一種生產(chǎn)型測試儀應(yīng)有這種能力，即在各次測試間對測試儀硬件和DUT作必要修改時，仍保持?jǐn)?shù)字子系統(tǒng)的運行。它使測試儀能夠維持相對于DUT輸出的選通時序，避免在正式運行中的選通相位重調(diào)，節(jié)省了測試時間。

下一個重要的測試挑戰(zhàn)是尋找一個能處理多級不確定性數(shù)據(jù)包傳輸性能的方式。如圖3所示，在DUT的每個RF接收測試期間，測試儀都不知道每個包會在哪個測試循環(huán)中傳輸，包的類型會是什么，或者包的類型是否符合預(yù)期(例如，RFIC會生成一個主動的控制狀態(tài)消息)。

由于數(shù)據(jù)包的不確定性，在一款器件的每次RF接收測試期間，測試儀不知道每個包會在哪個測試循環(huán)中傳輸，包的類型是什么，或者包的類型是否符合預(yù)期。

馬上能看出，測試程序不能在數(shù)字測試模式中采用固定循環(huán)周期的選通隔離所需I/Q數(shù)據(jù)。同樣，對同步或頭的數(shù)字匹配回路不能以DigRF速度，足夠快地通過ATE儀器的流水線，儀器也不能完成對頭信息的實時識別和決策。

ATE策略的比較

傳統(tǒng)生產(chǎn)測試系統(tǒng)有靜態(tài)的選通時序以及簡單的比較功能(例如H、L、X、M、V、存儲)，因此它們自身并不具備強大的校準(zhǔn)能力，以應(yīng)對DigRF器件需要的非確定性。不過，這類測試儀中的數(shù)字儀器有所需要的數(shù)字捕捉能力，一般用于ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)輸出數(shù)據(jù)或DUT寄存器讀取操作。因此，你可以保留在這臺儀器上的投資，并且采用一種批量捕捉和后處理技術(shù)(block-capture-and-post-processing)應(yīng)對DigRF的RF接收測試挑戰(zhàn)。

對于RF接收測試，一般CW(連續(xù)波)測試需要1kB至4kB的I/Q采樣，而日益普遍的采用調(diào)制波形的系統(tǒng)級測試則使用16 kB至32 kB的I/Q采樣。注意轉(zhuǎn)換為實際的串行位：

1k I/Q = 1024 • [8 bits (I) + 8 bits (Q)] • 協(xié)議_開銷 = 串行位數(shù)

為了解決實時情況下的非確定性行為，測試儀必須提供專為DigRF 3G DUT與數(shù)字捕捉之間編碼的數(shù)字邏輯。其目標(biāo)是在數(shù)據(jù)到達(dá)測試儀的DSP(數(shù)字信號處理器)前，減輕捕捉時所出現(xiàn)的所有時序與數(shù)據(jù)不確定性問題。

一種測試選擇是在DIB(器件接口板)上設(shè)計一個FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)電路。這種方法可以用一片廉價器件提供定制邏輯，但也有三個麻煩：

•接口以及為電路提供支持信號將會非常復(fù)雜;

•在隔離與屏蔽能力有限情況下，在與這些敏感RF信號如此近的地方增加一個數(shù)字噪聲發(fā)生器，存在著更多的風(fēng)險;

•為每個器件負(fù)載板增加元件會使成本上升，延長測試開發(fā)時間。

作為另一種選擇，可以采用一臺提供嵌入實時功能的數(shù)字測試儀器，它可以在降低成本的同時簡化DIB復(fù)雜性。這種方案的缺點是缺乏測試工程師所需要的靈活性，因為他們要測試一組通信協(xié)議。只針對DigRF的解決方案是不實用的。

采用這種選擇時，當(dāng)測試程序知道有RF接收數(shù)據(jù)時，就能在RxData總線上捕捉到大塊數(shù)據(jù);這個塊必須放大到能可靠地捕捉足夠的數(shù)據(jù)包，從而有足夠數(shù)量的I/Q采樣用于后處理算法。數(shù)據(jù)從數(shù)字儀器的捕捉內(nèi)存送至DSP引擎，在那里由一個預(yù)處理算法執(zhí)行一個三步處理：

•找到每個包的起始索引;

•分析每個包的頭;

•順序地對有效載荷中的I/Q采樣進(jìn)行去交錯操作，并保存在新的獨立數(shù)組中。

一旦數(shù)據(jù)完成預(yù)處理，就可以對所需的I/Q數(shù)據(jù)集執(zhí)行用戶定制的處理算法，或?qū)?shù)據(jù)集輸出到其它ATE軟件工具，測試EVM(誤差矢量幅度)等特性。

這一方法的成功與否取決定于數(shù)據(jù)移動時間，以及所需處理步驟的效率。盡量減少總測試時間的關(guān)鍵是避免與主控PC的不必要交互，因為這種交互要求測試程序暫停DUT測試的執(zhí)行。如果測試儀具有邊做模式捕捉邊移動數(shù)據(jù)的能力，則向DSP傳輸數(shù)據(jù)的整個時間都被隱蔽在后臺，測試時間是零損失。

如果測試儀沒有此項功能，則測試工程師就必須尋找能減少移動數(shù)據(jù)量的方法。一個選擇是只捕捉失效數(shù)據(jù)，但這會在DSP中增加一個重構(gòu)原始數(shù)據(jù)的新處理步驟;單單這個不必要的步驟就會增加數(shù)毫秒的關(guān)鍵測試時間。

一個完整的DigRF解決方案需要完全在后臺執(zhí)行預(yù)處理算法和I/Q處理。因此，第三種選擇就需要測試儀架構(gòu)能支持執(zhí)行數(shù)字信號處理算法的專用處理器，一旦DUT信號捕捉完成，測試程序就能立即開始下一個測試的設(shè)置。另外，多址測試也需要這種后臺處理的并行式高效率。

表示這三種選擇對測試時間的可能影響。對第一種選擇，缺乏后臺處理而產(chǎn)生了一個串行的測試流，有最長的測試時間。第三種情況下，采用了實時處理，似乎最為理想，因為它用全后臺處理，以最高效的方式解決了測試挑戰(zhàn)。

這里顯示的三種測試選擇的測試時間開銷：(a) 串行執(zhí)行流，(b) 批量捕捉與后處理方案，(c) 實時處理。

不過，批量捕捉和后處理方案也可以有低的測試時間開銷，只要數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移是在后臺完成，并且高效地處理，沒有被浪費的步驟，并有獨立的多址并行處理器。有了適當(dāng)?shù)南到y(tǒng)能力，八址程序的預(yù)處理器時間可以低至數(shù)毫秒，足以隱藏在一個典型RF測試時間中。