDA)工具專屬的可相互操作數(shù)據(jù)庫，稱為OpenAccess(OA)，近年來已經(jīng)成為定制設(shè)計的標(biāo)準(zhǔn)。OA有一項鮮為人知的功能OA Run Time Model(OA-RTM)，可在OA上執(zhí)行作為EDA工具專屬的內(nèi)存模型(in-memory model)。這表示，完全不同的工具可在同一時間、設(shè)計數(shù)據(jù)的同一內(nèi)存代理上操作。運用OA-RTM的眾多供貨商的工具都可以如同單一供貨商所提供的工具一般順暢地配合作業(yè)。

運用OA-RTM，Pyxis Technology的全新高效能定制繞線器能夠在Laker定制版圖環(huán)境中作業(yè)。這個極大容量定制數(shù)字繞線器已經(jīng)通過客戶驗證，能夠在45nm和以下制程建立DRC-correct、DFM-aware的繞線;能夠執(zhí)行所有階層的繞線而且是漸進式的，這表示，不必改變手工建立的既有關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)。執(zhí)行定制IC版圖系統(tǒng)時，設(shè)計人員能夠選擇芯片面積，并且讓整合式繞線器在這個限制條件下執(zhí)行所有網(wǎng)絡(luò)的繞線。強迫特定繞線通路的端口以及障礙(blockages)、變更與固定和既有的繞線全都由繞線器來辨識，不必數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換或者將數(shù)據(jù)儲存到磁盤。