開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗測試(連載六):損耗測試步驟要點(diǎn)

時(shí)間：2018-11-08 11:00:05

關(guān)鍵字：傳導(dǎo)損耗開關(guān)損耗測試步驟

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[導(dǎo)讀] 我們將介紹測試電源開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗的各個(gè)步驟。記住，經(jīng)過電源開關(guān)和磁性器件的開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗對系統(tǒng)整體損耗有著巨大影響，正因如此，應(yīng)盡可能精確地使這些損耗達(dá)到最小，這一點(diǎn)至關(guān)重要

我們將介紹測試電源開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗的各個(gè)步驟。

記住，經(jīng)過電源開關(guān)和磁性器件的開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗對系統(tǒng)整體損耗有著巨大影響，正因如此，應(yīng)盡可能精確地使這些損耗達(dá)到最小，這一點(diǎn)至關(guān)重要。

MSO5000B示波器測量開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗的實(shí)例。

首先，記住不要單純依賴產(chǎn)品技術(shù)資料，它們經(jīng)常會(huì)產(chǎn)生誤導(dǎo)，特別是在計(jì)算開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗時(shí)。此外，它們沒有考慮工作條件和電路寄生信號，也沒有提供完善的損耗信息。

在測試時(shí)，首先應(yīng)檢查整流器開關(guān)，如電路活動(dòng)和負(fù)載時(shí)MOSFETs、IGBTs和磁性器件的損耗。由于大多數(shù)磁性器件采用定制設(shè)計(jì)，如開關(guān)器件，因此最好在工作狀態(tài)下測試磁性器件。這一步可以正確分析其特性。

MSO5000B上顯示的磁性特性分析。

在測量開關(guān)損耗時(shí)，我們推薦使用MS05000B示波器，并配備相應(yīng)的電壓探頭和電流探頭。為實(shí)現(xiàn)最好的精度和可重復(fù)性，在進(jìn)行任何測量前應(yīng)先校正探頭時(shí)延，為了保證確定周期內(nèi)結(jié)果的準(zhǔn)確性，應(yīng)使用濾波功能和平均功能。

在使用示波器測量開關(guān)損耗時(shí)，先把電壓乘以電流。然后取啟動(dòng)或關(guān)閉過程中得到的功率波形的中間值。當(dāng)然，功率分析軟件可以大大簡化這個(gè)過程，因此我們強(qiáng)烈推薦使用功率分析軟件。

為動(dòng)態(tài)測試磁性功率損耗和磁性屬性，建議使用我們的DPOPWR軟件。這個(gè)軟件提供了自動(dòng)計(jì)算功能，在電路活動(dòng)時(shí)，可以測量高功率開關(guān)上的可重復(fù)開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗。

這是MSO5000B示波器測量的磁性損耗實(shí)例。

在一切就緒后，您可以轉(zhuǎn)向連載的第七篇，其將介紹效率和規(guī)范測試。