在SWD和JTAG之類的協(xié)議出現(xiàn)之前,調(diào)試器及其協(xié)議一片混亂,每個MCU制造商都提出了自己的專有方法,將代碼加載到他們的MCU上。
數(shù)字信號處理(DSP)系統(tǒng)開發(fā),仿真調(diào)試是確保算法正確性與硬件可靠性的關鍵環(huán)節(jié)。隨著DSP芯片功能復雜度的提升,傳統(tǒng)調(diào)試手段已難以滿足需求,而JTAG接口與邏輯分析儀的協(xié)同使用,通過硬件級調(diào)試與信號級分析的結合,為開發(fā)者提供了高效、精準的調(diào)試解決方案。
JTAG和SWD是兩種常用的STM32程序下載模式,它們分別代表不同的接口和調(diào)試方式。下面分別介紹這兩種模式:
JTAG是20世紀80年代開發(fā)的IEEE標準(1149.1),用來解決電路板的生產(chǎn)制造檢修問題?,F(xiàn)在JTAG還可以用來燒程序、調(diào)試以及檢測端口狀態(tài)。本文主要介紹JTAG的基本功能,邊界掃描。
在這篇文章中,小編將為大家?guī)鞪TAG接口與Flash的相關報道。如果你對本文即將要講解的內(nèi)容存在一定興趣,不妨繼續(xù)往下閱讀哦。
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摘 要:以ARM Core Sight Architecture Specification規(guī)范和ARM Debug Interface Architecture Specification規(guī)范為出發(fā)點,分析了ARM CoreSight調(diào)試與追蹤體系在ARM Cortex M3內(nèi)核中的實現(xiàn)過程。同時,對比分析了新的Serial WireDebug調(diào)試技術和經(jīng)典的JTAG調(diào)試技術的異同。
在FPGA研發(fā)及學習過程中,有一個關鍵步驟就是下板實現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來說用JTAG口比較常見一些,因此相信肯定有些大俠遇到過JTAG口失靈或者損壞無法使用的事情。
在FPGA研發(fā)及學習過程中,有一個關鍵步驟就是下板實現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來說用JTAG口比較常見一些,因此相信肯定有些大俠遇到過JTAG口失靈或者損壞無法使用的事情。
在FPGA研發(fā)及學習過程中,有一個關鍵步驟就是下板實現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來說用JTAG口比較常見一些,因此相信肯定有些大俠遇到過JTAG口失靈或者損壞無法使用的事情。
JTAG(JointTest ActionGroup)是一個接口,為了這個接口成立了一個小組叫JTAG小組,它成立于1985年。
JTAG(Joint Test AcTIon Group,聯(lián)合測試行動組)是一種國際標準測試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容)。標準的JTAG接口是4線——TMS、T
JTAG最初是用來對芯片進行測試的,基本原理是在器件內(nèi)部定義一個TAP(Test Access Port?測試訪問口)通過專用的JTAG測試工具對進行內(nèi)部節(jié)點進行測試。JTAG測試允許多個器
? ? ? ??感謝原著作者對人類文化的傳播做出的努力!以下內(nèi)容直譯為主,意譯為輔,同時筆者可能會加入個人觀點以方便理解。如有翻譯不當?shù)牡胤较M魑煌史e極指出,如有必要的話請做出引證,以助于筆者翻譯
JTAG(Joint Test Action Group)是一個接口,為了這個接口成立了一個小組叫JTAG小組,它成立于1985年,比推丸菌的年齡還大。在1990年IEEE覺得一切妥當,于是發(fā)布了 IEEE Standard 1149.1-1990,并命名為 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture,這就是大名鼎鼎的JTAG了。
JTAG接口主要包括以下四個引腳:TMS TCK TDI和TCO及一個可選配的引腳TRST,用于驅(qū)動電路模塊和控制執(zhí)行規(guī)定的操作。各引腳的功能如下: TCK:JTAG測試時鐘,為TAP控
復位電路用于重新啟動模塊并初始化,按鍵開關SW1的一端接地,另一端與CC2530芯片的RESET_N管腳相連,按下按鍵開關SW1即可實現(xiàn)對電路的手動復位。 JTAG接口電路主要用
導讀:本文介紹AVR官方唯一推薦的下載方法:STK500。也介紹了 AVR Studio 同時支持的JTAG下載,如果要仿真的話,還是少不了JTAG,所以JTAG下載也很常用。 并口下載由于速度很慢,AVR Studio 也不支持并
前奏先來copy下 JTAG、SW接口的定義,JTAG:JTAG(Joint Test Action Group;聯(lián)合測試工作組)是一種國際標準測試協(xié)議,主要用于芯片內(nèi)部測試?,F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是