安捷倫科技公司日前宣布2011 年安捷倫測試測量大會亞洲巡展之旅在繼西安、上海、北京站的成功舉辦后，于9月8日在深圳成功落下帷幕。安捷倫作為業(yè)界領軍企業(yè)，將不斷引領先進科技，為廣大客戶呈現(xiàn)最前沿最全面的技術解決方案。

本次大會的主題是——“綻放電子測量的魅力” 。大會所涉及的產品及解決方案從智能手機，到平板電腦；從移動通信測試大全，到元器件與材料測試的深入解析；從毫米波應用的尖端測試設備，到靈活配置的新型模塊化方案；從真實硬件模擬帶寬高達32GHz的高性能實時示波器、DANL可逼近到-172dBm理論極限值的高端頻譜分析儀，再到基于PNA-X的非線性網(wǎng)絡測試劃時代的創(chuàng)新產品；從寬帶復雜信號產生與分析，到高速數(shù)字總線的測試方案……為所有與會者提供了一個飽覽安捷倫科技解決方案與最新產品的絕佳機會。安捷倫科技還力邀業(yè)界權威講師與安捷倫科技全球范圍各應用領域內的資深技術專家、經驗豐富工程師共同現(xiàn)場講解與演示，全方位的展現(xiàn)了電子測試測量的魅力。

另外在此次大會上，安捷倫還發(fā)布了PXI嵌入式控制器，高達100MHz帶寬的高速數(shù)據(jù)流盤解決方案、PXT LTE無線終端測試儀和矢量網(wǎng)絡分析儀ENA增強型時域分析軟件TDR的新功能。
為了滿足不同的測試需求，安捷倫在提供傳統(tǒng)儀器的同時推出了各種模塊化產品。此次新產品的發(fā)布進一步豐富了模塊化產品系列（ PXI 和AXI-e），并為客戶搭建新一代測試平臺和解決方案提供更多的選擇。

目前安捷倫模塊化產品已涵蓋機箱，嵌入式控制器，高速DMM, 系列開關,高速數(shù)采和數(shù)字I/O等模塊，以及業(yè)界首款超寬帶微波矢量分析儀（250MHz分析帶寬，或自行搭建1.5GHz帶寬的分析系統(tǒng)），寬帶放大器數(shù)字預失真（DPD）和高速數(shù)據(jù)流盤解決方案。

PXT是安捷倫 LTE 終端測試領域的一項重大突破。它提供靈活的基站/網(wǎng)絡仿真和射頻參數(shù)測試功能，是安捷倫針對 LTE 開發(fā)和驗證的測試產品系列中又一出色的測試解決方案。PXT支持過往所有 3GPP LTE 版本的技術規(guī)范，具備用于測量、校準和驗證的全套 LTE 射頻測量功能。PXT 具有最大的靈活性，可配置各種連接和網(wǎng)絡參數(shù)，進行測量和調試所設計的協(xié)議和數(shù)據(jù)處理能力，包括下行 2x2 MIMO 和切換。通過 LTE 消息編輯器應用軟件, PXT還可靈活地配置詳細的信令控制參數(shù)?？蛇x的應用軟件支持更詳細的協(xié)議和應用測試及分析。

基于網(wǎng)絡分析儀ENA的TDR選件是安捷倫在元器件測量領域又一重大突破。秉承VNA 體系結構的全部技術優(yōu)勢，安捷倫E5071C 選件TDR 能夠以最高精度快速完成實時TDR 測量。它具有高達3000 V (典型值) 的ESD 容限電壓和絲毫無損的射頻測量性能，因此可以確保產品更加可靠，降低維護費用。新推出的“先進波形分析”功能可以在線纜和連接器測試過程中，例如HDMI 線纜一致性測試，提供真實環(huán)境模擬，在測量眼圖時提供抖動注入；同時在被測件信號輸入端進行幅度加強，輸出端進行信號均衡，以增強眼圖的開合度?！癏OT TDR”功能在進行T/R測試過程中，例如在SATA認證測試中測試Tx/Rx器件的回波損耗時，自動的屏蔽不合適的信號測量點，以阻止信號多次反射引起的眼圖閉合，即發(fā)射信號多次反射導致的測量誤差。更重要的是，這兩個新的功能是ENA TDR選件上完全免費的升級，極大的降低了利用傳統(tǒng)示波器進行同樣TDR測試的成本。

除此之外，大會現(xiàn)場的產品展示環(huán)節(jié)（Live Demo Fair），更為與會者提供與研發(fā)支持專家更直接、近距離交流與討論的機會，親自體驗先進解決方案帶來的快捷與便利。

2011安捷倫測試測量大會深圳站現(xiàn)場圖片


13個內容豐富的產品演示展臺


安捷倫資深技術專家向參會者介紹最新解決方案