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  • 分10檔的20~200NS模擬延遲電路及原理分析

    電路的功能模擬信號(hào)的延遲大多采用BBD器件，可獲得數(shù)毫秒的延遲時(shí)間，但其S/N不好，應(yīng)用范圍受到限制。延遲時(shí)間較短時(shí)，也可使用同軸電纜，但必須占用較大空間，因此往往不太現(xiàn)實(shí)。本電路使用了集中電路網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成的小

  • 大功率衰減器系統(tǒng)方案設(shè)計(jì)

    市場(chǎng)上的大多數(shù)衰減器基于絲網(wǎng)印刷在或沉積在陶瓷基板(通常是氧化鈹)上的厚或薄膜阻抗設(shè)計(jì)，這種技術(shù)需要特殊的處理、工藝和流程。這種方法非常適合于小功率衰減器，但要達(dá)到1kW水平，會(huì)很困難也會(huì)很昂貴。幸運(yùn)的是，

  • 準(zhǔn)確限壓的上限限幅器電路及原理介紹

    電路的功能模擬信號(hào)的限幅大多采用給二極管置偏，以規(guī)定限幅范圍或使用齊納二極管限幅器。這種電路只能作為單純的保護(hù)電路使用。只采用二極管的限幅電路，其溫度特性不好，不能進(jìn)行高精度限幅。本電路采用外加限幅電

  • 高速Σ-ΔADC的誤差校正方法研究

    　1　概述　　 Σ-Δ調(diào)制是目前國(guó)際上的A/D轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)中很受歡迎的一種技術(shù),與傳統(tǒng)的Nyquist頻率采樣的A/D轉(zhuǎn)換器工作原理有所不同,采用的是過(guò)采樣和低位量化結(jié)合的方法。其中,過(guò)采樣技術(shù)在模/數(shù)混合電路中

  • ADC基準(zhǔn)電壓誤差影響全范圍轉(zhuǎn)換

    SAR（逐次逼近寄存器）ADC基準(zhǔn)電壓對(duì)轉(zhuǎn)換精度的影響比最初想象的還要大。圖1所示為理想和帶增益誤差的3位ADC轉(zhuǎn)換器的傳遞方程。ADC的傳遞方程等于：　　在這里，DCODE為數(shù)字輸出代碼，VIN為轉(zhuǎn)換器的輸入電壓，VOS為轉(zhuǎn)

  • D類(lèi)音頻功放IC常見(jiàn)問(wèn)答(3)

    如何測(cè)量D 類(lèi)放大器?D 類(lèi)放大器的較高的開(kāi)關(guān)頻率PWM 輸出會(huì)超載大多數(shù)的音頻分析儀輸入。專(zhuān)門(mén)的過(guò)濾器，如音頻精密輔助AUX-0025提供了一個(gè)這樣的過(guò)濾器來(lái)限制頻譜外的能量。除此之外，平衡后的5 階過(guò)濾器將與低失真

  • D類(lèi)音頻功放IC常見(jiàn)問(wèn)答(2)

    第二部分：佐貝爾(Zobel)電路，D類(lèi)放大器的測(cè)試與測(cè)量，PCB布局和接地問(wèn)題。在問(wèn)與答的第二部分內(nèi)容里，主要考慮佐貝爾電路、D 類(lèi)放大器的測(cè)試與測(cè)量，以及PCB布局和接地相關(guān)問(wèn)題。佐貝爾電路是什么?佐貝爾是阻抗匹

  • D類(lèi)音頻功放IC常見(jiàn)問(wèn)答

    常見(jiàn)問(wèn)題解答的第1部分提供了關(guān)于D類(lèi)放大器的概論，并回答了如何進(jìn)行選擇放大器以及D類(lèi)放大器濾波器的設(shè)計(jì)問(wèn)題。什么是D類(lèi)放大器D類(lèi)放大器使用了脈沖寬度調(diào)制電路來(lái)保持其輸出晶體管工作在全開(kāi)或全關(guān)狀態(tài)。換句話說(shuō)

  • 詳解色溫及如何選擇色溫

    色溫定義:光源發(fā)射光的顏色與黑體在某一溫度下輻射光色相同時(shí)，黑體的溫度稱(chēng)為該光源的色溫。 因?yàn)榇蟛糠止庠此l(fā)出的光皆統(tǒng)稱(chēng)為白光，故光源的色表溫度或相關(guān)色溫度即用以指稱(chēng)其光色相對(duì)白的程度，以量化光源的光色

  • 一款自制簡(jiǎn)易示波器設(shè)計(jì)

    這款簡(jiǎn)易示波器的性能如下：1.電壓擋位：200mV、500mV、1V、2V、5V、12.5V、25V、50V。2.頻率擋位：12MHz、6MHz、4MHz、3MHz、2MHz、1MHz、500kHz、250kHz、100 kHz、50kHz、25kHz、10kHz。3.能較好地測(cè)量300 kHz的

  • 簡(jiǎn)單介紹常用的AD/DA系列芯片

    目前生產(chǎn)AD/DA的主要廠家有ADI、TI、BB、PHILIP、MOTOROLA等.1. AD公司AD/DA器件AD公司生產(chǎn)的各種模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)(統(tǒng)稱(chēng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器)一直保持市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)地位，包括高速、高精度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器和目前流行的

  • 混合信號(hào)IC的電磁兼容設(shè)計(jì)

    1引言混合集成電路(Hybrid Integrated Circuit)是由半導(dǎo)體集成工藝與厚(薄)膜工藝結(jié)合而制成的集成電路?；旌霞呻娐肥窃诨嫌贸赡し椒ㄖ谱骱衲せ虮∧ぴ捌浠ミB線,并在同一基片上將分立的半導(dǎo)體芯片、單片集

  • 數(shù)字電容隔離器的磁場(chǎng)抗擾度

    數(shù)字電容隔離器的應(yīng)用環(huán)境通常包括一些大型電動(dòng)馬達(dá)、發(fā)電機(jī)以及其他產(chǎn)生強(qiáng)電磁場(chǎng)的設(shè)備。暴露在這些磁場(chǎng)中，可引起潛在的數(shù)據(jù)損壞問(wèn)題，因?yàn)殡妱?shì)（EMF，即這些磁場(chǎng)形成的電壓）會(huì)干擾數(shù)據(jù)信號(hào)傳輸。由于存在這種潛

  • 高速AD測(cè)試中的難點(diǎn)

    高精度ADC的采樣率不高，測(cè)試關(guān)鍵是要有高精度的信號(hào)源。而高速ADC測(cè)試是一項(xiàng)更具挑戰(zhàn)性的工作，其中采樣時(shí)鐘的Jitter和高速數(shù)字接口是兩個(gè)必須面對(duì)的難題。 采樣時(shí)鐘的Jitter（抖動(dòng)）問(wèn)題 隨著輸入信號(hào)和采樣頻率

  • 10位逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器的芯片設(shè)計(jì)

    1 引言A/D轉(zhuǎn)換器是模擬系統(tǒng)與數(shù)字系統(tǒng)接口的關(guān)鍵部件，可以將需要測(cè)量的模擬信號(hào)精確地轉(zhuǎn)換成數(shù)字量信號(hào)。一旦以數(shù)字形式出現(xiàn)，就能簡(jiǎn)單而準(zhǔn)確地對(duì)其進(jìn)行處理，從而提取出有用的信息?，F(xiàn)代電子系統(tǒng)中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（A

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