鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）壽命優(yōu)化：界面鈍化與封裝防潮關(guān)鍵技術(shù)

鈣鈦礦發(fā)光二極管（Perovskite Light - Emitting Diodes，PeLED）作為一種新興的顯示與照明技術(shù)，憑借其高發(fā)光效率、低成本、可溶液加工等諸多優(yōu)勢，在近年來引起了科研界和產(chǎn)業(yè)界的廣泛關(guān)注。然而，PeLED的壽命問題一直是制約其大規(guī)模商業(yè)化應(yīng)用的關(guān)鍵瓶頸。界面缺陷和非理想界面接觸引發(fā)的非輻射復(fù)合，以及外界水汽入侵導(dǎo)致的材料降解，是影響PeLED壽命的兩大主要因素。因此，界面鈍化與封裝防潮技術(shù)成為優(yōu)化PeLED壽命的關(guān)鍵所在。