低電壓下的試驗(yàn)

低電壓下測量空載損耗，在制造和運(yùn)行部門主要用于鐵芯裝配過程中的檢查，以及事故和大修后的檢查試驗(yàn)。主要目的是：檢查繞組有無金屬性匝間短路；并聯(lián)支路的匝數(shù)是否相同；線圈和分接開關(guān)的接線有無錯誤；磁路中鐵芯片間絕緣不良等缺陷。試驗(yàn)時(shí)所加電壓，通常選擇在5％～10％額定電壓范圍內(nèi)。低電壓下的空載試驗(yàn)，必須計(jì)及儀表損耗對測量結(jié)果的影響，而且測得數(shù)據(jù)主要用于相互比較，換算到額定電壓時(shí)誤差較大，可按照下式換算

P0=P1（UN/ U1）n（6-4）

式中U1——試驗(yàn)時(shí)所加電壓；Un——繞組額定電壓；

P1——電壓為 U’時(shí)測得的空載損耗；P0——相當(dāng)于額定電壓下的空載損耗；

n——指數(shù)，數(shù)值決定于鐵芯硅鋼片種類，熱軋的取1.8，冷軋的取1.9～2。

對于一般配電變壓器或容量在3200kVA以下的電力變壓器，對值可由圖6-4查出。

圖6-4對應(yīng)于不同的U1/ UN時(shí)的n值