1 概述

在通信系統(tǒng)中，頻率測量具有重要地位。近幾年來頻率測量技術(shù)所覆蓋的領(lǐng)域越來越廣泛，測量精度越來越高，與不同學(xué)科的聯(lián)系也越來越密切。與頻率測量技術(shù)緊密相連的領(lǐng)域有通信、導(dǎo)航、空間科學(xué)、儀器儀表、材料科學(xué)、計量技術(shù)、電子技術(shù)、天文學(xué)、物理學(xué)和生物化學(xué)等。

頻率測量一般都是由計數(shù)器和定時器完成，將兩個定時/計數(shù)器一個設(shè)置為定時器，另一個設(shè)置為計數(shù)器，定時時間到后產(chǎn)生中斷，在中斷服務(wù)程序中處理結(jié)果，求出頻率。這種方法雖然測量范圍較寬，但由于存在軟件延時，盡管在高頻段能達到較高的精度，而低頻段的測量精度較低。所以利用單片機測頻時，如果選擇不好的測量方法，可能會引起很大的誤差。測量頻率時如果不是真正依靠硬件控制計數(shù)或定時，而是由軟件查詢或中斷響應(yīng)后再停止計數(shù)，雖然理論上能達到很高的精度，但實際測量中由于單片機響應(yīng)有一定的時間延遲，難以做到精確測量。本系統(tǒng)設(shè)計以MSP4130單片機為核心，在軟件編程中采用C430語言，采用硬件邏輯和軟件指令相結(jié)合的方法，取代單純用軟件指令控制閘門，使閘門的開啟與計數(shù)同步。這種測量方法保證了測量誤差與被測頻率無關(guān)，實現(xiàn)了高低頻段的等精度測量。

2 工作原理

頻率是微波儀器的重要參數(shù)。微波頻率測量是檢測儀器是否正常運行的有效手段，而提高頻率測量精度是微波頻率測量可靠性的保證。

本頻率計主要是針對微波微擾法單腔測濕系統(tǒng)而設(shè)計的，頻率測量范圍由微擾測濕系統(tǒng)的混頻器輸出范圍確定。

整個測濕系統(tǒng)如圖1所示，在沒有濕蒸汽流過諧振腔時，其諧振頻率為9.6 GHz，此頻率較高，一般不能直接測量，而是采用混頻的方法。輸入壓控振蕩器(VCO)的電壓范圍為0 V～10 V，其工作特點是電壓每變換1 V，將產(chǎn)生1 MHz的頻偏，調(diào)整VCO的中心頻率為9.6 GHz，則壓控振蕩器VCO的輸出頻率范圍為9 600 GHz～9 610 GHz。再設(shè)置本地振蕩器頻率為9.6 GHz，經(jīng)混頻后對0 MHz～10MHz的差頻信號進行實時測量。因此，頻率計的頻率范圍為0 MHz～10 MHz。

2.1 頻率計原理

等精度頻率計的硬件邏輯原理圖如圖2所示，主要由MSP430單片機、標準晶振、1個D觸發(fā)器、2個與非門、復(fù)位電路、顯示電路等組成。其中MSP430單片機是由德州儀器公司推出的16位超低功耗高性能產(chǎn)品，它內(nèi)部具有豐富的定時資源，內(nèi)含看門狗定時器(WDT)和基本定時器，定時器A(Timer_A)和定時器B(Timer_B)結(jié)構(gòu)基本相同，都是16位定時器。本設(shè)計選用定時器A和定時器B分別對待測頻率FX和標準頻率F0計數(shù)，在預(yù)定的閘門時間內(nèi)，如果計數(shù)器A的計數(shù)值為N1，計數(shù)器B的計數(shù)值為N0，則待測頻率為：

為了減少誤差，應(yīng)確保閘門的開啟和關(guān)閉與待測信號同步。單片機的標準頻率為8 MHz，其計數(shù)最高可達到8 MHz，(一個時鐘周期可以執(zhí)行一條指令，傳統(tǒng)的MCS51單片機需要12個時鐘周期才可執(zhí)行一條指令)，而測量范圍是0 MHz～10 MHz，故計數(shù)時需要先對計數(shù)器分頻，MSP430系列單片機內(nèi)部定時器Timer_ A和Timer_ B自帶分頻器，可以對所測頻率進行1、2、4、8分頻，使設(shè)計電路簡單，并且能達到測量要求。

2.2 系統(tǒng)工作原理

為了實現(xiàn)高精度、等精度的雙計數(shù)頻率測量，計數(shù)相關(guān)器是關(guān)鍵，所謂計數(shù)相關(guān)器就是使門信號和待測信號同步。當(dāng)按下S1、S2、S3三個按鍵中的任一按鍵時，與門U1(圖2中未給出)輸出0信號使D觸發(fā)器清零，Q端輸出0信號使與非門U2和U3封鎖。與此同時，軟件指令設(shè)置TACTL和TBCTL使定時器A和定時器B清零，做好計數(shù)準備。單片機的P5.1口和D觸發(fā)器的D端相連.在計數(shù)前P5.1口輸出始終為零，這樣計數(shù)信號不能通過與非門到達計數(shù)器，然后用軟件指令向P5.1口寫入信號1，當(dāng)被測信號Fx的第一個上升沿到達時，與非門U2和U3開啟，標準信號和待測信號同時計數(shù)。當(dāng)計數(shù)滿時，TBIFG1置位，產(chǎn)生中斷，在中斷服務(wù)程序中對P5.1口寫入“0”信號，做好關(guān)閉閘門的準備，但這時閘門并沒有真正關(guān)閉，等待被測信號的上升沿到來，閘門關(guān)閉，停止計數(shù)。由此可知，在整個計數(shù)過程中，從閘門開啟到閘門關(guān)閉，實際閘門開啟時間是被測信號計數(shù)周期的整數(shù)倍，避免了由于非整數(shù)周期造成的誤差，實現(xiàn)了閘門開啟和關(guān)閉與待測信號的同步。由于計數(shù)器Timer_B至少產(chǎn)生一次中斷才能關(guān)閉閘門，理論上在此期間基準脈沖數(shù)為NB=8×65 536(8為計數(shù)器Timer_B的分頻系數(shù))。圖3是等精度實現(xiàn)原理圖。

2.3 寄存器設(shè)置

定時器基本操作的控制包含在定時器控制寄存器TACTL和TBCTL中，因此在利用定時器Timer_A和Timer_B計數(shù)之前，必須根據(jù)需要設(shè)置TACTL和TBCTL，其中SSEL1和SSEL0選擇定時器輸入分頻器的時鐘源，ID1和IDO選擇輸入的分頻系數(shù)，MC1和MC0位選擇計數(shù)模式。TACTL和TBCTL的設(shè)置如表1所列。

3 等精度測量的實現(xiàn)

N1和N0分別為計數(shù)器Timer_A和Timer_B記得的數(shù)值，F(xiàn)0為標準晶體的頻率，F(xiàn)x為待測信號的頻率，T閘門時間，則：

由于計數(shù)器A的計數(shù)脈沖與閘門同步，因而不存在±1的誤差。對于標頻計數(shù)器B，由于門控啟閉的隨機性以及T/TC(TC為標頻信號的周期)之比為非整數(shù)，時間零頭無法計入，故存在±1的誤差。對(3)式求導(dǎo)，則

故精度為：

由(6)式可知，測得的精度與被測信號無關(guān)，僅與標準信號和閘門時間有關(guān)，故可實現(xiàn)測量范圍內(nèi)的等精度測量。而且閘門時間越長，標準頻率越高，精度也就越高。標準頻率可由穩(wěn)定度好，精度高的高頻率晶體振蕩器產(chǎn)生，在保證測量精度不變的前提下，提高標準信號頻率，可使閘門寬度縮短，即可提高測試速度。

誤差來源：

(1) 實際閘門對標準頻率的隨機性導(dǎo)致計數(shù)值NB的±1誤差是主要誤差。

(2) 時鐘脈沖產(chǎn)生的標準頻率F0的穩(wěn)定度產(chǎn)生的測量誤差。時鐘脈沖由晶體振蕩器產(chǎn)生。由于目前晶體振蕩器主要分為溫補晶體振蕩器和恒溫

晶體振蕩器兩大類，其中，溫補晶體振蕩器體積小，開機時間短，穩(wěn)定度一般在10-7數(shù)量級以上。而恒溫晶體振蕩器的穩(wěn)定度更高，因而相對于量化誤差，標準頻率誤差可以忽略。公式(6)就是在忽略標準頻率誤差的情況下得到的。由于分頻系數(shù)為8，則測頻精度為1/(8×65 536)=1.907e-6。若要進一步提高頻率測量的精度則可以增加分頻系數(shù)。

4 CPLD設(shè)計

本系統(tǒng)設(shè)計采用Altera公司生產(chǎn)的CPLD器件EPM7128實現(xiàn)其中的邏輯部分。用MAXPLUS+11軟件工具開發(fā)，采用Verilog語言編程。設(shè)計輸人完成后，進行整體的編譯和邏輯仿真，然后進行轉(zhuǎn)換、布局、延時仿真生成配置文件和下載文件，最后下載至EPM7128器件，實現(xiàn)其硬件功能。仿真波形如圖4所示，其參數(shù)為：beice=8 MHz，biaozhun=50 MHz。結(jié)果表明各信號的邏輯功能和時序配合都達到了期望指標。不同被測頻率的仿真值如表2所列。

5 結(jié)束語

本頻率計的設(shè)計將MSP430單片機的計數(shù)器Timer_A和Timer_B均設(shè)置為計數(shù)方式，比以往一個定時/計數(shù)器作定時器，另一個定時/計數(shù)器作計數(shù)器的方式計數(shù)精度要高，并且測量精度與被測信號無關(guān)，實現(xiàn)了0 MHz～10 MHz頻率范圍內(nèi)的等精度測量，智能閘門控制方式使測量方便、靈活。本頻率測量系統(tǒng)還能實現(xiàn)更高頻率測量范圍的等精度測量，這時要根據(jù)不同測量系統(tǒng)的要求選擇24位、32位計數(shù)器。