由半導體測試公司惠瑞捷舉辦的用戶組會議暨合作伙伴大會“2011VOICE技術會議”已經(jīng)展開國際論文征稿活動。第五屆年度VOICE會議將在2011年4月19日-21日，位于加利福尼亞州圣克魯斯的查米納德度假村溫泉勝地(Chaminade Resort & Spa)召開，大會將舉辦技術演示、研討會和小組討論，涵蓋議題如設備的進步、測試技術和方法論、工程效益和性價比高的生產(chǎn)批量測試解決方案，此外還有一場供應商博覽會，與會者可以了解惠瑞捷最新的產(chǎn)品和服務及其來自世界各地的解決方案合作伙伴。

“除了技術介紹，VOICE還提供了一個合作論壇，可以交流最新的半導體測試技術和惠瑞捷V93000、V101和V6000平臺的最佳實踐方面的觀點?！?惠瑞捷資深應用工程師暨會議指導委員會主席Rich Lathrop說，“與會者有機會通過直接與測試設備研發(fā)專家的互動，搶先一窺SOC、閃存、DRAM和高速存儲器IC卡的最新高成品率測試解決方案，以及全晶圓探針卡解決方案。”

此次為期3天的會議提供了多種可供選擇的教育課程，從以產(chǎn)品為重點的教程和實踐動手產(chǎn)品展示，到討論新興的設備技術、全球性行業(yè)標準，以及集成設備制造商(IDM)、無晶圓半導體公司和外包組裝與測試(OSAT)廠在未來對同行和技術專家的測試要求。

今年的征稿為有興趣的演講人提供了三種參與方式?，F(xiàn)已開始接受摘要，有30分鐘的短演講、45分鐘的長篇演講或參與專家小組討論，討論的技術主題如下：

●硬件和Loadboard解決方案，包括最新的工具和設計發(fā)展趨勢

(Hardware and Loadboard Solutions, including the latest instruments and trends in design)

●測試技術和方法論，涉及新技術和新的解決方案

(Test Techniques and Methodologies, covering new technologies and new Solutions)

●測試工程的有效性，包括開發(fā)高效的測試方案的提示

(Test Engineering Effectiveness, including tips on developing efficient test programs)

●生產(chǎn)測試，關注性價比高和吞吐量最優(yōu)化的解決方案

(Production Test, addressing cost-effective and throughput-optimized solutions)

投稿請訪問www.verigy.com/go/VOICE2011 。投稿的截止日期為11月15日，論文被錄用的演講人將在2011年1月收到通知。