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Verigy 93000中直流參數(shù)的并行測(cè)試方法
1 引言 在當(dāng)前SoC 快速發(fā)展及半導(dǎo)體行業(yè)激烈競(jìng)爭(zhēng)的階段，提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本，是從業(yè)者需要思考和解決的課題。 Verigy 93000 是單一平臺(tái)的可升級(jí)測(cè)試系統(tǒng)，它是滿(mǎn)足SoC 技術(shù)全面集
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