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Leitz Reference BX葉片與玻璃超高精度檢測(cè)系統(tǒng)
在一個(gè)檢測(cè)周期內(nèi)，接觸式測(cè)量和非接觸式測(cè)量各司其職，Precitec S3光學(xué)傳感器用于高速測(cè)量葉型，而HP-S-X1C固定掃描測(cè)頭用于精確檢查榫頭截面。利用專業(yè)的葉片檢測(cè)模塊QUINDOS Blade可以簡(jiǎn)化葉片前緣半徑、弦切線、葉型厚度、葉型、葉根和平均外弧線的測(cè)量，提高檢測(cè)效率。
在一個(gè)檢測(cè)周期內(nèi)，接觸式測(cè)量和非接觸式測(cè)量各司其職，Precitec S3光學(xué)傳感器用于高速測(cè)量葉型，而HP-S-X1C固定掃描測(cè)頭用于精確檢查榫頭截面。利用專業(yè)的葉片檢測(cè)模塊QUINDOS Blade可以簡(jiǎn)化葉片前緣半徑、弦切線、葉型厚度、葉型、葉根和平均外弧線的測(cè)量，提高檢測(cè)效率。
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