前言

　　筆者公司近期接到多起用戶來(lái)電，咨詢他們的網(wǎng)絡(luò)在使用中部分信息點(diǎn)會(huì)由千兆自動(dòng)降低為百兆（項(xiàng)目交付使用少于1年），溝通中得知用戶這些故障信息點(diǎn)驗(yàn)收時(shí)采用FLUKE設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試性能符合要求，進(jìn)一步溝通得知選擇信道作為驗(yàn)收測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，即每個(gè)信息點(diǎn)包含一條永久鏈路和兩條用戶數(shù)據(jù)跳線。

　　針對(duì)這個(gè)問(wèn)題，我們從以下幾個(gè)方面進(jìn)行了分析：

　　1、實(shí)際使用中的通道線路和測(cè)試通道是否相同，就是說(shuō)實(shí)際使用的用戶跳線和測(cè)試時(shí)使用的跳線是否為同一根跳線。

　　2、網(wǎng)絡(luò)環(huán)境是否正常，眾所周知當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)設(shè)備（網(wǎng)卡）是具有自適應(yīng)功能的，當(dāng)網(wǎng)絡(luò)環(huán)境發(fā)生變化時(shí)會(huì)自動(dòng)切換到千兆或者百兆的應(yīng)用狀態(tài)。

　　3、使用過(guò)程中網(wǎng)絡(luò)線路是否被損壞，如模塊、水晶頭是否被腐蝕、損壞等。

　　由于網(wǎng)絡(luò)設(shè)備具有優(yōu)先自適應(yīng)選擇千兆的特點(diǎn)，使用過(guò)程中隨著誤碼率的不斷增加和累積，最終可能導(dǎo)致千兆網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)降低為百兆。因此筆者公司用戶咨詢的情況，經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)研究分析，其發(fā)生的最大可能是用戶跳線的性能存在缺陷，本文將著重討論從標(biāo)準(zhǔn)到應(yīng)用兩方面來(lái)分析用戶跳線性能與系統(tǒng)的關(guān)系。

　　不同測(cè)試模型分析

　　我們知道FLUKE測(cè)試設(shè)備在選擇“Channel”測(cè)試模型進(jìn)行測(cè)試時(shí)，并不包含兩端接入適配器的跳線接頭（水晶頭），設(shè)備在測(cè)試時(shí)會(huì)自動(dòng)扣除鏈路兩端水晶頭的影響，換句話說(shuō)就是用于測(cè)試的跳線的水晶頭性能好壞，基本不會(huì)影響到最終的測(cè)試結(jié)果，而實(shí)際網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用時(shí)則不能排除跳線水晶頭的影響。

　　為確保網(wǎng)絡(luò)能在千兆狀態(tài)下穩(wěn)定的運(yùn)行，物理布線需要達(dá)到怎樣的性能、何種進(jìn)行驗(yàn)收才能保證呢？

　　端到端網(wǎng)絡(luò)設(shè)備通訊鏈路在標(biāo)準(zhǔn)中被定義為信道（Channel），一個(gè)信道鏈路包含一條水平鏈路、2條用戶跳線，當(dāng)水平鏈路采用永久鏈路“Perm.Link”模型、跳線采用跳線單體“Patchcord”模型測(cè)試并分別符合要求后，則這條信道鏈路定能滿足要求。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)TIA568規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)鏈路、信道測(cè)試模型如下：

　　在實(shí)際項(xiàng)目的驗(yàn)收測(cè)試中，以選擇FLUKEDTX1800測(cè)試儀為例，不同測(cè)試模型對(duì)應(yīng)FLUKE的測(cè)試適配器如表1。

　　通過(guò)以上分析，要獲得穩(wěn)定可靠的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用，工程驗(yàn)收時(shí)水平鏈路應(yīng)選擇永久鏈路模型進(jìn)行測(cè)試、跳線應(yīng)選擇對(duì)應(yīng)的跳線單體模型測(cè)試。根據(jù)TIA568標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：跳線單體測(cè)試參數(shù)在回波損耗、近端串音方面比信道測(cè)試的參數(shù)，其余量在高頻下（≧16MHz）分別高出5dB以上，且頻率越高差距越大。不同測(cè)試模型下的性能參數(shù)比較見(jiàn)表2。

　　用戶跳線驗(yàn)收模型選擇

　　水平鏈路的永久鏈路測(cè)試模型，目前已經(jīng)越來(lái)越多地應(yīng)用于各類工程項(xiàng)目的綜合布線驗(yàn)收，而跳線的單體測(cè)試模型卻很少被用戶所熟知，下面簡(jiǎn)單介紹一下跳線的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試方法。

　　作為工程驗(yàn)收的主要設(shè)備之一，F(xiàn)LUKE是業(yè)內(nèi)認(rèn)可度最高的設(shè)備。下面以FLUKEDTX1800測(cè)試Cat6為例來(lái)進(jìn)行分析：

　　FlukeDTX系列Cat6跳線測(cè)試適配器（屏蔽、非屏蔽通用），包括：FlukeDTX主機(jī)適配器（FlukeDTX-PCU6/MN）和FlukeDTX遠(yuǎn)端適配器（FlukeDTX-PCU6/SR），測(cè)試時(shí)兩個(gè)適配器需要分別安裝在設(shè)備的主機(jī)及遠(yuǎn)端，不得安裝錯(cuò)誤。

　　測(cè)試時(shí)一般選擇跳線TIA標(biāo)準(zhǔn)，選擇該測(cè)試模型時(shí)，主要的測(cè)試參數(shù)如下：

　　接線圖，確保端接的正確性

　　近端串?dāng)_(NEXT)(單向)

　　回波損耗(單向)

　　通過(guò)/失敗測(cè)試限

　　在測(cè)試參數(shù)項(xiàng)目中需要特別注意到的是，近端串?dāng)_、回波損耗標(biāo)識(shí)為“單向”，也就是說(shuō)在選擇跳線單體標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試跳線時(shí)，設(shè)備測(cè)試出來(lái)的僅僅是跳線與主機(jī)端相連的水晶頭性能參數(shù)，因此要驗(yàn)證一根跳線是否合格，必須要將跳線兩端的水晶頭分別與FLUKE測(cè)試設(shè)備的主機(jī)進(jìn)行連接才能最終進(jìn)行判定，即判斷一根跳線是否合格，最少需要經(jīng)過(guò)兩次測(cè)試才能確定，這一點(diǎn)與其他的測(cè)試模型都是完全不一樣的。

　　FLUKE跳線測(cè)試適配器內(nèi)的模塊是有使用壽命的，一般情況下插拔10000次（測(cè)試5000條跳線）就需要更換新的測(cè)試模塊。

　　另外，除跳線生產(chǎn)時(shí)存在的缺陷外，插拔次數(shù)超過(guò)極限的跳線也有可能會(huì)引起千兆網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)切換到百兆的現(xiàn)象，一般在插拔750次以內(nèi)不會(huì)影響跳線性能，當(dāng)跳線的插拔次數(shù)不斷增加以后（超過(guò)1500次），跳線水晶頭金片上的鍍金層將會(huì)被磨擦掉，隨之與模塊金針接觸的將是水晶頭的鍍鎳層，這樣將會(huì)增加水晶頭的接觸電阻，從而導(dǎo)致跳線性能下降。因此對(duì)于一些插拔比較頻繁的跳線，應(yīng)當(dāng)定期進(jìn)行更換。

　　羅森伯格作為專業(yè)的布線廠商，所有出廠跳線產(chǎn)品都經(jīng)過(guò)了100%嚴(yán)格的跳線單體測(cè)試（兩端測(cè)試），為用戶網(wǎng)絡(luò)長(zhǎng)期穩(wěn)定的應(yīng)用提供了良好的基礎(chǔ)。