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[導(dǎo)讀]   新型信號分析儀將大幅提升產(chǎn)測速度。產(chǎn)業(yè)界開發(fā)出的新型訊號分析儀,因同時內(nèi)建頻譜分析和向量訊號分析功能,故可讓測試工程師針對量測需求,彈性切換掃描模式,以妥善發(fā)揮兩種儀器的測試優(yōu)勢,并達(dá)

  新型信號分析儀將大幅提升產(chǎn)測速度。產(chǎn)業(yè)界開發(fā)出的新型訊號分析儀,因同時內(nèi)建頻譜分析和向量訊號分析功能,故可讓測試工程師針對量測需求,彈性切換掃描模式,以妥善發(fā)揮兩種儀器的測試優(yōu)勢,并達(dá)到最高的產(chǎn)出速度。

  執(zhí)行訊號分析儀高速自動化測試時,可能必須在速度、重復(fù)性與動態(tài)範(fàn)圍之間取捨。最新型的訊號分析儀如安捷倫(Agilent)X系列訊號分析儀,內(nèi)建了可當(dāng)成掃描調(diào)諧式頻譜分析儀或向量訊號分析儀使用的功能,使其能夠滿足許多嚴(yán)苛的應(yīng)用需求。本文將會探討這些特性,并說明如何優(yōu)化這些測試儀器以達(dá)到最高的產(chǎn)出速度。

  留意速度、重復(fù)性 與動態(tài)范圍

  在討論某特定量測的速度時,很難不一併討論量測的重復(fù)性。在大多數(shù)的情況下,都必須在最佳的重復(fù)性與量測時間之間做取捨。將量測值加以平均,可以改善量測結(jié)果的變異性,但卻會增加額外的測試時間。

  量測時間與重復(fù)性間的關(guān)係可以憑直覺了解,但量測時間與動態(tài)範(fàn)圍之間的關(guān)係有時卻會被忽略。量測低位準(zhǔn)訊號并降低解析頻寬而導(dǎo)致掃描時間的增加,便是一個很好的例子。有時候就只是建立個別的量測,并將它們串在一起而已,完全不管整體測試計畫。

  以下說明如何建立整體測試計畫,并考慮可達(dá)到最高產(chǎn)出的最佳速度、重復(fù)性與動態(tài)範(fàn)圍。

  審慎建立測試計劃

  建立整體測試計畫的第一步,就是執(zhí)行個別的量測,以決定最佳的速度、重復(fù)性與動態(tài)範(fàn)圍設(shè)定。

  量測的重復(fù)性,可藉由增加計算時可用的擷取資料數(shù)量來加以改善。增加量測時間,便可增加擷取的資料數(shù)量,進(jìn)而提高量測的重復(fù)性。在決定最佳的量測時間時,可以根據(jù)本身對動態(tài)範(fàn)圍的需求,來選擇其重復(fù)性擁有足夠的幅度可通過測試限制的量測時間。量測動態(tài)範(fàn)圍愈高,相鄰?fù)ǖ拦β?ACP)量測結(jié)果的可重復(fù)性就愈低,因此可達(dá)到較快的量測速度,但仍可通過測試限制(圖1)。

  

圖1 在X系列訊號分析儀中執(zhí)行快速的ACP量測

  改善動態(tài)範(fàn)圍可能會、也可能不會影響量測速度。舉例來說,如果想降低分析儀的本底雜訊(Noise Floor),可能必須先降低解析頻寬,如此將會增加掃描時間,進(jìn)而降低整體量測速度。如果可能的話,降低輸入衰減或啟動前置放大器,可擁有較佳的本底雜訊,而不會縮減測試時間。有些分析儀還會提供低雜訊路徑功能,這能夠改善本底雜訊而不會產(chǎn)生負(fù)面影響。

  決定好個別量測的最佳設(shè)定后,就可以開始建立整體測試計畫。首先,必須確定有哪些量測可以并行執(zhí)行。例如,在訊號分析儀中啟動誤差向量幅度(EVM)量測,然后使用功率表同時執(zhí)行功率量測。等功率表完成量測之后,就可以讀取EVM量測的結(jié)果。

  在大多數(shù)情況下,測試計畫都會包含多重迴圈,這是以不同的參數(shù)對待測裝置(DUT)執(zhí)行相同測試的一般需求。它們可能是不同的輸入或輸出位準(zhǔn),或是裝置電壓和電流。須將速度較快的量測置于最內(nèi)層迴圈,將較慢的量測置于外層迴圈,這一點(diǎn)非常重要,因為最內(nèi)層迴圈的執(zhí)行頻繁度會高于外層迴圈。

  進(jìn)一步改善測試時間

  幾乎所有的情況下,只要關(guān)閉顯示器就能夠改善量測時間。改善的程度取決于在整個量測過程中,顯示器更新所占的時間比例。

  使用合併量測,例如合併全球行動通訊系統(tǒng)(GSM)、增強(qiáng)數(shù)據(jù)率GSM演進(jìn)(EDGE)或?qū)掝l分碼多重存取(WCDMA)應(yīng)用,便可透過單一擷取來執(zhí)行多項量測。此合併量測應(yīng)用可以執(zhí)行EVM、輸出射頻頻譜(ORFS)、功率對時間(PVT)和發(fā)射功率量測,并根據(jù)單一擷取傳回量測結(jié)果,這樣的做法比個別執(zhí)行每一項量測要快得多。如果分析儀擁有先進(jìn)的標(biāo)記功能,就可以手動選擇量測,例如通道功率、ACP和相位雜訊(dBc),而不必變更目前的量測或模式。

  列舉掃描模式(List Sweep Mode)可以在不同的頻率下執(zhí)行多項零頻距量測,然后迅速傳回結(jié)果。這對于要量測已知訊號的諧波或第叁級截距(TOI)量測來說,是很好的選擇。

  許多頻譜和訊號分析儀都有內(nèi)建輸入輸出(I/O)系統(tǒng),可使用通用介面匯流排(GPIB)、Gigabit LAN或通用序列匯流排(USB)作為儀器介面。針對必須在測試儀器與電腦之間傳輸大量資料的應(yīng)用,必須使用Gigabit LAN或USB。

  善用新型分析儀一機(jī)兩用功能

  許多新型頻譜和訊號分析儀,都可當(dāng)成掃描調(diào)諧頻譜分析儀和向量訊號分析儀使用(在同臺儀器中)。在大多數(shù)情況下,使用掃描調(diào)諧頻譜分析儀來掃描寬頻距,會比執(zhí)行快速傅立葉轉(zhuǎn)換(FFT)掃描還要快。

  同樣地,使用FFT掃描,以窄解析頻寬來掃描窄頻距通常也會比較快。如果對量測時間較感興趣,可以從Sweep Type Rules功能表中選擇Best Speed,此時測試儀器會自動調(diào)整最佳的掃描時間設(shè)定。


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