在電子工程的世界里,每一個元件和參數(shù)都扮演著舉足輕重的角色,它們之間相互關(guān)聯(lián)、相互影響,共同塑造著電路的性能與行為。其中,失調(diào)電壓(Offset Voltage)與開環(huán)增益(Open-Loop Gain)作為模擬電路中的兩個核心概念,不僅各自具有深遠的意義,而且它們之間的關(guān)系緊密而微妙,猶如一對緊密相連的“表親”,共同影響著電路的穩(wěn)定性、精度和動態(tài)范圍。
在電子技術(shù)的浩瀚星空中,失調(diào)電壓(Offset Voltage)與開環(huán)增益(Open-Loop Gain)猶如兩顆璀璨的星辰,它們雖然各自閃耀,卻在諸多電子系統(tǒng)中緊密相連,共同編織著性能與精度的精密網(wǎng)絡(luò)。本文旨在深入探討這對“表親”之間的微妙關(guān)系,揭示它們?nèi)绾卧陔娮邮澜绲奈枧_上相互依存、相互影響。
干完這7道題,包你學(xué)會從對數(shù)幅頻特性曲線圖中求開環(huán)增益K!
0.引言 大多數(shù)運算放大器電路都是工作在深度負反饋狀態(tài),我們在分析此類電路時常采用運算放大器的理想化模型(即利用虛短虛斷技術(shù)),而事實上這種理想化模型忽略了運算
失調(diào)電壓與開環(huán)增益—它們是表親所有人都知道失調(diào)電壓,對吧?在圖 1a 所示最簡單的 G=1 電路中,輸出電壓是運算放大器的失調(diào)電壓。失調(diào)電壓被建模為與一個輸入端串聯(lián)的DC電壓。在單位增益中,G=1 時,失調(diào)電
1.一般反相/同相放大電路中都會有一個平衡電阻,這個平衡電阻的作用是什么呢?(1) 為芯片內(nèi)部的晶體管提供一個合適的靜態(tài)偏置。芯片內(nèi)部的電路通常都是直接耦合的,它能夠自動調(diào)節(jié)靜態(tài)工作點,但是,如果某個輸入引腳
運放補償雖然很常見,但有時候也極具挑戰(zhàn)性,尤其是在要求和約束條件超過設(shè)計師控制的情況下,設(shè)計師必須選擇一種最優(yōu)補償技術(shù)之時。也許極具挑戰(zhàn)性的原因之一是一般文獻資
大多數(shù)電壓反饋(VFB)型運算放大器的開環(huán)電壓增益(通常稱為AVOL,有時簡稱AV)都很高。常見值從100000到1000000,高精度器件則為該數(shù)值的10至100倍。有些快速運算放大器的開環(huán)增益要低得多,但是幾千以下的增益不適合高
120W功放電路
數(shù)據(jù)采集是對溫度、壓力、濕度、應(yīng)變以及各種其他物理現(xiàn)象進行的極其多樣化的綜合性測量。此外,這些測量可能需要在惡劣條件下進行,例如極端溫度、離心力和電子噪聲環(huán)境。系統(tǒng)設(shè)計人員不但必須要用心地為他們的應(yīng)用
集成運放的發(fā)展十分迅速。通用型產(chǎn)品經(jīng)歷了四代更替,各項技術(shù)指標(biāo)不斷改進。同時,發(fā)展了適應(yīng)特殊需要的各種專用型集成運放。為了在工作中能夠根據(jù)要求正確地選用,首先必須了解各類集成運放的特點和它們的主要技
我們往往需要對這個反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進行測量,以便對它的開環(huán)特性建立模型。但這樣的測試通??偸呛芾щy的。例如,積分器的低頻增益可以非常高,一般會超出常用測試儀的測量范圍。所以,這些測試的目的是,使用現(xiàn)有的工具和少量的專用電路,以最小的工作量,快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。
來自高速設(shè)計專家的告誡是:您應(yīng)該避免使用相對您的應(yīng)用而言速度過快的模擬器件。因此,您要盡量選擇一種閉環(huán)帶寬稍高于信號最大頻率的放大器。
圖1所示的三運放儀表放大器看似為一種簡單的結(jié)構(gòu),因為它使用已經(jīng)存在了幾十年的基本運算放大器(op amp)來獲得差動輸入信號。運算放大器的輸入失調(diào)電壓誤差不難理解。運算放大器開環(huán)增益的定義沒有改變。運算放大器共
數(shù)據(jù)采集是對溫度、壓力、濕度、應(yīng)變以及各種其他物理現(xiàn)象進行的極其多樣化的綜合性測量。此外,這些測量可能需要在惡劣條件下進行,例如極端溫度、離心力和電子噪聲環(huán)境。系統(tǒng)設(shè)計人員不但必須要用心地為他們的應(yīng)