FCT可簡(jiǎn)化測(cè)試程序開(kāi)發(fā)

1 引言 數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)為工程師進(jìn)行特殊模擬、混合信號(hào)應(yīng)用開(kāi)發(fā)提供了極大的靈活性。然而這一靈活性的增加也使工程師開(kāi)發(fā)測(cè)試程序時(shí)存在不易發(fā)現(xiàn)的缺陷從而降低測(cè)試性能的可能性有所增加。 2 使采樣技術(shù)符

三種立場(chǎng)的6名演講者就無(wú)廠化時(shí)代的測(cè)試課題發(fā)表演講

“STS會(huì)議1測(cè)試”剛剛開(kāi)始。攝影：Tech-On!。（點(diǎn)擊放大） 以前日本在LSI測(cè)試工作基本上是由集成器件廠商（Integrated Device Manufacturer，IDM）的測(cè)試部門承擔(dān)的，與其他部門及外部委托方?jīng)]什么關(guān)系。最近這種

如何借助PAT測(cè)試實(shí)現(xiàn)汽車電子元器件的零缺陷制造

關(guān)鍵字：PAT測(cè)試 電子元器件 零缺陷制造業(yè)界對(duì)于半導(dǎo)體元器件零缺陷需求的呼聲日益高漲，為此半導(dǎo)體制造商開(kāi)始加大投資應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，以滿足汽車用戶的需求。隨著汽車中電子元器件數(shù)量的不斷增加，必須嚴(yán)格控制現(xiàn)代汽車中

高亮度LED的全方位測(cè)試

　高亮發(fā)光二極管(High brightness light emitting diodes，HBLED)綜合具備了高輸出、高效率和長(zhǎng)壽命等優(yōu)勢(shì)。圖1示出了典型的二極管的電I-V特性曲線。雖然一個(gè)完整的測(cè)試程序可以包括數(shù)百個(gè)點(diǎn)，但對(duì)一個(gè)有限的樣本的

高亮度LED的全方位測(cè)試

　高亮發(fā)光二極管(High brightness light emitting diodes，HBLED)綜合具備了高輸出、高效率和長(zhǎng)壽命等優(yōu)勢(shì)。圖1示出了典型的二極管的電I-V特性曲線。雖然一個(gè)完整的測(cè)試程序可以包括數(shù)百個(gè)點(diǎn)，但對(duì)一個(gè)有限的樣本的

AEM科技喜獲UL目擊實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)

AEM科技（蘇州）股份有限公司于日前取得UL目擊實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)。這是中國(guó)大陸境內(nèi)第一家限流熔斷器生產(chǎn)商獲得本項(xiàng)資質(zhì)，將使AEM熔斷器新產(chǎn)品的UL認(rèn)證周期大大縮短，為加快研發(fā)成果商品化及高效服務(wù)客戶提供了便利。UL是國(guó)

GPTS3.0在綜合測(cè)試診斷系統(tǒng)中的應(yīng)用

摘 要：針對(duì)綜合測(cè)試診斷系統(tǒng)(CTDS)測(cè)試軟件平臺(tái)發(fā)展的新要求,提出了采用GPTS3.0 測(cè) 試軟件平臺(tái)。并以某型角位移傳感器為例，具體地描述了GPTS3.0 在CTDS 中開(kāi)發(fā)UUT 自 動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的方法，給出了利用GPTS3.0 在CTD

基于龍芯2號(hào)處理器的SPEC 2000測(cè)試程序的分析與應(yīng)用

為了對(duì)我國(guó)自主研發(fā)的龍芯2號(hào)處理器的性能進(jìn)行評(píng)價(jià)，獲取龍芯2號(hào)處理器性能的客觀數(shù)據(jù)。提出一種針對(duì)龍芯2號(hào)處理器的采用由國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)性能評(píng)測(cè)組織開(kāi)發(fā)的、專門用于評(píng)價(jià)CPU性能的SPEC CPU 2000測(cè)試程序的測(cè)試和分析的方法。該方法包括在Linux操作系統(tǒng)下安裝和配王SPEC 2000程序的要點(diǎn)和使用SPEC 2000程序?qū)埿?E處理器進(jìn)行性能測(cè)試的具體流程，還包括對(duì)SPEC 2000程序運(yùn)行結(jié)果的分析。目前該方法已經(jīng)應(yīng)用，效果良好。

基于龍芯2號(hào)處理器的SPEC 2000測(cè)試程序的分析與應(yīng)用

基于龍芯2號(hào)處理器的SPEC 2000測(cè)試程序的分析與應(yīng)用

使用基于模型的設(shè)計(jì)測(cè)試程序開(kāi)發(fā)智能設(shè)備

目前的嵌入式開(kāi)發(fā)過(guò)程通常包括不同形式的設(shè)計(jì)仿真、驗(yàn)證、確認(rèn)和系統(tǒng)測(cè)試。在這些階段，設(shè)計(jì)和測(cè)試工具間很難過(guò)渡。這往往會(huì)造成需要將測(cè)試代碼、測(cè)試案例和仿真與I/O接口重新寫入到模型中。

特頻率計(jì)算工具(FCT)簡(jiǎn)化測(cè)試程序開(kāi)發(fā)

1 引言 數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)為工程師進(jìn)行特殊模擬、混合信號(hào)應(yīng)用開(kāi)發(fā)提供了極大的靈活性。然而這一靈活性的增加也使工程師開(kāi)發(fā)測(cè)試程序時(shí)存在不易發(fā)現(xiàn)的缺陷從而降低測(cè)試性能的可能性有所增加。 2 使采樣技術(shù)符

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1 引言 數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)為工程師進(jìn)行特殊模擬、混合信號(hào)應(yīng)用開(kāi)發(fā)提供了極大的靈活性。然而這一靈活性的增加也使工程師開(kāi)發(fā)測(cè)試程序時(shí)存在不易發(fā)現(xiàn)的缺陷從而降低測(cè)試性能的可能性有所增加。 2 使采樣技術(shù)符

航向姿態(tài)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備研制

1 引言　　伴隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，機(jī)載設(shè)備的自動(dòng)化程度、綜合化水平和技術(shù)密度程度不斷提高，同時(shí)也使機(jī)載設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)及維修設(shè)備的研究受到高度重視。國(guó)外發(fā)達(dá)國(guó)家都先后制定了適應(yīng)本國(guó)要求的維修系統(tǒng)與維修設(shè)

寫給DSP初學(xué)者：輕松入門，快速精通

TI產(chǎn)品成為Wi-Fi聯(lián)盟802.11g測(cè)試程序的關(guān)鍵部分

德州儀器公司(TI)推出的WLAN解決方案已成為Wi-Fi聯(lián)盟802.11g測(cè)試程序的關(guān)鍵組成部分，目前該測(cè)試程序已用于驗(yàn)證符合最近批準(zhǔn)的IEEE802.11g標(biāo)準(zhǔn)修正規(guī)范的Wi-Fi產(chǎn)品的可互操作性。為獲得802.11gWi-Fi認(rèn)證而提交的所有產(chǎn)品都將根據(jù)TI基于TNETW1...