安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布出版《X 參數(shù)：非線性射頻與微波元器件的表征、建模和設(shè)計(jì)》，該書闡述了安捷倫突破性的非線性 X 參數(shù)測量、建模和仿真技術(shù)。該書由劍橋大學(xué)出版社出版，包含多個(gè)應(yīng)用實(shí)例，是一本向讀者介紹 X 參數(shù)理論的權(quán)威指南。

該書作者為安捷倫科學(xué)家與工程師 David E. Root、Jan Verspecht、Jason Horn 和 Mihai Marcu，他們是 X 參數(shù)理論的原創(chuàng)發(fā)明人和開發(fā)者，并且這一強(qiáng)大理論被應(yīng)用于非線性射頻與微波元器件和系統(tǒng)。同時(shí)，該書的作者也是工業(yè)界和學(xué)術(shù)界公認(rèn)的建模、仿真和測量科學(xué)領(lǐng)域的權(quán)威專家。

本書為 X 參數(shù)技術(shù)奠定了基礎(chǔ)，并通過實(shí)際案例為讀者提供了有用的概算方法。這些概算方法顯著降低了非線性元器件和系統(tǒng)的測量、建模和設(shè)計(jì)復(fù)雜程度。本書還講解了如何利用 X 參數(shù)解決在非線性射頻與微波工程中的復(fù)雜難題。

此外，本書還包括實(shí)際案例分析、標(biāo)準(zhǔn)符號(hào)和表示方法的定義、詳細(xì)推導(dǎo)(參見附錄)、練習(xí)題及解答。該書內(nèi)容豐富，為那些希望了解射頻與微波工程學(xué)最新發(fā)展趨勢的研究人員、工程師、科學(xué)家和學(xué)生提供了權(quán)威參考。

《X 參數(shù)：非線性射頻與微波元器件的表征、建模和設(shè)計(jì)》可經(jīng)由亞馬遜或劍橋大學(xué)出版社訂購。