每當(dāng)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)界要預(yù)測未來，摩爾定律(Moore’sLaw)一直是個(gè)雖受時(shí)間磨損但總被提及的指標(biāo)；但你可知道，其實(shí)在摩爾定律之外，還有許多SKC定律(Sinclair-Klepper-Cohen’sLaw)定律、哥達(dá)德定律(Goddard’sLaw)以及萊特定律(Wright’Law)的其他類似定律(注)？

最近美國麻省理工學(xué)院(MIT)針對以上定律在短期性與長期性預(yù)測方面的準(zhǔn)確度做了一番評比，并表示他們的分析成果將改善未來有關(guān)技術(shù)演變、候選技術(shù)以及因應(yīng)全球性變化之策略的預(yù)測準(zhǔn)確度。

MIT發(fā)現(xiàn)，整體看來，長期性預(yù)測方面表現(xiàn)最佳的是萊特定律，其準(zhǔn)確度可超越摩爾定律，因?yàn)槠浣Y(jié)構(gòu)視野來自于產(chǎn)量(units-of-production)，而非絕對時(shí)間；舉例來說，摩爾定律預(yù)測每18個(gè)月半導(dǎo)體元件電晶體密度將加倍，但萊特定律則預(yù)測，生產(chǎn)量數(shù)字增加，生產(chǎn)成本就會(huì)下降(無論其中花了多久時(shí)間)。

根據(jù)MIT研究，萊特定律──取航太工程師Theodore"T.P."Wright之名──能在長期性預(yù)測方面更具準(zhǔn)確度的原因，是因?yàn)槟茏詣?dòng)適應(yīng)經(jīng)濟(jì)成長率。

MIT以62種不同技術(shù)產(chǎn)品的實(shí)際成本以及產(chǎn)量等歷史數(shù)據(jù)，包括電腦、通訊系統(tǒng)、太陽能電池、航空器與汽車…等等，代入萊特定律以及哥達(dá)德定律(認(rèn)為進(jìn)步只受經(jīng)濟(jì)規(guī)模的驅(qū)動(dòng))、SKC定律(是萊特定律與哥達(dá)德定律的結(jié)合)等其他定律，再利用歷史數(shù)據(jù)可倒敘檢視的特性來評比每種定律的精確度。

MIT對各種預(yù)測定律的評比結(jié)果顯示，萊特定律在長期性預(yù)測方面的準(zhǔn)確度表現(xiàn)最好

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（來源：MIT）

MIT表示，其研究成果顯示只要謹(jǐn)慎使用歷史數(shù)據(jù)，未來技術(shù)的進(jìn)展是可預(yù)測的，每年的典型精確度可達(dá)到約2.5%；該研究是由MIT教授JessikaTrancik、圣菲研究所(SantaFeInstitute)教授BelaNagy，牛津大學(xué)(UniversityofOxford)教授DoyneFarmer以及St.JohnOs學(xué)院教授QuanBu共同進(jìn)行。