全球電子設(shè)計自動化軟件工具（EDA）廠商Synopsys近日宣布，三洋半導(dǎo)體公司采用Synopsys的DFT MAX掃描壓縮自動解決方案，大大提高了其數(shù)字設(shè)計的測試質(zhì)量。憑借DFT MAX工具，三洋的工程師們將測試的數(shù)據(jù)總量降低了90％以上，實現(xiàn)了以更短的時間完成高質(zhì)量測試的目標(biāo)。DFT MAX工具充分利用Synopsys Galaxy™ 設(shè)計工具集內(nèi)部的物理識別連接，幫助設(shè)計者避免成本較高的迭代測試，更快實現(xiàn)設(shè)計收斂。
 
    三洋的工程師們要求靈活地生成更多的測試模式，并在必要時，對大規(guī)模集成電路（LSI）進行最高質(zhì)量的快速的測試。但他們發(fā)現(xiàn)，如果沒有有效的方法來壓縮數(shù)據(jù)以適應(yīng)測試程序的存儲限制，提高測試質(zhì)量將導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)量劇烈增加。
 
    三洋系統(tǒng)解決方案事業(yè)部總經(jīng)理Hiroyuki Oike 先生表示：“我們發(fā)現(xiàn)，將DFT MAX工具添加到我們的Galaxy設(shè)計平臺流程中，可以滿足我們對高質(zhì)量目標(biāo)的追求。在全面評估了DFT MAX的片上壓縮功能之后，我們決定將其應(yīng)用于未來所有的LSI設(shè)計當(dāng)中?！?
 
    三洋設(shè)計人員需要的解決方案不僅要滿足他們對數(shù)據(jù)壓縮的需求，同時還要像傳統(tǒng)的測試一樣實施起來簡單易行。DFT MAX不僅簡便易用，同時還可以與Galaxy設(shè)計平臺中的其它流程有效實現(xiàn)無縫整合，這大大加快了三洋設(shè)計人員向DFT MAX遷移的速度，并在兩個LSI數(shù)字設(shè)計中將測試數(shù)據(jù)量降低了90％以上。這兩個LSI設(shè)計分別為400萬門級的通信處理芯片和200萬門級的數(shù)字圖像處理芯片。對于這兩種設(shè)計，DFT MAX僅需要追加0.1％和0.2％的門級用于壓縮處理。
 
    三洋設(shè)計工程部的數(shù)字設(shè)計科長Yuji Shiine先生表示：“我們之所以采用DFT MAX，是因為我們可以改善復(fù)雜設(shè)計的質(zhì)量，縮短測試時間，并減少測試數(shù)據(jù)量。DFT MAX可以輕松地整合到我們原有的DFT Compiler™ 流程中，遷移非常簡便?？傊?，我們在今后將同時應(yīng)用DFT MAX及其它Galaxy解決方案中的工具，以持續(xù)改善我們產(chǎn)品的質(zhì)量和技術(shù)差異性?！?nbsp;
  
    Synopsys芯片設(shè)計解決方案部測試營銷總監(jiān)Graham Etchells先生認(rèn)為：“三洋采用DFT MAX工具，使我們確實看到了市場對簡便易用、快速實施并且不影響芯片物理實現(xiàn)的壓縮解決方案的需求，由于DFT MAX的簡便易用和壓縮結(jié)果高可預(yù)知的特點，能夠為我們的客戶立即帶來實質(zhì)性的投資回報。此外，由于DFT MAX在Galaxy工具集中具有的物理識別連接的優(yōu)勢，其在芯片的物理實現(xiàn)方面所產(chǎn)生的時間和空間影響微乎其微，從而實現(xiàn)了快速的設(shè)計收斂。比較而言，需要連續(xù)邏輯的壓縮架構(gòu)則需要更多的迭代來完成時序收斂，因而延長了整個設(shè)計周期?！?