6月18日，美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)在長春開啟 2013 年 NI 車輛交通行業(yè)巡回研討會第一站。來自 NI 及其合作伙伴的行業(yè)專家就 NI 在汽車行業(yè)設計仿真和測試等領域的主要應用方向、技術方案和最新進展向到場的廣大汽車行業(yè)專家及工程師作了介紹。接下來，此次研討會還將在廣州、武漢和上海三個車輛行業(yè)重點城市舉行，敬請關注。

此次巡回研討會涉及的應用方向主要包括下列內容：

·In-Vehicle Data Logging 車載數(shù)據采集

·Rapid Control Prototyping 快速原型設計

·Hardware-in-the-Loop Simulation 硬件在環(huán)仿真

·Test Cell Measurement and Control 臺架測試與控制

·End-of-Line Test 零部件產線測試

·Infotainment Test 車載信息系統(tǒng)測試

·Data Management 測試數(shù)據管理

·Functional Safety 功能安全性設計

·Vehicle Electrification 新能源汽車測試

NI 在這幾站的巡回研討會中，會展示包括 PXI 模塊化測控平臺、CompactDAQ 數(shù)據采集平臺、便攜式數(shù)據采集和總線通訊產品等全系列相關產品和發(fā)動機控制器設計仿真與燃燒分析測試、硬件在環(huán)仿真等系統(tǒng)方案。

不論是汽車、工程機械還是軌道交通行業(yè)，市場上激烈的競爭迫使工程師們只有使用更加高效、可靠的解決方案，才能有足夠的靈活性，不斷滿足未來需求。如今，很多整車廠商與供應商都采用美國國家儀器平臺實現(xiàn)各種汽車車輛行業(yè)測控應用。從原型概念構思、硬件在環(huán)仿真到實車碰撞試驗、車載數(shù)據采集，在汽車研發(fā)生產的整個過程中，NI 通過為控制、仿真、設計和測試提供統(tǒng)一而通用平臺，有效節(jié)省了各個階段耗費的時間和成本。