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非常見問題解答第233期：自動測試設(shè)備應(yīng)用中PhotoMOS開關(guān)的替代方案
AI需要高密度和高帶寬來高效處理數(shù)據(jù)，因此HBM至關(guān)重要。ATE廠商及其開發(fā)的系統(tǒng)需要跟上先進(jìn)內(nèi)存接口測試的發(fā)展步伐。ADI公司的CMOS開關(guān)非常適合ATE廠商的內(nèi)存晶圓探針電源測試。這些CMOS開關(guān)擁有快速導(dǎo)通和可擴(kuò)展性等特性，能夠提升測試并行處理能力，從而更全面、更快速地測試內(nèi)存芯片。
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Littelfuse最新超小型12.7 mm磁簧開關(guān)提供更高可靠性、更長使用壽命
適用于電器和自動測試設(shè)備 (ATE) 應(yīng)用的理想限值感測解決方案
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搞定電路設(shè)計(jì)之高精度、寬帶寬電流測量信號鏈
為數(shù)據(jù)處理、網(wǎng)絡(luò)、便攜式、可穿戴和其他計(jì)算應(yīng)用設(shè)計(jì)并優(yōu)化電源解決方案，需要對電壓和電流進(jìn)行精確、寬帶、高動態(tài)范圍的測量。這些系統(tǒng)可能包含一個、數(shù)十個或數(shù)百個中央處理單元(CPU)、圖形處理單元 (GPU)、網(wǎng)絡(luò)接口、存儲硬件和各種支持電路。為了響應(yīng)不斷變化的系統(tǒng)需求，這些電路可能在幾微秒內(nèi)從消耗數(shù)微安電流的空閑狀態(tài)轉(zhuǎn)換到消耗數(shù)百安培電流的滿載狀態(tài)。
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基于ARMCortex一M4和快速傅里葉變換的蜂鳴器
摘要:如今,在大規(guī)模的電子產(chǎn)品生產(chǎn)線上,自動化測試已經(jīng)替代了傳統(tǒng)的人工測試方式。但是對于蜂鳴器這種發(fā)聲設(shè)備,目前的生產(chǎn)線上大多還是采用人工聽覺判斷的方式來進(jìn)行測試。現(xiàn)利用一個低成本的基于ARM Cortex一M4微處理器的電路板以及一個基于FFT(快速傅里葉變換)原理的信號解碼的程序,實(shí)現(xiàn)了蜂鳴器的自動測試,這種方式比人工方式具有快速、準(zhǔn)確、安全、可靠的優(yōu)點(diǎn)。該方案在自動化測試領(lǐng)域具有很高的理論和實(shí)踐價值,在信號處理和ARM的設(shè)計(jì)方面也有較高的理論和實(shí)踐價值。
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多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動測試設(shè)備，迎接集成電路融合時代的機(jī)遇與挑戰(zhàn)
5G、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地，從而持續(xù)推動全球半導(dǎo)體行業(yè)穩(wěn)步增長。根據(jù)IC Insights半導(dǎo)體行業(yè)報(bào)告，預(yù)計(jì)2022年全球半導(dǎo)體總銷售額將再增長11%，達(dá)到6806億美元的新紀(jì)錄。半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的持續(xù)繁榮也讓半導(dǎo)體自動測試設(shè)備(ATE)的市場規(guī)模隨之水漲船高，預(yù)計(jì)2028年將達(dá)到72億美元。
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自動測試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中的示波器需求
在測試電子器件時，很難不提到示波器所具有的通用性。為了對電子電路進(jìn)行驗(yàn)證，工程師需要能夠查看和測量其設(shè)計(jì)中的信號。自動測試設(shè)備(ATE)通常不提供大量可視化故障診斷，這對于必須安裝、校準(zhǔn)并對系統(tǒng)進(jìn)行故障診斷的用戶來說是一大挑戰(zhàn)。這些操作需要可視化工具，示波器便能提供這種工具。
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自動測試設(shè)備商Teradyne財(cái)報(bào)優(yōu) 接單年增78%
美國自動測試設(shè)備供應(yīng)商Teradyne, Inc. 25日在美股盤后公布2012年Q2財(cái)報(bào)：營收年增34%(季 增38%)至5.48億美元；本業(yè)稀釋每股盈余(EPS)達(dá)0.77美元，較去年同期的0.51美元大增51%(比前季的0.30美元增157%)。根據(jù)Thoms
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明年半導(dǎo)體資本設(shè)備支出或衰退19.5%
19日消息，據(jù)外媒報(bào)道，根據(jù)國際研究暨顧問機(jī)構(gòu) Gartner 預(yù)估，2012年全球半導(dǎo)體資本設(shè)備支出為517億美元，較2011年預(yù)期的支出642億美元，衰退19.5%。Gartner預(yù)期，成長減速的趨勢將延續(xù)至2012年第二季，屆時半導(dǎo)體的
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惠瑞捷V93000 HSM GDDR5解決方案獲南韓大型客戶青睞
張琳一 半導(dǎo)體測試公司惠瑞捷(Verigy)日前宣布其V93000高速記憶體(HSM)平臺已贏得龐大且領(lǐng)先市場的南韓客戶之新款GDDR5量產(chǎn)測試業(yè)務(wù)。 惠瑞捷V93000 HSM6800是一款為當(dāng)今運(yùn)行速度超過每接腳4 Gbps GDDR5超快圖像
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惠瑞捷高速記憶體平臺鎮(zhèn)獲韓國客戶采用
半導(dǎo)體測試公司惠瑞捷（Verigy）22日宣布，其V93000高速記憶體（HSM）平臺獲得韓國客戶的新款GDDR5量產(chǎn)測試業(yè)務(wù)。 惠瑞捷表示，V93000 HSM6800是一款運(yùn)行速度超過每接腳4Gbps GDDR5，超快圖像記憶體元件提供服務(wù)的
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明年半導(dǎo)體設(shè)備支出恐衰退
根據(jù)國際研究暨顧問機(jī)構(gòu)顧能(Gartner)表示，今年全球半導(dǎo)體支出可望達(dá)448億美元，年增10.2%，不過，明年半導(dǎo)體設(shè)備支出恐反轉(zhuǎn)衰退。顧能表示，半導(dǎo)體設(shè)備市場今年皆可望持續(xù)成長，來源主要是晶圓代工的積極支出、整合
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Gartner：2011半導(dǎo)體資本設(shè)備支出將增長10.2%
Gartner指出，2011年全球半導(dǎo)體資本設(shè)備支出將達(dá)到448億美元，與2010年406億美元的支出相比，增長10.2%。 然而，Gartner分析師也指出，半導(dǎo)體庫存出現(xiàn)修正，再加上晶圓設(shè)備制造供過于求，將導(dǎo)致2012年半導(dǎo)體資本設(shè)備
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惠瑞捷獲自動測試設(shè)備供應(yīng)商最佳客戶滿意度獎
日前在加州CUPERTINO，半導(dǎo)體測試公司惠瑞捷股份有限公司，本次于半導(dǎo)體業(yè)界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶滿意度調(diào)查中榮膺 “最佳測試設(shè)備供應(yīng)商”與“10大最佳晶片制造設(shè)備大型供應(yīng)商”等兩
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惠瑞捷連續(xù)三年蟬聯(lián)自動測試設(shè)備供應(yīng)商滿意度冠軍
惠瑞捷股份有限公司本次于半導(dǎo)體業(yè)界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶滿意度調(diào)查中榮膺“最佳測試設(shè)備供應(yīng)商”與“10大最佳芯片制造設(shè)備大型供應(yīng)商”等兩大獎項(xiàng)的肯定。根據(jù)客戶的回復(fù)，惠瑞捷榮
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惠瑞捷連續(xù)三年蟬聯(lián)自動測試設(shè)備供應(yīng)商滿意度冠軍
惠瑞捷股份有限公司本次于半導(dǎo)體業(yè)界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶滿意度調(diào)查中榮膺“最佳測試設(shè)備供應(yīng)商”與“10大最佳芯片制造設(shè)備大型供應(yīng)商”等兩大獎項(xiàng)的肯定。 根據(jù)客戶的回復(fù)，惠瑞捷
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自動測試設(shè)備加流測壓及加壓測流的設(shè)計(jì)
摘要：在集成電路的測試中，通常需要給所測試的集成電路提供穩(wěn)定的電壓或電流，以作測試信號，同時還要對信號進(jìn)行測量，這就需要用到電壓電流源；本系統(tǒng)能作為測試設(shè)備的電壓電流源，實(shí)現(xiàn)加壓測流和加流測壓功能。本
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明年晶圓廠設(shè)備支出恐年減1%
針對2011年半導(dǎo)體業(yè)，已有多家研究機(jī)構(gòu)下調(diào)設(shè)備資本支出預(yù)測值，認(rèn)為晶圓廠設(shè)備營收在2011年可能會年減約1%，與9月時各家預(yù)測年增近5%的數(shù)值相比，產(chǎn)業(yè)景氣的態(tài)度已轉(zhuǎn)趨保守。 由于半導(dǎo)體業(yè)2010年表現(xiàn)的確屢創(chuàng)佳
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Gartner預(yù)計(jì)今年半導(dǎo)體設(shè)備開支增長122%
北京時間9月14日上午消息，美國市場研究公司Gartner周一發(fā)布報(bào)告稱，2010年全球半導(dǎo)體設(shè)備開支有望達(dá)到369億美元，較2009年的166億美元增長122.1%。2011年的全球半導(dǎo)體設(shè)備開支則有望增長4.9%。Gartner副總裁克勞斯·
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利用ATE（自動測試設(shè)備）測試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻
圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE（自動測試設(shè)備）中用作微處理器驅(qū)動的電源負(fù)載。IC1 是一個 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅(qū)動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅(qū)動功率 MOSFET Q1 的柵極。被
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利用ATE（自動測試設(shè)備）測試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻
圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE（自動測試設(shè)備）中用作微處理器驅(qū)動的電源負(fù)載。IC1 是一個 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅(qū)動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅(qū)動功率 MOSFET Q1 的柵極。被
