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接地共面波導(dǎo)射頻饋線的優(yōu)化，第二部分E場測試
下圖顯示了不同接地平面切口寬度的模擬 E‐Field 圖以及原始 PCB 設(shè)計(jì)。這些 E‐Field 圖用于確認(rèn)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)正確并發(fā)現(xiàn)任何問題區(qū)域。例如，在具有較小寬度的第 2 層接地平面切口的模擬中，可以看到共面跡線的 E‐Field 與第 2 層接地平面強(qiáng)烈耦合，從而降低了跡線的阻抗。
下圖顯示了不同接地平面切口寬度的模擬 E‐Field 圖以及原始 PCB 設(shè)計(jì)。這些 E‐Field 圖用于確認(rèn)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)正確并發(fā)現(xiàn)任何問題區(qū)域。例如，在具有較小寬度的第 2 層接地平面切口的模擬中，可以看到共面跡線的 E‐Field 與第 2 層接地平面強(qiáng)烈耦合，從而降低了跡線的阻抗。
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