在電路中，不管晶體管是工作在直流工作狀態(tài)還是交流工作狀態(tài)，正確選擇晶體管的直流參數(shù)是很重要的。也就是說，應(yīng)根據(jù)工作環(huán)境中直流電路的工作狀態(tài)要求，對晶體管進行最基礎(chǔ)的選擇，確定晶體管的工作電壓，工作電流和功耗，來計算電路中應(yīng)用的晶體管直流工作電壓(Vcc)、最大工作電流(ICM)和功耗(PCM)等。

　　在交流工作狀態(tài)下，晶體管的交流工作狀態(tài)很重要，比如輸出功率(PL)、交流增益(GP)、效率(η)、特征頻率(fT)、極間電容(CCE和CBE)等。

　　對交流參數(shù)，我們一般查看晶體管的輸出功率、交流增益和特征頻率就可以了。特征頻率決定晶體管是否滿足電路工作頻率要求，交流增益和輸出功率決定了電路的放大級數(shù)和輸入功率。在交流放大電路中，同種類型的晶體管，我們更愿意選用基極到地阻抗小的器件，因為同樣的輸入功率、產(chǎn)生同樣的輸出功率，輸入阻抗越小，晶體管工作越穩(wěn)定。 在某些情況下，直流參數(shù)和交流參數(shù)是不能分開的。如我們常說的擊穿電壓VEBO和VCEO。一般情況下，擊穿電壓VEBO指標大于等于4V。當晶體管處于完全導(dǎo)通狀態(tài)，晶體管基極和發(fā)射極之間的電壓最大不會超過0.7V(硅晶體管)，也就是說，在直流工作狀態(tài)下，擊穿電壓遠遠不足4V的電壓。但對交流信號電路，特別是輸入功率大、輸入阻抗較高的晶體管，電路在非穩(wěn)定狀態(tài)時，基極的交流信號幅度有時會大于4V。在一次偶然的實驗中我們發(fā)現(xiàn)，晶體管在調(diào)試和低溫試驗時，各種指標均正常，但在長時間高溫工作時，晶體管基極和發(fā)射極擊穿。經(jīng)過反復(fù)的檢查發(fā)現(xiàn)，所有器件均合格，電路調(diào)試狀態(tài)正常；唯一不同的是，電路反射功率較大，使晶體管的基極信號幅度長時間處于VEBO擊穿電壓的臨界狀態(tài)，造成晶體管的基極發(fā)射極擊穿。所以，應(yīng)該選擇VEBO偏大的晶體管。

　　晶體管的增益有直流放大倍數(shù)(HFE)和交流增益(GP)兩種。一般情況下，直流放大倍數(shù)越大，電路直流工作的電流就越大，一般根據(jù)電路實際需要選擇不同的直流放大倍數(shù)。而交流增益和直流放大倍數(shù)之間沒有任何關(guān)系，交流增益一般只給出范圍，如≥12dB，而沒有給出具體的最大增益，同時晶體管手冊只給出最大工作頻率，不會給出工作頻率范圍內(nèi)的頻響。交流增益不會因為直流放大倍數(shù)的改變而變化(很小的變化可以忽略)，有些晶體管直流的增益變大時交流增益反而變小。

　　對于晶體管的直流放大倍數(shù)，可以通過簡單的測試方法便可得到，但對于交流增益，必須通過專門的電路進行測試才能知道。一般的晶體管手冊中，給出交流增益的同時，會給出交流增益測試電路圖。根據(jù)功率的不同，晶體管的增益范圍不同，同種功率的晶體管，增益范圍越窄，晶體管芯片制作的工藝一致性越好；晶體管在工作頻帶內(nèi)交流增益變化越小，晶體管的交流參數(shù)越穩(wěn)定，晶體管的一致性越好，電路的互換性越好。

　　通過晶體管的輸出特征曲線圖，不僅可以計算出晶體管的直流放大倍數(shù)，同時也可以測出晶體管的飽和壓降VCES，這也是一個非常重要的參數(shù)。我們對許多大功率晶體管測試時發(fā)現(xiàn)，好的晶體管VCES仍小于等于1V，但差的晶體管VCES遠遠大于1V，有的竟然在2.5V～3V之間(見左圖)。

　　通過對比我們發(fā)現(xiàn)好的晶體管曲線分布均勻，曲線之間相互平行，基極的電流穩(wěn)定后集電極電流基本不變，飽和壓降VCES小(見左圖中紅線對應(yīng)的VCE電壓，小于等于1V)；而差的晶體管曲線分布不均勻，曲線之間相互不平行，基極電流穩(wěn)定后集電極電流變化很大，飽和壓降VCES(大約2.8V)。根據(jù)實際應(yīng)用得知，曲線分布不均勻、VCES大的晶體管線性差、功耗大、輸出指標不好。應(yīng)用這種晶體管進行設(shè)計，電路是很難達到高指標的。