對于量測業(yè)者來說，測試系統(tǒng)新舊版本相容性是新版本能否成功的關(guān)建之一。量測業(yè)者吉時(shí)利致力于讓新測試系統(tǒng)高度相容于較早的系統(tǒng)，以支援吉時(shí)利參數(shù)測試客戶。推出的新版本測試環(huán)境（KTE）半導(dǎo)體測試軟體--KTE V5.3，是專為配合程式控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測試系統(tǒng)使用所設(shè)計(jì)。預(yù)估可保持高度的軟體相容性可使轉(zhuǎn)移路徑更為平順，并能保護(hù)晶圓廠的測試軟體投資。

測試開發(fā)和執(zhí)行軟體平臺KTE，全球有數(shù)百家半導(dǎo)體晶圓廠采用。吉時(shí)利進(jìn)一步將KTE測試開發(fā)和執(zhí)行環(huán)境擴(kuò)展至S530系統(tǒng)。S530儀器提供程式控制監(jiān)控等參數(shù)測試應(yīng)用要求的高速和廣泛測量范圍?，F(xiàn)在，吉時(shí)利的S530測試系統(tǒng)利用這個(gè)經(jīng)過業(yè)界長期驗(yàn)證的軟體平臺在最嚴(yán)苛的生產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)了靈活的測試計(jì)劃開發(fā)和高速測試。

對于已經(jīng)使用KTE較早版本的客戶來說，新版本加速并簡化了測試系統(tǒng)到測試平臺的整合。首先，同一種測試方法和方案適用于所有吉時(shí)利自動(dòng)參數(shù)測試系統(tǒng)，縮短了跨系統(tǒng)的學(xué)習(xí)過程，而且在測試平臺上增加新的高速系統(tǒng)，或取代較早版本的的轉(zhuǎn)換路徑。再者，使用者只需重新編譯和重新建立舊有的用戶資料庫，只需進(jìn)行少量除錯(cuò)，就能在新版本繼續(xù)使用這些資料庫。

再者， KTE V5.3簡化了建立條件測試順序的新用戶擷取點(diǎn)（user access point；UAP）原始碼，并制訂新版本的系統(tǒng)工作流程。為早期吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的UAP原始碼在少量的調(diào)整下，適用于新系統(tǒng)。而所有 KTE工具對吉時(shí)利所有參數(shù)測試平臺都提供完全相同的功能。也就是說，現(xiàn)有吉時(shí)利S400和S600系列參數(shù)測試儀用戶，可以將現(xiàn)有的測量程式輕松轉(zhuǎn)移到S530，而且現(xiàn)有測試儀和新的S530系統(tǒng)可以共用同一個(gè)測試計(jì)劃。

S530的KTE適合在標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)PC的Linux作業(yè)系統(tǒng)上運(yùn)作，運(yùn)作KTE V5.3的S530系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)程式控制監(jiān)控、過程可靠監(jiān)控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。