數(shù)字信號(hào)處理(DSP)系統(tǒng)開發(fā),仿真調(diào)試是確保算法正確性與硬件可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著DSP芯片功能復(fù)雜度的提升,傳統(tǒng)調(diào)試手段已難以滿足需求,而JTAG接口與邏輯分析儀的協(xié)同使用,通過(guò)硬件級(jí)調(diào)試與信號(hào)級(jí)分析的結(jié)合,為開發(fā)者提供了高效、精準(zhǔn)的調(diào)試解決方案。
JTAG和SWD是兩種常用的STM32程序下載模式,它們分別代表不同的接口和調(diào)試方式。下面分別介紹這兩種模式:
JTAG是20世紀(jì)80年代開發(fā)的IEEE標(biāo)準(zhǔn)(1149.1),用來(lái)解決電路板的生產(chǎn)制造檢修問(wèn)題?,F(xiàn)在JTAG還可以用來(lái)燒程序、調(diào)試以及檢測(cè)端口狀態(tài)。本文主要介紹JTAG的基本功能,邊界掃描。
在這篇文章中,小編將為大家?guī)?lái)JTAG接口與Flash的相關(guān)報(bào)道。如果你對(duì)本文即將要講解的內(nèi)容存在一定興趣,不妨繼續(xù)往下閱讀哦。
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一直以來(lái),JTAG接口都是大家的關(guān)注焦點(diǎn)之一。因此針對(duì)大家的興趣點(diǎn)所在,小編將為大家?guī)?lái)JTAG接口的相關(guān)介紹,詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)看下文。
摘 要:以ARM Core Sight Architecture Specification規(guī)范和ARM Debug Interface Architecture Specification規(guī)范為出發(fā)點(diǎn),分析了ARM CoreSight調(diào)試與追蹤體系在ARM Cortex M3內(nèi)核中的實(shí)現(xiàn)過(guò)程。同時(shí),對(duì)比分析了新的Serial WireDebug調(diào)試技術(shù)和經(jīng)典的JTAG調(diào)試技術(shù)的異同。
在FPGA研發(fā)及學(xué)習(xí)過(guò)程中,有一個(gè)關(guān)鍵步驟就是下板實(shí)現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來(lái)說(shuō)用JTAG口比較常見一些,因此相信肯定有些大俠遇到過(guò)JTAG口失靈或者損壞無(wú)法使用的事情。
在FPGA研發(fā)及學(xué)習(xí)過(guò)程中,有一個(gè)關(guān)鍵步驟就是下板實(shí)現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來(lái)說(shuō)用JTAG口比較常見一些,因此相信肯定有些大俠遇到過(guò)JTAG口失靈或者損壞無(wú)法使用的事情。
在FPGA研發(fā)及學(xué)習(xí)過(guò)程中,有一個(gè)關(guān)鍵步驟就是下板實(shí)現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來(lái)說(shuō)用JTAG口比較常見一些,因此相信肯定有些大俠遇到過(guò)JTAG口失靈或者損壞無(wú)法使用的事情。
JTAG(JointTest ActionGroup)是一個(gè)接口,為了這個(gè)接口成立了一個(gè)小組叫JTAG小組,它成立于1985年。
JTAG(Joint Test AcTIon Group,聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容)。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線——TMS、T
JTAG最初是用來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的,基本原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)TAP(Test Access Port?測(cè)試訪問(wèn)口)通過(guò)專用的JTAG測(cè)試工具對(duì)進(jìn)行內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。JTAG測(cè)試允許多個(gè)器
? ? ? ??感謝原著作者對(duì)人類文化的傳播做出的努力!以下內(nèi)容直譯為主,意譯為輔,同時(shí)筆者可能會(huì)加入個(gè)人觀點(diǎn)以方便理解。如有翻譯不當(dāng)?shù)牡胤较M魑煌史e極指出,如有必要的話請(qǐng)做出引證,以助于筆者翻譯
JTAG(Joint Test Action Group)是一個(gè)接口,為了這個(gè)接口成立了一個(gè)小組叫JTAG小組,它成立于1985年,比推丸菌的年齡還大。在1990年IEEE覺得一切妥當(dāng),于是發(fā)布了 IEEE Standard 1149.1-1990,并命名為 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture,這就是大名鼎鼎的JTAG了。
JTAG接口主要包括以下四個(gè)引腳:TMS TCK TDI和TCO及一個(gè)可選配的引腳TRST,用于驅(qū)動(dòng)電路模塊和控制執(zhí)行規(guī)定的操作。各引腳的功能如下: TCK:JTAG測(cè)試時(shí)鐘,為TAP控
復(fù)位電路用于重新啟動(dòng)模塊并初始化,按鍵開關(guān)SW1的一端接地,另一端與CC2530芯片的RESET_N管腳相連,按下按鍵開關(guān)SW1即可實(shí)現(xiàn)對(duì)電路的手動(dòng)復(fù)位?! TAG接口電路主要用
導(dǎo)讀:本文介紹AVR官方唯一推薦的下載方法:STK500。也介紹了 AVR Studio 同時(shí)支持的JTAG下載,如果要仿真的話,還是少不了JTAG,所以JTAG下載也很常用。 并口下載由于速度很慢,AVR Studio 也不支持并
前奏先來(lái)copy下 JTAG、SW接口的定義,JTAG:JTAG(Joint Test Action Group;聯(lián)合測(cè)試工作組)是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議,主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試。現(xiàn)在多數(shù)的高級(jí)器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是
上百度搜索,有人說(shuō)這樣可以JTAG已死,沒事燒紙::::::焚~~~超生方法(實(shí)驗(yàn)一次沒成功,但是好多人都說(shuō)成功過(guò),壞了不妨一試):Cyclone III的JTAG死而復(fù)生經(jīng)過(guò)durgy指點(diǎn),我讓e