2009年最佳測試產(chǎn)品獎(jiǎng)項(xiàng)，面向電子測試與測量行業(yè)的重要的創(chuàng)新性產(chǎn)品和服務(wù)。2009年“Best in Test”獎(jiǎng)項(xiàng)共設(shè)有15個(gè)應(yīng)用及產(chǎn)品類別，該獎(jiǎng)項(xiàng)是由Test & Measurement World的讀者投票產(chǎn)生，其中，年度測試產(chǎn)品——美國國家儀器的Wi-Fi數(shù)據(jù)采集設(shè)備獲得最高讀者投票數(shù)。

年度測試產(chǎn)品

Wi-Fi 數(shù)據(jù)采集設(shè)備

National Instruments www.ni.com

NI無線數(shù)據(jù)采集(Wi-Fi DAQ)設(shè)備具有內(nèi)置的信號(hào)調(diào)理功能和商用安全性最高的網(wǎng)絡(luò)，能夠?qū)崟r(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，完成性能卓越且簡便易用的遠(yuǎn)程無線傳感器測量。NI無線數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備通過結(jié)合IEEE 802.11無線或以太網(wǎng)通信、直接的傳感器連接以及靈活的NI LabVIEW軟件，實(shí)現(xiàn)著對(duì)電氣、物理、機(jī)械和聲音信號(hào)的遠(yuǎn)程監(jiān)控。

NI無線數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備每通道的數(shù)據(jù)讀寫速率超過50 kS/s，并具有高達(dá)24位的分辨率。此外，經(jīng)NIST核準(zhǔn)的內(nèi)置式128位AES加密和高級(jí)網(wǎng)絡(luò)認(rèn)證方法，確保著最高的商用網(wǎng)絡(luò)安全性。

借助靈活的NI LabVIEW圖形化編程和普遍使用的802.11網(wǎng)絡(luò)設(shè)施，無線數(shù)據(jù)采集(Wi-Fi DAQ)可輕松地將無線連接，納入基于PC的新型測控系統(tǒng)或現(xiàn)有測控系統(tǒng)。工程師可以利用無線數(shù)據(jù)采集C系列測量模塊，交替使用在數(shù)個(gè)平臺(tái)（包括：NI CompactDAQ和CompactRIO、NI單模塊USB外盒）上，實(shí)現(xiàn)各種測量和控制應(yīng)用。

NI無線數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備包括五款無線設(shè)備模塊以及眾多附件，價(jià)格為699美元起。

最佳測試時(shí)間獎(jiǎng)

ATPG軟件

Mentor Graphics www.mentor.com

TestKompress ATPG（自動(dòng)測試格式生成）軟件包括嵌入式測試壓縮，以提供高質(zhì)量低成本掃描測試。隨著測試需求的增長，在高產(chǎn)量環(huán)境下保持高質(zhì)量IC測試需要進(jìn)行壓縮。很顯然，在針對(duì)更高階IC技術(shù)時(shí)，使用測試向量是必要的需求。

通過TestKompress，測試接入I/O口可以減少三個(gè)管腳，簡化了測試，增加了器件的封裝選擇性，使標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更加流暢。嵌入式確定性測試（EDT）技術(shù)可適用于從微處理器至汽車電子的廣泛設(shè)計(jì)類型，給出一致的測試結(jié)果，不會(huì)出現(xiàn)損失基本覆蓋率。

TestKompress在2001年時(shí)被作為額外的格式壓縮功能引入FastScan ATPG工具。最初的壓縮等級(jí)為10倍，目前已發(fā)展至超過100倍。另外的功能包括，分布式處理以獲得更快的執(zhí)行能力，無需特殊格式就可指導(dǎo)錯(cuò)誤診斷。設(shè)計(jì)經(jīng)過多次壓縮后，晶圓測試、封裝測試和自建內(nèi)測試的工作可以明顯得到優(yōu)化。非矢量測試中，可以加入邏輯自測試（LBIST）來進(jìn)行系統(tǒng)測試。

音頻/視頻及多媒體

多媒體測試系統(tǒng)

VI Technology www.vi-tech.com

測試、設(shè)計(jì)和制造部門可以應(yīng)用多媒體測試系統(tǒng)（MMTS）來測試多媒體設(shè)備的模擬和數(shù)字音/視頻性能。MMTS系統(tǒng)提供硬件和軟件測試所需的所有通用音頻、視頻信號(hào)及數(shù)字協(xié)議，通過資源共享以及雙核處理器的應(yīng)用可以優(yōu)化測試時(shí)間。

電路板及系統(tǒng)測試和配置

覆蓋擴(kuò)展（Cover-Extend）技術(shù)

Agilent Technologies

Cover-Extend覆蓋擴(kuò)展技術(shù)是專為面對(duì)越來越復(fù)雜的印制電路板組件（PCBA）的制造商提供的測試覆蓋工具，是電子制造行業(yè)兩種已建立測試方法學(xué)：邊界掃描和VTEP無矢量測試的混合。與要求在印制電路板組件(PCBA)上通過物理測試點(diǎn)注入測試激勵(lì)信號(hào)的傳統(tǒng)VTEP測試不同，Cover-Extend覆蓋擴(kuò)展不需要物理測試點(diǎn)，而是依靠邊界掃描單元所提供的激勵(lì)源。為在線測試(ICT)用戶提供了不需要物理測試點(diǎn)的受限接入測試解決方案。

邊界掃描

T 37x7 RMI儀器

JTAG Technologies www.jtag.com

JT 37x7 RMI (機(jī)架安裝式) 儀器是完整的邊界掃描控制器，采用標(biāo)準(zhǔn)的19英寸x1U外包裝，兼容任何機(jī)架安裝式功能測試系統(tǒng)。RMI支持所有的邊界掃描測試應(yīng)用，包括IEEE 1149.6高級(jí)數(shù)字網(wǎng)絡(luò)測試以及閃存和可編輯邏輯器件的在系統(tǒng)編程(ISP)。RMI有4個(gè)完全兼容的邊界掃描測試接入端口(TAP)，可以向目標(biāo)設(shè)備提供優(yōu)秀的信號(hào)完整性能。另外，RMI還提供256個(gè)可編程I/O，進(jìn)一步增強(qiáng)了測試覆蓋率。

EDA/DFx/測試數(shù)據(jù)分析軟件

Global Test Operations 解決方案

OptimalTest www.optimaltest.com