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從傳統(tǒng)機械制造邁向數字化、智能化的轉型之路,軟件定義汽車(SDV)的出現,無疑成為這場變革的關鍵驅動力,預示著產業(yè)拐點即將來臨。那么,支撐軟件定義汽車發(fā)展的支柱究竟是什么呢?
Sensefarm 成功解決了頻繁電池故障的根本問題,這不僅消除了維護困擾,也促使他們重塑了客戶支持的整體業(yè)務流程。借助 Otii 電池工具箱,Sensefarm 在設備部署前即可對電池進行全面檢測,確保其與傳感器的高度兼容,從而極大增強了產品的穩(wěn)定性與客戶信任。我們相信,深入理解物聯網設備故障的根本原因,能夠帶來巨大的經濟效益。
如何判斷當前開發(fā)的物聯網產品是否適合采用太陽能供電?又該如何選擇最適合應用場景的太陽能電池板? 答案很簡單:通過測試評估太陽能板性能。本文將詳細講解在物聯網開發(fā)項目中,以Otii測量工具為例,如何科學評估太陽能供電方案的可行性。
在全球科技飛速發(fā)展的浪潮中,汽車產業(yè)正經歷著一場深刻的變革,加速邁向智能網聯電氣化。這一轉型不僅重塑了汽車的產品形態(tài)和使用方式,更為車規(guī)芯片產業(yè)帶來了前所未有的機遇與挑戰(zhàn)。中國作為全球最大的汽車市場和新能源汽車生產國,車規(guī)中國芯正力爭借此東風實現集體突破,推動產業(yè)邁向高質量發(fā)展之路。
隨著全球對環(huán)境保護和可持續(xù)發(fā)展的關注度不斷提升,電動汽車作為一種清潔、高效的交通工具,正逐漸成為未來交通的主流趨勢。然而,電動汽車的大規(guī)模普及也帶來了一系列挑戰(zhàn),其中充電問題尤為突出。如何實現智慧互聯、有序充電,并提供多場景充電解決方案,成為了當前亟待解決的關鍵問題。
在芯片制造的納米級戰(zhàn)場上,缺陷檢測是決定良率與性能的核心防線。從傳統(tǒng)電子束檢測(EBI)到AI驅動的良率預測模型,技術迭代不僅重塑了檢測精度與效率,更重構了芯片制造的質量控制范式。這場變革背后,是硬件、算法與數據科學的深度融合,推動著半導體產業(yè)向“零缺陷”目標邁進。
在人工智能計算領域,馮·諾依曼架構固有的數據搬運瓶頸已成為制約系統(tǒng)性能的核心矛盾。傳統(tǒng)計算架構下,CPU與DRAM之間的頻繁數據傳輸導致能耗占比超過60%,而相變存儲器(PCM)憑借其非易失性、納米級操作速度及類腦計算特性,正成為突破這一瓶頸的關鍵技術。通過材料創(chuàng)新、架構優(yōu)化與算法協同,PCM在AI計算中的延遲優(yōu)化已取得突破性進展,為構建存算一體系統(tǒng)提供了物理基礎。
數字化轉型與人工智能技術驅動,數據中心存儲架構正經歷從傳統(tǒng)磁盤陣列向全閃存與新型內存技術的深度變革。全閃存陣列(AFA)憑借亞毫秒級延遲與高IOPS性能重塑存儲性能基準,而持久化內存(PMEM)則通過填補DRAM與SSD之間的性能鴻溝,重新定義了近內存計算范式。這兩大技術的演進路徑,不僅反映了存儲介質的技術突破,更揭示了數據中心在容量、性能與成本平衡中的創(chuàng)新邏輯。
腦機接口(BCI)芯片作為連接人類神經系統(tǒng)與電子設備的核心組件,其生物兼容性直接決定了技術的安全性與可靠性。從神經信號的微弱采集到低功耗模數轉換器(ADC)的噪聲抑制,BCI芯片需在生物相容性、信號保真度與能效之間實現平衡。這一領域的技術突破,不僅依賴于材料科學與電路設計的創(chuàng)新,更需解決長期植入后的組織反應與信號干擾問題。
人工智能與物聯網深度融合,傳統(tǒng)馮·諾依曼架構的“內存墻”問題日益凸顯:數據在處理器與存儲器間的頻繁搬運導致能耗激增,而摩爾定律的放緩更使算力提升陷入瓶頸。憶阻器作為第四種基本電路元件,憑借其“存儲即計算”的獨特屬性,正在為神經形態(tài)計算開辟新范式。這種將存儲單元與計算單元深度融合的技術,不僅突破了傳統(tǒng)架構的物理限制,更在能效比、實時性與可擴展性上展現出顛覆性潛力。
物聯網設備與邊緣AI芯片對毫瓦級功耗的極致追求,低功耗存儲器設計已成為突破能量效率瓶頸的核心戰(zhàn)場。從動態(tài)電壓頻率調節(jié)(DVFS)到近閾值計算(NTC),存儲器技術正通過多維度創(chuàng)新,將每比特能耗壓縮至皮焦耳級。以三星eMRAM為例,其通過NTC技術將待機功耗降低至傳統(tǒng)SRAM的1/1000,同時保持10年數據保持能力,印證了低功耗存儲器在延長設備續(xù)航中的革命性價值。