預(yù)計(jì)下一代藍(lán)牙®標(biāo)準(zhǔn)即將正式發(fā)布，其中一項(xiàng)重要更新是面向藍(lán)牙®低功耗的統(tǒng)一測試協(xié)議(UTP)測試模式。這一新模式將與現(xiàn)有測試方法形成互補(bǔ)，支持無線(OTA)控制設(shè)備測試，因其無需與測試儀表進(jìn)行有線連接，簡化了小型和高度集成設(shè)備的測試。羅德與施瓦茨(以下簡稱“R&S”)與Ceva合作，推出了全球首款支持UTP測試模式的解決方案，并將于2025年嵌入式世界大會(huì)(embedded world 2025)上首次展示。

R&S與Ceva聯(lián)合推出全球首款支持藍(lán)牙® OTA統(tǒng)一測試協(xié)議(UTP)測試模式的解決方案，實(shí)現(xiàn)了通過OTA控制設(shè)備測試。雙方計(jì)劃在2025年紐倫堡嵌入式世界大會(huì)上展示這一合作成果。R&S與 Ceva 密切合作開發(fā)了該測試解決方案，由 Ceva-Waves 低功耗藍(lán)牙® IP 提供支持，運(yùn)行于R&S CMW無線通信測試儀平臺(tái)，并集成了Ceva授權(quán)的Ceva-Waves藍(lán)牙®低功耗控制器軟件。

針對(duì)小型及高度集成藍(lán)牙®設(shè)備的OTA測試

過去，可穿戴設(shè)備等小型且高度集成的藍(lán)牙®設(shè)備需要通過直接測試模式(Direct Test Mode)進(jìn)行測試，這需要在測試儀器與被測設(shè)備(DUT)之間連接一條控制線纜。然而，對(duì)于封裝嚴(yán)密的設(shè)備來說，集成這種控制線纜的接口往往十分困難，甚至無法實(shí)現(xiàn)。如今，基于統(tǒng)一測試協(xié)議(UTP)模式，通過無線方式發(fā)送測試控制信息，徹底擺脫了線纜的束縛，極大地簡化了測試。

Ceva驅(qū)動(dòng)的無線控制測試

Ceva-Waves藍(lán)牙®低功耗平臺(tái)為系統(tǒng)級(jí)芯片提供了一條快速、低風(fēng)險(xiǎn)的集成路徑，能夠?qū)崿F(xiàn)低功耗且穩(wěn)定的藍(lán)牙®低功耗連接。這套經(jīng)過優(yōu)化的集成硬件IP和軟件已在眾多客戶芯片中得到部署，并通過了藍(lán)牙技術(shù)聯(lián)盟的認(rèn)證。其應(yīng)用范圍涵蓋消費(fèi)電子、汽車、工業(yè)、移動(dòng)設(shè)備和智能家居等多個(gè)領(lǐng)域，累計(jì)出貨量已達(dá)數(shù)十億臺(tái)。憑借其成熟的技術(shù)和穩(wěn)定性，以及Ceva在開發(fā)過程中為客戶提供的全方位技術(shù)支持，Ceva-Waves藍(lán)牙®低功耗IP成為R&S OTA UTP測試儀的理想選擇。

Ceva副總裁兼無線物聯(lián)網(wǎng)業(yè)務(wù)總經(jīng)理Tal Shalev表示：“羅德與施瓦茨長期以來一直是藍(lán)牙®測試領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者，其備受推崇的R&S CMW無線通信測試平臺(tái)持續(xù)為行業(yè)樹立標(biāo)準(zhǔn)。藍(lán)牙® OTA UTP測試模式的推出是測試下一代消費(fèi)類藍(lán)牙®產(chǎn)品的關(guān)鍵進(jìn)展，我們祝賀他們憑借Ceva-Waves藍(lán)牙®技術(shù)實(shí)現(xiàn)了這一及時(shí)的創(chuàng)新。”

統(tǒng)一的藍(lán)牙®無線(OTA)測試

R&S CMW無線通信測試平臺(tái)上的藍(lán)牙® UTP測試模式，提供了一套簡單且精準(zhǔn)的信令測試方案，特別適用于藍(lán)牙®低功耗射頻的開發(fā)、預(yù)認(rèn)證和生產(chǎn)測試。無論是藍(lán)牙®低功耗還是藍(lán)牙®經(jīng)典射頻的測量，均可通過單一測試設(shè)置，在無線(OTA)信令連接中完成。全面的測試自動(dòng)化以及藍(lán)牙®測試用例的高精度實(shí)現(xiàn)，是確保符合藍(lán)牙®規(guī)范的關(guān)鍵所在。

R&S移動(dòng)無線測試業(yè)務(wù)高級(jí)副總裁Christoph Pointner表示：“得益于我們與Ceva的緊密合作，加之其久經(jīng)考驗(yàn)的藍(lán)牙®低功耗IP技術(shù)，使我們能夠在R&S CMW平臺(tái)上，按照藍(lán)牙®核心規(guī)范工作組的標(biāo)準(zhǔn)，成功開發(fā)出全新的藍(lán)牙® UTP測試模式。這一備受業(yè)界矚目的解決方案將助力無線芯片組、模塊及設(shè)備制造商更便捷地開展無線測試。同時(shí)，客戶還能借助同一套測試配置，對(duì)所有藍(lán)牙®射頻進(jìn)行全面的測試?！?

雙方積極參與藍(lán)牙®核心規(guī)范工作組的標(biāo)準(zhǔn)制定工作，確保測試解決方案能夠完全符合即將發(fā)布的藍(lán)牙®新版本規(guī)范。同時(shí)，該解決方案全面兼容已發(fā)布的藍(lán)牙®版本，支持6.0版本的信道探測功能，支持傳導(dǎo)控制連接的現(xiàn)有直接測試模式 (DTM)。