在嵌入式電子系統(tǒng)中的震蕩電路通常采用有源晶振和無(wú)源晶振。有源晶振有著電路簡(jiǎn)單，頻率準(zhǔn)確但要消耗些能量的特點(diǎn)。無(wú)源晶振可以不適用外部電源，用電容或者電阻配合晶振產(chǎn)生所需頻率的波形。還有一種是主從芯片配合使用，主芯片一個(gè)管腳利用定時(shí)計(jì)數(shù)器產(chǎn)生從芯片所需要的頻率波形，從芯片由此開(kāi)始工作。
在用示波器測(cè)試頻率較高的(10MHz)以上的方波時(shí)，如果示波器探頭的底線較長(zhǎng)，引起地線電感成分較大，從而導(dǎo)致容易發(fā)生諧振，觀察的結(jié)果為波形有很多振鈴現(xiàn)象。這時(shí)不妨將接地引線變短并且靠近測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試探頭。
在電子產(chǎn)品的EMC/EMI測(cè)試中，經(jīng)常會(huì)由于晶振電路的問(wèn)題導(dǎo)致測(cè)試不通過(guò)。這時(shí)需要采用示波器觀測(cè)下波形的圖像，一般會(huì)有振鈴和過(guò)沖的發(fā)生，那么一個(gè)簡(jiǎn)單的解決方案就是在振源和波形接收端串聯(lián)一個(gè)鐵氧磁珠，如果還不滿足測(cè)試要求，可并聯(lián)一小電容接地，以此減小寄生震蕩，使震蕩波形變鈍。當(dāng)波形效果不是很好，或者波形頻率更高，那么可以在串聯(lián)一10幾到200歐的阻尼電阻進(jìn)行波形的修正，如下圖所示。

在調(diào)試模擬電路時(shí)，特別是調(diào)試運(yùn)放電路時(shí)，如果一不小心使電路參數(shù)達(dá)到了震蕩條件，那么這個(gè)電路就震蕩起來(lái)。振蕩電路有RC和LC之分，有著較為明顯的區(qū)別。RC震蕩電路應(yīng)用在頻率不高的場(chǎng)所，而LC震蕩電路所產(chǎn)生的頻率較高。LC震蕩電路設(shè)計(jì)比較麻煩，低頻范圍使用的RC震蕩電流，高頻震蕩電路使用LC振蕩器。由于振蕩電路通常設(shè)置為0°開(kāi)始，360°停止。因此LC震蕩電路不能像RC電路那樣修改L或者C來(lái)改變頻率。
首先看一下經(jīng)典的RC震蕩電路：

該電路通過(guò)對(duì)C1的充電放電達(dá)到震蕩的目的，震蕩頻率為f=1/RC，在實(shí)際電路中，由于IC芯片的輸入電容的影響，獲得的頻率會(huì)比計(jì)算的變小，如果再考慮導(dǎo)線中的雜散電容，電容選取100pF比較可靠。
還需注意，TTL施密特電路的閾值電壓比CMOS的電壓低，引起了電容兩端電壓壓差較大;TTL邏輯IC端口的低輸入阻抗原因，造成端口電流較大，電阻需要kΩ級(jí)別的，以此來(lái)滿足IC芯片的輸出電流特性。
最常用的RC震蕩電路為555震蕩電路，典型電路如下

通過(guò)調(diào)整R1、 R2和C1來(lái)調(diào)整占空比和波形頻率(由于555芯片內(nèi)部集成比較器，通過(guò)比較2/3vcc和1/3vcc來(lái)完成占空比的調(diào)整)。由于555定時(shí)器具有輸出電流大，設(shè)計(jì)比較便捷，控制調(diào)節(jié)方便，因此多應(yīng)用在兒童玩具等消費(fèi)類電子上。
高頻震蕩電路中多使用LC元件和晶體管的組合，在實(shí)際的電路設(shè)計(jì)中，通常使用次級(jí)線圈作為反饋，并切當(dāng)匝比最佳時(shí)，從而保證電路的穩(wěn)定性。
比如下面電路，利用三極管的正反饋特性，充分利用LC的震蕩特性設(shè)計(jì)出一個(gè)自激震蕩的電路，仿真結(jié)果如圖。

如上圖所示，在協(xié)調(diào)電路中間設(shè)有抽頭，增加了次級(jí)線圈，便于設(shè)計(jì)的多樣性。另外，若實(shí)現(xiàn)高Q值得LC協(xié)調(diào)回路，只用一個(gè)晶體管的電路也能以波形失真小的信號(hào)進(jìn)行震蕩。
需要注意的是，LC震蕩電路應(yīng)用在超聲波振蕩器，高頻接近開(kāi)關(guān)和無(wú)線接收機(jī)等的震蕩電路中，應(yīng)用在震蕩頻率穩(wěn)定度要求不高的場(chǎng)合。
研究過(guò)嵌入式ARM系統(tǒng)的對(duì)PLL應(yīng)該有印象，不管是STM32或者cotex系列，都采用外部晶振，通過(guò)不同的PLL路徑進(jìn)行各個(gè)模塊頻率的合成，究其原因就是因?yàn)榍度胧较到y(tǒng)對(duì)震蕩電路精度要求較高，采用高精度晶振的震蕩形式。