廈門大學與臺灣新竹交通大學的科研團隊(郭浩中，吳挺竹，佘慶威)近期合作開發(fā)了一種基于顯微成像系統(tǒng)的micro-LED表面亮度檢測系統(tǒng)，可以快速測量micro-LED陣列在工作時任意位置的絕對亮度值。

LED作為一種主動的自發(fā)光裝置已經(jīng)存在了半個多世紀。由于其低功耗，低工作電壓，高照度，長工作壽命和穩(wěn)定的性能，使其成為一種非常流行的應用。隨著LED技術的發(fā)展和各種行業(yè)對微集成的不斷增長的應用需求，micro-LED陣列器件應運而生。通過進一步減小LED芯片的尺寸，在毫米的范圍內，可以制備數(shù)百或數(shù)千個micro-LED以形成micro-LED陣列。micro-LED在許多領域具有潛在的應用，包括micro-LED顯示器，高速并行可見光通信，高壓照明芯片等。

在顯示領域，與LCD和OLED顯示技術相比，micro-LED顯示器具有發(fā)光效率高，亮度高，對比度高，響應時間短的優(yōu)點。但由于散熱，老化等問題，導致顯示器成像缺陷，影響其成像質量，因此顯示器的缺陷檢測是必要的。但目前的檢測測量仍保持在宏觀水平，不能用于精確測量微LED陣列，而且用于評估m(xù)icro-LED陣列亮度的方法集中在總亮度的測量上，未能快速檢測微LED陣列中的壞像素。因此尋找一種快速、精確的方法來檢查micro-LED的表面亮度是非常有必要的。