深入洞悉，開啟測試測量新視野——安捷倫科技高調(diào)亮相EDI Con 2014
2014年4月8日-10日在北京舉辦的第二屆電子設(shè)計創(chuàng)新會議(EDI CON 2014)上，安捷倫科技將再次作為此盛會的最高級別贊助商(首席贊助商)高調(diào)亮相EDI Con 2014。
作為全球領(lǐng)先的測試測量公司，安捷倫將積極參與此行業(yè)盛會的各個環(huán)節(jié)，如技術(shù)論壇，研討會，分組會議等，全面展現(xiàn)安捷倫在電子通信測試測量領(lǐng)域的領(lǐng)先測試應(yīng)用與方案。來自全球的安捷倫行業(yè)專家將與您面對面分享RF、微波和高速數(shù)字測試的最新技術(shù)與應(yīng)用，共有28個專題講座，兩個分組會議和8個主題展示，全面覆蓋安捷倫在毫米波太赫茲、寬帶通信、元器件測試、高速數(shù)字測試等領(lǐng)域的完整解決方案。
注冊參觀安捷倫展位(501號展位)可獲取精美禮品一份，并可參與幸運抽獎!28個專題講座日程安排如下：
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日期與時間 |
會場 |
主題 |
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4月8日 星期二 下午時段 |
01:30 – 01:50 |
系統(tǒng)工程 |
動態(tài)頻率選擇(DFS)雷達(dá)的測試需求 |
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01:50 – 02:10 |
商業(yè)資源 |
基于數(shù)字化儀的多天線相控陣相參應(yīng)用測試 |
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02:15 – 02:35 |
設(shè)計 |
10G-32G數(shù)字系統(tǒng)中的信號完整性測量技術(shù) |
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02:35 – 03:00 |
28Gb/s SERDES 通道特性表征的先進(jìn)技術(shù) |
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4月9日 星期三 上午時段 |
08:30 – 08:50 |
測量與建模 |
自動夾具移除技術(shù)（AFR）的演進(jìn) |
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08:50 – 09:10 |
現(xiàn)代寬帶收發(fā)器的最新校準(zhǔn)需求 |
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08:35 – 09:55 |
系統(tǒng)級 測量/建模 |
采用輻射兩步法的OTA測試來評估MIMO器件的性能 |
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10:35 – 10:55 |
測量與建模 |
關(guān)于若干氮化鎵基高電子遷移率晶體管的建模方法 |
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10:55 – 11:15 |
設(shè)計 |
使用簡化實頻技術(shù)設(shè)計寬帶功放 |
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10:55 – 11:15 |
系統(tǒng)工程 |
理解藍(lán)牙的低功耗及其測試方案 |
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10:20 – 11:40 |
測量與建模 |
DPD模型的性能比較及復(fù)雜度簡化 |
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10:40 – 12:00 |
PA設(shè)計中包絡(luò)跟蹤技術(shù)的集成仿真流程 |
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4月9日 星期三 下午時段 |
01:30 – 01:50 |
系統(tǒng)級 測量/建模 |
使用矢量信號分析功能擴(kuò)展實時頻譜分析應(yīng)用 |
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04:15 – 05:00 |
測量與建模 |
使用自定義模塊化儀器與系統(tǒng)設(shè)計工具確保更快的原型設(shè)計 |
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4月10日 星期四 上午時段 |
08:30 – 08:50 |
系統(tǒng)工程 |
應(yīng)用數(shù)據(jù)壓縮方法產(chǎn)生最高帶寬雷達(dá)脈沖流信號 |
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08:30 – 08:50 |
商業(yè)資源 |
ETSI MIMO 無線設(shè)備監(jiān)管測試系統(tǒng) |
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09:50 – 10:10 |
RF/MW 測量與建模 |
基于Y因子噪聲系數(shù)測量不確定度的再分析 |
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09:15 – 09:35 |
RF/MW 測量與建模 |
Y因子與冷源法測量噪聲系數(shù)的對比 |
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09:15 – 09:35 |
系統(tǒng)工程 |
MIMO-OFDM 發(fā)射機(jī)的I/Q不匹配測量 |
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09:15 – 09:35 |
商業(yè)資源 |
寬帶功放設(shè)計與寬帶DPD測量 |
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09:35 – 09:55 |
EMC/EMI & HSD 測量與建模 |
先進(jìn)的抖動測量實用指南 |
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09:35 – 09:55 |
系統(tǒng)工程 |
高達(dá)12路相參信號的產(chǎn)生方案 |
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09:35 – 09:55 |
商業(yè)資源 |
高頻功放的數(shù)字預(yù)失真測量 |
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10:35 – 10:55 |
EMC/EMI & HSD 測量與建模 |
使用混合示波器進(jìn)行DDR內(nèi)存的調(diào)試與特征描述 |
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10:55 – 11:15 |
多個示波器系統(tǒng)同步至亞皮秒級 |
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11:20 – 11:40 |
多路數(shù)字總線測試的自動化開關(guān)解決方案 |
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4月10日 星期四 下午時段 |
01:30 – 01:50 |
系統(tǒng)工程 |
相控陣?yán)走_(dá)的自動化校準(zhǔn)方案 |
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01:50 – 02:15 |
使用通用可重構(gòu)體系結(jié)構(gòu)設(shè)計雷達(dá)系統(tǒng)仿真 |
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分組會議：
- EDA設(shè)計流程分組會議
- 電信系統(tǒng)未來發(fā)展趨勢及面臨的工程技術(shù)挑戰(zhàn)
8個主題展示：
- 太赫茲
- 大功率器件測試
- 有源/無源器件測試
- 5G技術(shù)
- EDA仿真與建模
- PXI/AXIe模塊化儀器
- 高速數(shù)字測試
- 通信數(shù)字測試
關(guān)于EDI CON
EDI CON是一年一度聚焦微波/高頻電子行業(yè)技術(shù)的盛會，為參會者提供了如何解決最新技術(shù)挑戰(zhàn)和解決方案的機(jī)會。會議包括嘉賓演講的全體會議、4場技術(shù)探討、互動研討會和小組討論。今年的技術(shù)主題包括如下重要話題，如高速數(shù)字設(shè)計、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換、GaN, GaAs 和RF CMOS 半導(dǎo)體、包絡(luò)線跟蹤和預(yù)失真線性化、MIMO空中測試、載波聚合、802.11ac、LTE 等。
會議的技術(shù)環(huán)節(jié)主要講述高頻/高速設(shè)計、測量/建模技術(shù)、系統(tǒng)工程和商業(yè)資源。技術(shù)論文已經(jīng)通過EDI CON 專業(yè)技術(shù)顧問委員會的審核，顧問委員會由EM分析、電路和系統(tǒng)模擬、測試認(rèn)證、RFIC、MMIC和高速半導(dǎo)體、高性能電纜/元器件和被動元器件領(lǐng)域的專家組成。
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