第五屆惠瑞捷年度VOICE會(huì)議即將召開(kāi)
“除了技術(shù)介紹,VOICE還提供了一個(gè)合作論壇,可以交流最新的半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)和惠瑞捷V93000、V101和V6000平臺(tái)的最佳實(shí)踐方面的觀點(diǎn)?!?惠瑞捷資深應(yīng)用工程師暨會(huì)議指導(dǎo)委員會(huì)主席Rich Lathrop說(shuō),“與會(huì)者有機(jī)會(huì)通過(guò)直接與測(cè)試設(shè)備研發(fā)專家的互動(dòng),搶先一窺SOC、閃存、DRAM和高速存儲(chǔ)器IC卡的最新高成品率測(cè)試解決方案,以及全晶圓探針卡解決方案?!?/p>
此次為期3天的會(huì)議提供了多種可供選擇的教育課程,從以產(chǎn)品為重點(diǎn)的教程和實(shí)踐動(dòng)手產(chǎn)品展示,到討論新興的設(shè)備技術(shù)、全球性行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),以及集成設(shè)備制造商(IDM)、無(wú)晶圓半導(dǎo)體公司和外包組裝與測(cè)試(OSAT)廠在未來(lái)對(duì)同行和技術(shù)專家的測(cè)試要求。
今年的征稿為有興趣的演講人提供了三種參與方式。現(xiàn)已開(kāi)始接受摘要,有30分鐘的短演講、45分鐘的長(zhǎng)篇演講或參與專家小組討論,討論的技術(shù)主題如下:
●硬件和Loadboard解決方案,包括最新的工具和設(shè)計(jì)發(fā)展趨勢(shì)
(Hardware and Loadboard Solutions, including the latest instruments and trends in design)
●測(cè)試技術(shù)和方法論,涉及新技術(shù)和新的解決方案
(Test Techniques and Methodologies, covering new technologies and new Solutions)
●測(cè)試工程的有效性,包括開(kāi)發(fā)高效的測(cè)試方案的提示
(Test Engineering Effectiveness, including tips on developing efficient test programs)
●生產(chǎn)測(cè)試,關(guān)注性價(jià)比高和吞吐量最優(yōu)化的解決方案
(Production Test, addressing cost-effective and throughput-optimized solutions)
投稿請(qǐng)?jiān)L問(wèn)www.verigy.com/go/VOICE2011 。投稿的截止日期為11月15日,論文被錄用的演講人將在2011年1月收到通知。