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確定靜電放電和電氣快速瞬變的閾值
輻射抗擾度和傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)要求采用示波器來(lái)驗(yàn)證由靜電放電(ESD)和電磁耦合發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖波形和脈沖測(cè)量參數(shù)，如上升時(shí)間、下降時(shí)間及脈沖寬度。然而，由于在EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中采用的脈沖波形的原因，示波
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IC靜電放電的測(cè)試方法
1 前言 靜電放電（ESD，electrostatic discharge）是電子工業(yè)最花代價(jià)的損壞原因之一，它會(huì)影響到生產(chǎn)合格率、制造成本、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性以及公司的可獲利潤(rùn)。隨著IC產(chǎn)品的制造工藝不斷微小化
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TESEQ特測(cè)靜電放電測(cè)試儀（靜電槍）ESD技術(shù)參數(shù)表
Teseq以其在傳導(dǎo)EMC抗擾度測(cè)試儀器、ESD靜電放電發(fā)生器、諧波、閃爍和電源質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)領(lǐng)域的領(lǐng)先地位而聞名于世。公司已經(jīng)在全球安裝了幾千臺(tái)儀器和系統(tǒng)，并提供本地校準(zhǔn)和維修服務(wù)。特測(cè)公司所有ESD靜
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為什么不能用手摸電路板？
不同的環(huán)境下，人體攜帶的靜電電壓從幾伏幾百伏到幾萬(wàn)伏不等。人手接觸電子元器件(導(dǎo)體)會(huì)產(chǎn)生靜電放電，使器件損壞，降低可靠性;嚴(yán)重時(shí)，靜電放電造成器件擊穿，使產(chǎn)品直接報(bào)廢。
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PCB設(shè)計(jì)對(duì)靜電放電電流產(chǎn)生的場(chǎng)效應(yīng)的解決方法
在具體PCB設(shè)計(jì)中，如電場(chǎng)或磁場(chǎng)占主導(dǎo)地位，應(yīng)用方法7和8就可以解決。然而，靜電放電一般同時(shí)產(chǎn)生電場(chǎng)和磁場(chǎng)，這說(shuō)明方法7將改善電場(chǎng)的抗擾度，但同時(shí)會(huì)使磁場(chǎng)的抗擾度降低。
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ESD引起集成電路損壞原理模式及實(shí)例
一.ESD引起集成電路損傷的三種途徑(1)人體活動(dòng)引起的摩擦起電是重要的靜電來(lái)源，帶靜電的操作者與器件接觸并通過(guò)器件放電。(2)器件與用絕緣材料制作的包裝袋、傳遞盒和傳送
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靜電放電（ESD）最常用的三種模型及其防護(hù)設(shè)計(jì)
ESD：Electrostatic Discharge，即是靜電放電，每個(gè)從事硬件設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的工程師都必須掌握 ESD 的相關(guān)知識(shí)。為了定量表征 ESD 特性，一般將 ESD 轉(zhuǎn)化成模型表達(dá)方式，ESD 的
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手機(jī)電磁兼容測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題及改進(jìn)建議
本文針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試中經(jīng)常出現(xiàn)的問(wèn)題，包括靜電放電抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)、輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾性能測(cè)試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。1、靜電放電抗擾度試驗(yàn)1.1靜電放電抗擾度試驗(yàn)常見(jiàn)問(wèn)題靜電放電抗擾度測(cè)試中出現(xiàn)的問(wèn)題主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面。(
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幾種應(yīng)用于觸摸感應(yīng)電路的ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
電容式觸摸感應(yīng)檢測(cè)按鍵電路是一類對(duì)靜電特別敏感的電路，因此靜電放電(ESD)保護(hù)結(jié)構(gòu)的選擇問(wèn)題對(duì)這一類電路顯得特別重要。一方面要確保所選擇的ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)有足夠的抗靜電能力，另一方面這種ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)又不能使芯
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半導(dǎo)體器件的電氣過(guò)應(yīng)力和靜電放電故障
靜電可被定義為物質(zhì)表面累積的靜態(tài)電荷或靜態(tài)電荷之間交互作用累積的電荷。電氣過(guò)應(yīng)力(EOS)和靜電放電(ESD)是電子行業(yè)面臨的重大挑戰(zhàn)之一。通常來(lái)說(shuō)，半導(dǎo)體行業(yè)中超過(guò)三分之一的現(xiàn)場(chǎng)故障都是由ESD引起的。ESD導(dǎo)致的
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靜電放電抗擾度測(cè)試容易出現(xiàn)的問(wèn)題及處理措施
靜電測(cè)試主要考察系統(tǒng)設(shè)備的抗靜電干擾能力。出現(xiàn)的問(wèn)題如下：① 被測(cè)設(shè)備通訊暫時(shí)性異常中斷。② 顯示器閃道、閃屏、黑屏。③ 被測(cè)試設(shè)備故障，如死機(jī)需要人工重啟等。④ 被測(cè)設(shè)備誤動(dòng)作，如內(nèi)部繼電器誤動(dòng)作等
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TE發(fā)布全新單/多通道硅靜電放電(SESD)保護(hù)器件
美國(guó)加利福尼亞州門洛帕克——2012年2月14日—— TE Connectivity旗下的一個(gè)業(yè)務(wù)部門TE電路保護(hù)部日前發(fā)布一個(gè)系列8款全新的單/多通道硅靜電放電(SES
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兒童手機(jī)抽查合格率只有25%
省質(zhì)監(jiān)局監(jiān)督抽查手機(jī)產(chǎn)品，昨公布電池充電器不合格產(chǎn)品批次江蘇省質(zhì)監(jiān)局昨天公布了兒童手機(jī)監(jiān)督抽查結(jié)果，國(guó)家信息網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品質(zhì)檢中心副總工梁學(xué)俊提醒家長(zhǎng)，購(gòu)買兒童手機(jī)時(shí)，除了檢查手機(jī)的基本功能外，還要避免選擇
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ESD靜電防范常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案
ESD靜電防范常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案靜電是人們非常熟悉的一種自然現(xiàn)象。靜電的許多功能已經(jīng)應(yīng)用到軍工或民用產(chǎn)品中，如靜電除塵、靜電噴涂、靜電分離、靜電復(fù)印等。然而，靜電放
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CMD的ESD器件可提供±15kV接觸靜電放電保護(hù)
加利福尼亞微設(shè)備公司(California Micro Devices, CMD)近日宣布推出最新款的PicoGuard超低電容二極管陣列——CM1215和CM1216，用于數(shù)字消費(fèi)和計(jì)算應(yīng)用產(chǎn)品的靜電
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電路設(shè)計(jì)中如何防止靜電放電?
[導(dǎo)讀] 與人們的常識(shí)相反，設(shè)計(jì)人員完全可以讓系統(tǒng)在經(jīng)過(guò)ESD事件后不發(fā)生故障并仍能繼續(xù)運(yùn)行。將這個(gè)目標(biāo)謹(jǐn)記在心，下面讓我們更好地理解ESD沖擊時(shí)到底發(fā)生了什么，然后介
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電路設(shè)計(jì)中如何防止靜電放電?
[導(dǎo)讀] 與人們的常識(shí)相反，設(shè)計(jì)人員完全可以讓系統(tǒng)在經(jīng)過(guò)ESD事件后不發(fā)生故障并仍能繼續(xù)運(yùn)行。將這個(gè)目標(biāo)謹(jǐn)記在心，下面讓我們更好地理解ESD沖擊時(shí)到底發(fā)生了什么，然后介紹如何設(shè)計(jì)正確的系統(tǒng)架構(gòu)來(lái)應(yīng)對(duì)ESD。
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移動(dòng)電源產(chǎn)品混亂 6成存安全隱患
隨著手機(jī)、平板電腦功能日益強(qiáng)大，電池續(xù)航能力不足成為短板問(wèn)題。移動(dòng)電源(充電寶)在近年來(lái)頗受歡迎，但從市質(zhì)監(jiān)局昨日(8月19日)發(fā)布的本年度第五號(hào)產(chǎn)品質(zhì)量安全風(fēng)險(xiǎn)預(yù)警顯
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集成電路靜電放電（ESD）損傷
集成塊靜電放電(ESD)損傷防靜電保護(hù)電路
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靜電對(duì)家電制造的影響以及設(shè)計(jì)預(yù)防
靜電影響的中心議題：靜電產(chǎn)生的原因靜電在電子工業(yè)中的危害靜電對(duì)家電制造的影響以及設(shè)計(jì)預(yù)防靜電影響的解決方案：RC電路或者單電阻、單電容電路單二極管電路RCD電路引言人們對(duì)靜電現(xiàn)象并不陌生，當(dāng)你看電視接觸屏幕
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