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用JTAG邊界掃描測(cè)試電路板、BGA和互連
當(dāng)?shù)谝慌娐钒鍢影宸旁谟布こ處熥烂娴臅r(shí)候，在測(cè)試時(shí)他會(huì)感到非常困擾。工程師耗費(fèi)幾個(gè)星期的時(shí)間設(shè)計(jì)電路圖和布板，現(xiàn)在電路板做出來(lái)了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現(xiàn)在必須確定它能否工作。工程師插上板
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用JTAG邊界掃描測(cè)試電路板、BGA和互連
當(dāng)?shù)谝慌娐钒鍢影宸旁谟布こ處熥烂娴臅r(shí)候，在測(cè)試時(shí)他會(huì)感到非常困擾。工程師耗費(fèi)幾個(gè)星期的時(shí)間設(shè)計(jì)電路圖和布板，現(xiàn)在電路板做出來(lái)了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現(xiàn)在必須確定它能否工作。工程師插上板
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安捷倫與GOEPEL連手發(fā)表安捷倫公用程序卡的邊界掃描模塊
安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)與GOEPEL electronic GmbH共同發(fā)表N1807A-001安捷倫公用程序卡適用的UCM3070邊界掃描插入式模塊，該卡為Agilent Medalist i3070系列5內(nèi)電路測(cè)試儀器 (ICT) 的一個(gè)選項(xiàng)。 U
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邊界掃描測(cè)試技術(shù)
最近出現(xiàn)的系統(tǒng)級(jí)接口器件，為設(shè)計(jì)人員把用于制造測(cè)試的邊界掃描測(cè)試從板級(jí)擴(kuò)展到系統(tǒng)級(jí)提供了靈活條件。擴(kuò)展到系統(tǒng)級(jí)的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)是提供單點(diǎn)接入到多掃描鏈，以支持隔離的診斷能力。這可以用于CPLD和FPGA系統(tǒng)內(nèi)配置的最佳化，以及編程閃存時(shí)存儲(chǔ)器讀/寫周期的最佳化。
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基于MCF 5272的邊界掃描測(cè)試平臺(tái)開發(fā)
利用MCF 5272的GPIO接口形成JTAG總線來(lái)對(duì)被測(cè)目標(biāo)進(jìn)行操控、用MCF 5272網(wǎng)絡(luò)接口實(shí)現(xiàn)對(duì)上位機(jī)PC的通信，形成由PC生成測(cè)試向量并通過(guò)網(wǎng)絡(luò)下傳到MCF 5272測(cè)試主控器
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基于MCF 5272的邊界掃描測(cè)試平臺(tái)開發(fā)
基于MCF 5272的邊界掃描測(cè)試平臺(tái)開發(fā)
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基于SOPC的便攜式邊界掃描故障診斷儀
本文設(shè)計(jì)的便攜式邊界掃描故障診斷儀不同于傳統(tǒng)的邊界掃描設(shè)備，不依靠PC就可實(shí)現(xiàn)邊界掃描測(cè)試與診斷，特別適合特殊領(lǐng)域的現(xiàn)場(chǎng)在線使用。
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基于SOPC的便攜式邊界掃描故障診斷儀
基于SOPC的便攜式邊界掃描故障診斷儀
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