摘要 針對π網(wǎng)絡(luò)石英晶體參數(shù)測試系統(tǒng)，采用以STM32F103ZET6型ARM為MCU控制DDS產(chǎn)生激勵信號。該測試系統(tǒng)相對于傳統(tǒng)的PC機測試系統(tǒng)具有設(shè)備簡單、操作方便，較之普通單片機測試系統(tǒng)又具有資源豐富、運算速度更快等優(yōu)點。AD9852型DDS在ARM控制下能產(chǎn)生0～100 MHz掃頻信號，經(jīng)試驗數(shù)據(jù)分析得到信號精度達到0．5×10-6，基本滿足設(shè)計要求。該系統(tǒng)將以其小巧、快速、操作方便、等優(yōu)點被廣泛采用。
關(guān)鍵詞 石英晶體；DDS；AD9852；STM32F103ZET6

    產(chǎn)生正弦激勵信號一般可以通過振蕩電路或直接數(shù)字頻率合成器(Direct Digital Frequency Synthesis，DDS)，DDS較振蕩電路具有相位噪聲小、雜散抑制好、可產(chǎn)生連續(xù)波信號、掃頻信號和頻率捷變信號等優(yōu)點。石英晶體電參數(shù)測試中激勵信號的指標如幅度、頻率的穩(wěn)定性對后續(xù)的測量精度至關(guān)重要。所以系統(tǒng)采用AD9852型DDS作為信號源。石英晶體電參數(shù)測試系統(tǒng)中，DDS可以同時產(chǎn)生多路正弦信號，并可對信號的頻率、幅度、相位精確控制，用以測量石英晶體電參數(shù)，隨著對石英晶體頻率精度的要求越來越高，DDS的信號源設(shè)計及控制具有重要現(xiàn)實意義。

1 π網(wǎng)絡(luò)法測試原理
    在串聯(lián)諧振狀態(tài)下，石英晶體等效電路模型如圖1所示，C0為靜態(tài)電容；L1為動態(tài)電感；Rr是串聯(lián)諧振電阻；C1為動態(tài)電容。

    其等效阻抗為
   
    式中，ω為信號源所輸出信號的角頻率，ω=2πf；Zs為π網(wǎng)絡(luò)的等效阻抗。根據(jù)式(1)可以畫出石英晶體阻抗一頻率特性曲線如圖2所示，f0為石英晶體的串聯(lián)諧振頻率，f1為并聯(lián)諧振頻率，本系統(tǒng)需要測量石英晶體的串聯(lián)諧振頻率。

    由圖2可以看出，當信號源頻率為f1時，石英晶體的阻抗最??；當信號源頻率為時石英晶體的阻抗最大。利用這個特性可以得到石英晶體的串聯(lián)諧振頻率、并聯(lián)諧振頻率等參數(shù)。石英晶體電參數(shù)測試方法有3種：阻抗計法、π網(wǎng)絡(luò)最大傳輸法、π網(wǎng)絡(luò)零相位法。π網(wǎng)絡(luò)最大傳輸法是將石英晶體插入一個π網(wǎng)絡(luò)中，不斷改變π網(wǎng)絡(luò)一端激勵信號的頻率，在另一端測量輸出信號電壓值，當電壓達到最大值時的頻率即為串聯(lián)諧振頻率。其特點是測試設(shè)備較復(fù)雜，不易捕獲峰值電壓時的頻率，精度較高；π網(wǎng)絡(luò)零相位法原理；π網(wǎng)絡(luò)零相位法是將石英晶體插入一個π網(wǎng)絡(luò)中，在一端不斷輸出掃頻信號，用矢量電壓表檢測π網(wǎng)兩端的相位差，當相位差為零時的頻率即為串聯(lián)諧振頻率。π網(wǎng)絡(luò)最大傳輸法與π網(wǎng)絡(luò)零相位法的主要差別是沒有鑒相電路，將這兩種方法統(tǒng)稱為π網(wǎng)絡(luò)法。

2 石英晶體測試系統(tǒng)硬件框圖
    系統(tǒng)采用π網(wǎng)絡(luò)法，硬件框圖如圖3所示。系統(tǒng)以STM32F103ZET6型ARM為的MCU；AD9852型DDS用來產(chǎn)生正弦激勵信號；TXCO(ROJON)型溫度補償晶振給DDS提供參考頻率，此溫度補償晶振標稱頻率50 MHz；LCD作為人機交換接口用以顯示參數(shù)和波形；4×4鍵盤可以輸入預(yù)置參數(shù)，也可以作為功能按鍵控制系統(tǒng)工作；信號調(diào)理電路對激勵信號濾波以及放大跟隨，通過π網(wǎng)絡(luò)的信號經(jīng)處理反饋到STM32F103ZET6的A／D端口，對輸出信號進行處理。MCU通過串口(USART)和上位機通信，上位機發(fā)送控制指令控制MCU工作，MCU將測試數(shù)據(jù)反饋給上位機。系統(tǒng)重點是利用STM32F103ZET6控制A139852產(chǎn)生掃頻信號，難點是對π網(wǎng)絡(luò)輸出端信號的處理。

3 系統(tǒng)測試流程圖
    石英晶體測試參數(shù)測試儀在通電復(fù)位后首先初始化STM32F103ZET6內(nèi)部寄存器，然后再初始化系統(tǒng)各功能模塊包括LCD、DDS、USART、鍵盤、ADC等。在初始化完成之后通過鍵盤或上位機設(shè)定被測石英晶體的標稱頻率、掃描的起始和終止頻率以及掃描步進，參數(shù)設(shè)置完成后，通過上位機發(fā)送控制指令或鍵盤功能按鍵控制系統(tǒng)工作，在串口和鍵盤未產(chǎn)生中斷時，DDS會產(chǎn)生與設(shè)置參數(shù)相應(yīng)的掃頻信號，LCD實時顯示π網(wǎng)絡(luò)反饋到STM32F103ZET6的ADC管腳的波形，待轉(zhuǎn)換結(jié)束后MCU處理并保存數(shù)據(jù)，測試結(jié)果送回上位機并在LCD上顯示。具體流程圖如圖4所示。

4 DDS掃頻輸出控制
    系統(tǒng)對DDS信號源設(shè)計的核心是控制產(chǎn)生0～100 MHz掃頻信號，信號的質(zhì)量直接決定測試精度。由于采用溫度補償晶振給AD9852提供50 MHz參考頻率信號，因為AD9852產(chǎn)生的正弦信號是用于測試石英晶體參數(shù)的，所以對其參考頻率信號穩(wěn)定度要求嚴格，TXC0(ROJON)型溫度補償晶振頻率負載波動±10％時，穩(wěn)定度最大為±0．1×10-6，滿足系統(tǒng)精度需求。根據(jù)AD9852的文檔得到其輸出的最大頻率為
   
    式中，fc為AD9852內(nèi)部參考頻率；fmax為DDS最大輸出頻率。fc可以通過AD9852地址為0x1e的寄存器4倍頻，所以輸出正弦波最大頻率為100 MHz。測試時，先通過上位機或鍵盤輸入測試晶體的標稱頻率及掃描步進，然后以標稱頻率為中心設(shè)置適當?shù)钠鹗紥呙桀l率及終止掃描頻率。假設(shè)一個步進對應(yīng)的頻率控制字為DFTW，則每個步進頻率
   
    假設(shè)步進為1 kHz，則DFTW=0x53e2d623。AD9852進行掃頻輸出前，首先通過鍵盤或串口設(shè)置石英晶體的標稱頻率、起始和終止頻率、掃描步進頻率，STM32F103ZET6初始化AD9852后，按設(shè)定參數(shù)輸出相應(yīng)掃頻信號，掃頻信號經(jīng)過濾波、放大、跟隨等信號調(diào)理電路進入π網(wǎng)絡(luò)，π網(wǎng)絡(luò)輸出信號經(jīng)過放大限幅處理后反饋到STM32F103ZET6的12位A／D輸入端，在采集數(shù)據(jù)經(jīng)過中值濾波去除毛刺處理后保存數(shù)據(jù)并比較判斷是否為諧振點，如果不是，諧振點將頻率控制字FTW會加上一個步進頻率控制字DFTW，如此直到掃描到終止頻率為止，找出諧振頻率，最后根據(jù)公式算出石英晶體的諧振電阻。流程圖如圖5所示。

5 結(jié)束語
    針對石英晶體參數(shù)測試系統(tǒng)，介紹了利用STM32F103ZET6控制AD9852作為信號源的方法。這種方法結(jié)合了傳統(tǒng)PC機及普通單片機測試系統(tǒng)的優(yōu)點，避開了前兩者的缺點，可以快速地測試石英晶體電參數(shù)。通過實驗測試頻率控制在0～50 MHz時，測量的頻率與平均測量值的相對偏差為<0．5×10-6，在此區(qū)間測量得到的石英晶體串聯(lián)諧振頻率精度在2×10-6以內(nèi)，基本滿足系統(tǒng)設(shè)計要求。如果增加DDS參考頻率信號的穩(wěn)定度以及提高信號調(diào)理電路的抗干擾能力，可大幅提高石英晶體串聯(lián)諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻的精度，將對石英晶體電參數(shù)測試系統(tǒng)的應(yīng)用具有重大意義。