新思科技的綜合良率學習平臺加速了三星及其無晶圓廠用戶的新品量產

加州山景城2019年8月7日 /美通社/ --

重點：

• 三星與新思科技的合作實現了10/8/7納米產品的快速量產，并為5/4/3納米技術節(jié)點的良率奠定了基礎
• 安全的解決方案確保三星及其無晶圓廠用戶的設計和晶圓廠信息機密性的同時，共同確定系統(tǒng)性的良率限制因素
• Yield Explorer平臺使用產品設計、晶圓廠和測試數據，以及強大的數據挖掘和可視化技術，快速準確地識別出導致良率損失的主要原因

新思科技 （Synopsys, Inc.，納斯達克股票代碼：SNPS）近日宣布成功在三星先進FinFET技術節(jié)點上部署新思科技Yield Explorer®良率學習平臺，用于加速新產品的量產。使用Yield Explorer中的安全數據交換機制，三星能夠與用戶共享用于良率分析的數據，如芯片設計、晶圓廠和測試的數據，同時維護各方專有信息的機密性。

三星電子(Samsung Electronics)代工廠設計技術團隊副總裁JY Choi表示：“用戶希望我們提供快速、低成本的制造技術，以便讓他們的產品滿足苛刻的市場需求。使用了Yield Explorer的安全協(xié)作模式可極大地幫助我們建立與關鍵用戶的有效合作，以快速實現目標生產良率。我們期待在加速5納米技術節(jié)點產品量產的過程中，擴大與新思科技的合作。”

新思科技半導體事業(yè)部全球總經理Howard Ko表示：“良率分析是一項復雜的任務，需要來自不同組織的團隊之間的協(xié)作。確定良率限制因素的速度和準確性對于實現高成本效益、高產量生產至關重要。我們很高興與三星合作部署Yield Explorer，促進其與用戶的合作，并加速新產品量產。”

新思科技Yield Explorer是一個綜合的良率學習平臺，產品和良率工程團隊使用來自不同來源的數據進行根本原因分析。這些來源包括：

• 產品設計數據：布局、網表、測試診斷、靜態(tài)時序分析
• 晶圓廠數據：檢驗、計量、晶圓允收測試(WAT)
• 產品測試數據：Bin、參數化、系統(tǒng)級測試

Yield Explorer中強大的分析引擎使用先進的機器學習和數據可視化技術，以快速的周轉時間交付高質量的結果。

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