國內(nèi)EDA的機遇與挑戰(zhàn) EDA工具需“由點及面”
當前半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)產(chǎn)品及工藝的發(fā)展,將引起功耗、設(shè)計復(fù)雜度、器件機理、電遷移、設(shè)計方法學(xué)、研發(fā)投入等方面的深刻變化,這些變化將會為EDA工具帶來挑戰(zhàn)和機遇。隨著工藝的提升和設(shè)計方法的改善,芯片性能在近幾年得到大幅度提高。除了工作頻率變得越來越高,集成了眾多模塊的線上系統(tǒng)(SoC)也使芯片設(shè)計變得越來越復(fù)雜。同時,隨著移動產(chǎn)品的快速發(fā)展,低功耗設(shè)計變得日益重要,這對EDA工具提出了不小的挑戰(zhàn)。
半導(dǎo)體工藝技術(shù)持續(xù)進步給設(shè)計和EDA工具帶來了深遠影響。在20nm制程下,一顆移動應(yīng)用的芯片包含超過10億個晶體管,EDA工具面臨著更為復(fù)雜的驗證和DFM挑戰(zhàn),并需要支持double patterning等新技術(shù)的應(yīng)用。隨著FinFET、3D IC等新工藝的應(yīng)用,EDA需要進行器件機理研究及復(fù)雜模型的精準化及標準化。電遷移引起的效應(yīng)也將是EDA工具需重點攻克的難題。
對于EDA產(chǎn)業(yè)面臨的機遇和挑戰(zhàn),國外EDA大廠針對先進工藝,在3D IC技術(shù)、低功耗設(shè)計以及大規(guī)模的協(xié)同驗證等方面加大了研發(fā)投入和并購力度。國內(nèi)的EDA產(chǎn)業(yè)與國外先進水平還有著不小的差距,在面對挑戰(zhàn)時,要敢于迎接挑戰(zhàn),堅持自主創(chuàng)新的道路。國內(nèi)EDA產(chǎn)業(yè)應(yīng)當與代工企業(yè)和設(shè)計公司緊密結(jié)合,相互促進共同成長,對于最先進的工藝和技術(shù)重點攻關(guān),實現(xiàn)點上的突破。
同時,國內(nèi)EDA公司一定不能拘泥于個別的點工具,平臺化也非常重要。國內(nèi)EDA產(chǎn)品要形成自己的完整解決方案,為國內(nèi)外的設(shè)計公司和代工企業(yè)提供有力的支持,而不是僅僅起到點綴作用。此外,隨著SoC的發(fā)展,IP的重要性日益凸顯,提供與IP相關(guān)的服務(wù)與驗證工具也是國內(nèi)EDA產(chǎn)業(yè)應(yīng)當考慮的發(fā)展方向。
隨著芯片的集成度越來越高以及SoC應(yīng)用不斷拓寬,也需要EDA公司有能力提供涵蓋數(shù)字、模擬、混合信號、制造、軟件等經(jīng)過驗證的綜合設(shè)計流程和可靠的設(shè)計工具。新機遇新挑戰(zhàn)的不斷涌現(xiàn),也給EDA產(chǎn)業(yè)發(fā)展帶來了機遇,但技術(shù)開發(fā)及驗證難度也在不斷增加,隨之增加的是EDA的研發(fā)投入。與65nm相比,研發(fā)投入可能會增加一個量級,這是很多初創(chuàng)公司難以承受的,需要更多的支持。