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Tektronix自動單鍵測試方案跨越SAS/SATA標準

時間：2010-02-05 06:31:00

關(guān)鍵字： SAS SATA TEKTRONIX 測試方案

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[導讀]Tektronix新推出自動兼容性和測試自動化解決方案TekExpress，跨越了SATA和SAS(串行連接SCSI)標準，包括由UNH-IOL和SCSI商業(yè)協(xié)會(STA)所定義廣泛的SAS兼容性測試，儲存系統(tǒng)設(shè)計人員只需按一個鍵，即能完成這些測試

Tektronix新推出自動兼容性和測試自動化解決方案TekExpress，跨越了SATA和SAS(串行連接SCSI)標準，包括由UNH-IOL和SCSI商業(yè)協(xié)會(STA)所定義廣泛的SAS兼容性測試，儲存系統(tǒng)設(shè)計人員只需按一個鍵，即能完成這些測試，確保準確和一致的結(jié)果，可節(jié)省設(shè)定時間，不會浪費時間在重復的手動測試。
Tektronix表示，SAS已經(jīng)成為企業(yè)服務器環(huán)境中新興的主要儲存接口，比SATA或前一代的并列接口提供更高的擴充性、速度及可靠性。為6Gb/s SAS設(shè)計進行發(fā)射器驗證和除錯時，需要準確的抖動和眼狀圖分析，以及差動S參數(shù)特性分析。隨著6Gb/s SAS支持的加入，TekExpress自動測試軟件滿足了不同領(lǐng)域的測試需求，涵蓋范圍從硅晶供貨商、驅(qū)動器制造商到OEM系統(tǒng)商。

適用于SAS標準的TekExpress軟件，提供廣泛的物理層發(fā)射器和信道量測功能，讓資深工程師不需要密切監(jiān)測測試規(guī)格的開發(fā)。相反地，所有必要的測試已經(jīng)在軟件中得到充分執(zhí)行，而且可立即存取。6Gb/s SAS自動兼容性解決方案：第一組──頻外(OOB)量測；第二組──Tx展頻頻率(SSC)需求；第三組──Tx NRZ數(shù)據(jù)發(fā)訊號要求和交流參數(shù)量測。

Tektronix提供3Gb/s SAS和6Gb/s SAS兼容性測試所需的高效能示波器和訊號產(chǎn)生器，包括超過10GHz帶寬的實時示波器(DSA70000系列數(shù)字串行分析儀)，及可進行接收器測試和全自動化測試的選配高速串行訊號產(chǎn)生器(AWG7000系列任意波形產(chǎn)生器)。

只需使用TekExpress軟件即可設(shè)定并執(zhí)行SAS和SATA兼容性測試，測試儀器便可透過TekExpress自動化平臺系統(tǒng)監(jiān)控所有狀況。TekExpress圖形用戶接口提供一個可供設(shè)定和測試的常見直覺式工作流程，一旦設(shè)定好測試臺，待測裝置也連接妥當，用戶只要按下「執(zhí)行」按鈕，即可以選定的SAS或SATA測試套件執(zhí)行量測，自動產(chǎn)生詳細的HTML報告和計分卡。

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