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[導(dǎo)讀]溫度補償石英晶體振蕩器(TCXO)由于具有較高的頻率穩(wěn)定度,作為一種高精度頻率源被廣泛地應(yīng)用于通訊系統(tǒng)、雷達導(dǎo)航系統(tǒng)、精密測控系統(tǒng)等。溫補晶振由石英晶體振蕩電路和溫度補償網(wǎng)絡(luò)兩部分組成。其中,溫度補償網(wǎng)絡(luò)的

溫度補償石英晶體振蕩器(TCXO)由于具有較高的頻率穩(wěn)定度,作為一種高精度頻率源被廣泛地應(yīng)用于通訊系統(tǒng)、雷達導(dǎo)航系統(tǒng)、精密測控系統(tǒng)等。溫補晶振由石英晶體振蕩電路和溫度補償網(wǎng)絡(luò)兩部分組成。其中,溫度補償網(wǎng)絡(luò)的優(yōu)化設(shè)計對于改善溫補晶體振蕩器的溫頻特性,提高振蕩器的頻率精度具有重要意義。
1 溫補晶振溫度補償原理

溫補晶振由石英晶體振蕩電路和溫度補償網(wǎng)絡(luò)兩部分組成。典型的溫補晶振原理示意圖如圖1所示。

振蕩器的頻率溫度特性主要由晶體諧振器的頻率溫度特性決定。常用的AT切晶體諧振器的頻率溫度特性為三次曲線,溫補晶振溫度補償?shù)脑砭褪峭ㄟ^改變振蕩回路中的負載電容,使其隨溫度變化來補償諧振器由于環(huán)境溫度變化所產(chǎn)生的頻率漂移。

圖1中變?nèi)荻O管D兩端所加電壓(即補償電壓)由溫補網(wǎng)絡(luò)輸出,溫補網(wǎng)絡(luò)隨溫度自動調(diào)節(jié)輸出電壓,變?nèi)荻O管容量隨之改變,以抵消諧振器頻率隨溫度的變化,可使輸出頻率基本不變。

從以上原理分析可得溫補晶振補償過程如下:

(1)測試出補償電壓一溫度曲線(V-T曲線);

(2)根據(jù)V-T曲線數(shù)據(jù),計算熱敏網(wǎng)絡(luò)中各電阻的阻值;

(3)裝配溫補網(wǎng)絡(luò),測試成品振蕩器f-T曲線,評價論證補償效果。

可以看出,獲得準(zhǔn)確的V-T曲線參數(shù)是溫補晶振設(shè)計生產(chǎn)中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),直接關(guān)系到振蕩器頻率精度的高低,關(guān)系著成品溫補晶振品質(zhì)的優(yōu)劣。

2 系統(tǒng)硬件組成及測試過程

溫補網(wǎng)絡(luò)補償電壓的測量多為人工手動完成。用小功率直流電壓源代替溫補網(wǎng)絡(luò),改變溫度到目標(biāo)點并保溫,然后調(diào)節(jié)電壓源輸出,使振蕩器輸出達到中心頻率,此時電壓源輸出即為該溫度點的補償電壓;在各測試溫度點重復(fù)以上操作,得到一組數(shù)據(jù),即V-T曲線數(shù)據(jù)。這種手動測量方法效率低下,人力成本較高,而且手工記錄測試數(shù)據(jù),容易產(chǎn)生誤差,難以實現(xiàn)精確快速的優(yōu)質(zhì)生產(chǎn)。

本文設(shè)計提出一種溫補網(wǎng)絡(luò)補償電壓的自動測試方法,對該過程實現(xiàn)了自動控制與測量。

2.1 系統(tǒng)硬件組成

溫補網(wǎng)絡(luò)補償電壓自動測試系統(tǒng)以計算機為控制核心,結(jié)合應(yīng)用軟件,實現(xiàn)了補償電壓測試過程的自動化測試。系統(tǒng)可以完成設(shè)備自動控制,儀器的自動測試,數(shù)據(jù)存儲以及數(shù)據(jù)分析等功能,大大提高了測試速度,節(jié)省了工作時間,還可以提高測試準(zhǔn)確度,比傳統(tǒng)的人工手動測試具有明顯的優(yōu)越性。

本系統(tǒng)以計算機為控制中心,包括高低溫箱、程控電源、數(shù)字頻率計和數(shù)字萬用表等設(shè)備。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示。

(1)高低溫箱S&A4220MR

支持GPIB接口程控,滿足-50~+80℃測試要求,箱內(nèi)的測量圈設(shè)有50個工位,每個工位通過5根導(dǎo)線連接一個待測補償電壓的半成品活件,分別接活件的GND,VCC,VDD,OUT和E+,高低溫箱與外部儀表連接如圖3所示。

(2)程控電源Agilent3631A

支持GPIB接口程控,滿足獨立雙路供電,其中0~6 V為E+供電,其分辨率可達2 mV以內(nèi);0~25 V為TCXO系統(tǒng)提供工作電壓。

(3)數(shù)字頻率計EE3386A1

支持串口程控,用于獲取TCXO輸出頻率。

(4)FLUKE45萬用表

支持串口程控,用于獲取TCXO內(nèi)部三端穩(wěn)壓器的輸出電壓VDD,為補償網(wǎng)絡(luò)分析計算輔助數(shù)據(jù)。

2.2 補償電壓自動測試過程

根據(jù)系統(tǒng)硬件組成與測試目的要求,補償電壓自動測試過程如下:

將未裝配補償網(wǎng)絡(luò)的待測半成品活件裝入高低溫箱,連接好各儀器設(shè)備,打開電源,運行程序,進行參數(shù)設(shè)置(如工作電壓為8 V,中心頻率為19.2 MHz,測試溫度范圍為-40~+70℃,10℃步進);點擊開始按鈕,程序控制高低溫箱自動回0號參考工位,開始降溫至-40℃,保溫30 min后,工位進1,根據(jù)1號位活件設(shè)置調(diào)節(jié)程控電源工作電壓輸出,獲取振蕩器頻率,變化E+,使振蕩器頻率越來越接近中心頻率,直到滿足要求,記錄此時程控電源的E+即為所測補償電壓結(jié)果,同時記錄振蕩器內(nèi)為溫補網(wǎng)絡(luò)供電的穩(wěn)壓器輸出電壓VDD;然后高低溫箱輪位進1,移向2號位測量,直到所有工位測試完畢;開始升溫10℃至-30℃,保溫20 min,測試記錄數(shù)據(jù),完成所有工位測試;繼續(xù)升溫,保溫、測量,直至全部溫度點測試完畢,一個測試過程完成。

3 軟件組成

應(yīng)用軟件采用VB 6.0編寫,后臺數(shù)據(jù)庫采用Microsoft Access數(shù)據(jù)庫。運行軟件,可以對程控儀器設(shè)備進行操作和控制,實現(xiàn)測試過程的自動控制、數(shù)據(jù)自動測試以及自動記錄,為溫補晶振補償網(wǎng)絡(luò)參數(shù)計算過程提供準(zhǔn)確可靠的輸入數(shù)據(jù)。

應(yīng)用軟件主要分為3個模塊:活件參數(shù)管理模塊,自動測試模塊以及數(shù)據(jù)處理與存儲模塊。

3.1 活件參數(shù)管理模塊

活件參數(shù)管理模塊是系統(tǒng)控制軟件的最上層,它直接面向用戶,提供系統(tǒng)數(shù)據(jù)信息:用戶在測試前需要設(shè)置相關(guān)參數(shù),如設(shè)備信息錄入,產(chǎn)品編號設(shè)置,高低溫箱輪位、溫度及步進參數(shù)等;自動測試過程中顯示系統(tǒng)當(dāng)前工作狀態(tài),如當(dāng)前輪位、當(dāng)前溫度、E+、VDD等實時數(shù)據(jù),也可顯示其他歷史數(shù)據(jù);同時提供對用戶的誤操作進行處理、提示及相應(yīng)的幫助系統(tǒng)。

3.2 自動測試模塊

自動測試模塊是系統(tǒng)功能的具體實施部分,能夠?qū)Τ炭貎x器的工作狀態(tài)進行控制檢測。

自動測試模塊通過調(diào)用動態(tài)鏈接庫函數(shù)VISA32.DLL來控制系統(tǒng)所用的GPIB設(shè)備或儀器,用VB自帶MSCOMM32.OCX控件對系統(tǒng)中的串口程控儀器進行控制。該測試模塊是系統(tǒng)軟件中較關(guān)鍵也較復(fù)雜的部分,需要充分了解儀器功能及程控指令系統(tǒng),并根據(jù)控制過程安排程序指令順序。

下面就系統(tǒng)中程控設(shè)備的設(shè)置控制語句做關(guān)鍵性說明。

3.3 數(shù)據(jù)處理與存儲模塊

數(shù)據(jù)存儲模塊是測試系統(tǒng)的重要組成部分,它由活件信息表,儀器設(shè)備信息表及測試數(shù)據(jù)表等組成,主要完成系統(tǒng)各儀器的基本信息、測試過程及測試數(shù)據(jù)的管理工作。在系統(tǒng)工作界面中通過相關(guān)控件可瀏覽、調(diào)用、修改及編輯相關(guān)數(shù)據(jù)。

3.4 系統(tǒng)軟件流程圖

根據(jù)系統(tǒng)硬件組成與測試過程要求,軟件流程圖如圖4所示。

4 結(jié)語

本系統(tǒng)以計算機為控制中心,結(jié)合應(yīng)用軟件,實現(xiàn)了溫補晶振補償網(wǎng)絡(luò)補償電壓的自動測試,系統(tǒng)中儀器設(shè)備的功能量程設(shè)置、數(shù)據(jù)的獲取記錄等均由計算機來完成,使數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確、可靠,并且大大縮短了測試時間,提高了工作效率和產(chǎn)品質(zhì)量。本系統(tǒng)投入使用后,經(jīng)過實踐和進一步改善,系統(tǒng)中各設(shè)備儀器工作正常有序,穩(wěn)定可靠,滿足了用戶的需求。

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