梁德豐,錢省三,梁靜(上海理工大學工業(yè)工程研究所/微電子發(fā)展中心,上海 200093)摘要:由于半導體制造工藝過程的復雜性,一般很難建立其制造模型,不能對工藝過程狀態(tài)有效地監(jiān)控,所以迫切需要先進的半導體過程控
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