EMC測(cè)試工程師早上6點(diǎn)發(fā)來(lái)消息，電源傳導(dǎo)測(cè)試摸底Fail了。。。

昨天測(cè)試工程師將最近項(xiàng)目設(shè)計(jì)的板卡拿到EMC實(shí)驗(yàn)室做摸底測(cè)試，由于排班比較忙，和我說(shuō)要到凌晨3點(diǎn)左右才能安排，早上會(huì)和我通報(bào)測(cè)試情況。我其實(shí)是挺有信心的，畢竟也只是改版設(shè)計(jì)，關(guān)鍵走線以及芯片處都做過(guò)仿真，基本問(wèn)題不大的。然而今天一大早起來(lái)就收到實(shí)驗(yàn)室發(fā)來(lái)的測(cè)試Fail的圖，瞬間被打臉了。。。如下圖所示，測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為EN55032，EMI電源端口B類(lèi)設(shè)備傳導(dǎo)性放射限制線處，準(zhǔn)峰值QP和平均值A(chǔ)VG都有不同程度的超標(biāo)。