國際汽車協(xié)會針對車用電子組件產(chǎn)品的操作溫度，從Grade0的-40～+150℃到Grade4的0～+70℃，共有五種等級。這一產(chǎn)品驗證規(guī)格針對車用IC功能及其所在位置的不同，提供了相當完整的定義，而這些詳盡的產(chǎn)品驗證規(guī)格對車用電子產(chǎn)品測試有很大的幫助。

“但是在可靠性方面，在IC工藝驗證規(guī)格上，國際汽車電子協(xié)會僅著重于晶圓制造可靠性測試的項目定義，并未清楚規(guī)范壓力條件及任何具體的數(shù)據(jù)化標準，而且相關的數(shù)據(jù)、測試及驗算方法也都不須主動提供。這給設計與制造合格的車用IC帶來了巨大難度?！?strong>臺積電車用電子專案處長鄭國棟指出。

因此，可靠性成為橫亙在中國IC廠商面前的一座大山。鄭國棟解釋：“一般來說，在典型的晶圓生產(chǎn)與全部測試流程完成后，缺陷值為200～500ppm；而當進一步完成對邏輯IC的掃描和功能測試、對嵌入式RAM的嵌入式自測試，以及速度測試、超壓測試、超溫測試、動態(tài)電壓強度測試、低壓測試等程序后，我們可以期望缺陷值下降到20～50ppm?！彼又硎?，“但是，這仍不能滿足汽車IC的零缺陷需求。如何能達到零缺陷呢？”鄭國棟問道？

臺積電“車用電子套裝服務”助中國IC實現(xiàn)零缺陷

鄭國棟表示，TSMC所開發(fā)的“車用電子套裝服務”，在前面測試的基礎上增加了零件平均測試（PAT）、統(tǒng)計良率界限（SYL）、統(tǒng)計測試結果界限（SBL）測試，以及更嚴格的控制程序、KLA和WAT測試，可以將缺陷值降至接近“零”的水平。他舉例道：比如臺積電采用0。25um工藝生產(chǎn)的車用嵌入式閃存，出貨已達540K晶圓片，缺陷率僅為0。07ppm；而采用0。18um生產(chǎn)的車用嵌入式閃存，出貨已超過20K晶圓片，缺陷值僅為0。05ppm。嵌入式閃存是車用MCU中重要模塊?！霸撥囉秒娮犹籽b服務包含更嚴密的工藝管制、組件層級的篩選界限、芯片良率測試報廢準則、更多的統(tǒng)計工藝控管以及特選的制造工具，將這些措施搭配客戶的測試覆蓋率及測試方法，更能減少實際行車的故障率?！彼忉專爸翱蛻羰悄玫叫酒蟛拍苓M行測試，而TSMC所提出的工藝驗證規(guī)格則是從源頭就幫客戶把關，明確定義且數(shù)據(jù)化各項芯片的驗證規(guī)格，更能確?？蛻舻碾娮咏M件壽命大幅超越車輛的使用年限。因而，這套服務也受到我們客戶的客戶的歡迎?！?/FONT>