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第一講 示波器基礎(chǔ)之帶寬的原理及實(shí)用技巧
中心議題： 示波器帶寬的原理 示波器帶寬在測(cè)試中的應(yīng)用 工程師在選擇示波器的時(shí)候，如何確定帶寬？ 帶寬被稱為示波器的第一指標(biāo)，也是示波器最值錢的指標(biāo)。示波器市場(chǎng)的劃分常以帶寬作為首要依據(jù)，工程
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第二講 示波器基礎(chǔ)之采樣率和存儲(chǔ)深度
中心議題： 示波器的采樣、采樣速率 示波器的采樣模式 示波器的存儲(chǔ)、存儲(chǔ)深度 解決方案： 實(shí)時(shí)采樣用來(lái)捕獲非重復(fù)性或單次信號(hào) 等效時(shí)間采樣是對(duì)周期性波形在不同的周期中進(jìn)行采樣 在高速串行數(shù)據(jù)的測(cè)
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第六講 示波器基礎(chǔ)之無(wú)源探頭
中心議題： 10倍無(wú)源探頭的模型和輸入負(fù)載設(shè)定 無(wú)源電壓探頭的校準(zhǔn) 作為一名專業(yè)的硬件設(shè)計(jì)及測(cè)試工程師，我們每天都在使用各種不同的數(shù)字示波器進(jìn)行相關(guān)電氣信號(hào)量的量測(cè)。 與這些示波器相配的探頭種類
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第八講 示波器基礎(chǔ)之關(guān)于示波器中測(cè)量參數(shù)的算法
中心議題：上升沿和下降沿取決于基頂值和基底值的確定 寬度、周期和延遲等時(shí)間參數(shù)在中間線處測(cè)量 合理設(shè)置水平軸測(cè)量中的Hysteresis（磁滯）能有效防止噪聲或其它干擾問(wèn)題：“在測(cè)試信號(hào)邊沿的上升/下
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第九講 示波器基礎(chǔ)之電源噪聲測(cè)試
中心議題： 用示波器進(jìn)行電源噪聲測(cè)試 解決方法： 測(cè)量時(shí)讓波形占滿屏幕可有效減少量化誤差 需要選擇合適的探頭 測(cè)量小電源噪聲推薦使用50歐的輸入阻抗 當(dāng)今的電子產(chǎn)品，信號(hào)速度越來(lái)越快，集成電路芯片
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第十一講 示波器基礎(chǔ)之RIS模式和Roll模式
中心議題： RIS模式和Roll模式的工作原理 RIS模式只能用于穩(wěn)定觸發(fā)的周期性重復(fù)性的波形 Roll模式主要用于低速信號(hào) RIS模式RIS模式即隨機(jī)內(nèi)插采樣模式(Random Interleaved Sampling Mode)，也稱ET模式。
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第十三講 示波器基礎(chǔ)之高壓測(cè)試
中心議題： 高壓測(cè)試中使用不同示波器測(cè)試結(jié)果不一樣 解決方案： 最小化量化誤差 謹(jǐn)慎處理示波器接地 幅頻特性曲線平坦度問(wèn)題 對(duì)于電源客戶而言，MOSFET的電壓應(yīng)力測(cè)試是一項(xiàng)關(guān)鍵指標(biāo)，它決定了電路的調(diào)
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第十四講 示波器基礎(chǔ)之影響時(shí)間間隔精度的因素
中心議題： 影響數(shù)字示波器時(shí)間測(cè)量不確定性的因素是：采樣間隔和測(cè)量間隔 采樣間隔與示波器的測(cè)量?jī)?nèi)插算法和時(shí)基短期穩(wěn)定性有關(guān) 測(cè)量間隔與示波器時(shí)基有關(guān) 對(duì)于力科WaveMaster系列示波器，時(shí)間間隔測(cè)量
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第十五講 示波器基礎(chǔ)之響應(yīng)方式對(duì)信號(hào)采集保真度的影響
中心議題： 幅度響應(yīng)和相位頻響都可以影響脈沖響應(yīng)效果 脈沖響應(yīng)優(yōu)化方式可以降低幅頻響應(yīng)或相頻響應(yīng)對(duì)被測(cè)信號(hào)的負(fù)面效應(yīng) 解決方案 測(cè)量眼圖最好使用線性相位；但測(cè)試其他通用信號(hào)使用最小相位響應(yīng)更好
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