21ic訊 吉時利儀器日前宣布，2014年吉時利先進(jìn)器件測量和材料表征技術(shù)研討會將先后在以下城市舉行：廣州/10月14日，廈門/10月16日，武漢/10月21日。本次研討會旨在幫助廣大用戶能夠更進(jìn)一步了解吉時利最新的半導(dǎo)體測試產(chǎn)品技術(shù)和應(yīng)用，以及最新的器件測試系統(tǒng)和應(yīng)用技術(shù)。與會觀眾更是有機(jī)會與行業(yè)專家及吉時利公司的專業(yè)人士零距離接觸，詳細(xì)了解行業(yè)發(fā)展趨勢及產(chǎn)品技術(shù)。網(wǎng)上報名現(xiàn)已啟動(http://info.tek.com/CN-roadshow-LP.html)，歡迎業(yè)界人士提前預(yù)約報名。

“吉時利身為新興測量需求解決方案領(lǐng)導(dǎo)者，長期致力于不斷推出新產(chǎn)品、新技術(shù)和新方法，以滿足高精度、高速度、高靈敏度和分辨率的測試測量需求。我們歡迎中國工程師朋友們通過三地的研討會了解這些最新產(chǎn)品和方案，為他們的工程項目帶來最給力的測試解決方案。”吉時利市場部經(jīng)理潘斌說道，“從微弱信號測量到先進(jìn)的納米器件測試，從尖端的器件設(shè)計研發(fā)到制程可靠性的測試，從先進(jìn)的存儲器測試到新能源器件的測試，吉時利的經(jīng)典產(chǎn)品—半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)為廣大業(yè)內(nèi)客戶提供了強(qiáng)大的測試手段。”

屆時，吉時利資深技術(shù)應(yīng)用工程師將在研討會現(xiàn)場與出席本次研討會的工程師深入交流下面主要領(lǐng)域的技術(shù)與解決方案：

先進(jìn)的材料和器件特性分析系統(tǒng)

先進(jìn)的材料和器件特性分析系統(tǒng)4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝電學(xué)特性分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有無可比擬的測量靈敏度和精度，同時集成了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時利交互式測試環(huán)境，廣泛地應(yīng)用于先進(jìn)半導(dǎo)體材料和器件，綠色能源器件，納米電子材料和器件的特性分析。4200-SCS系統(tǒng)為科研人員提供了直觀而高級的功能，是一套功能強(qiáng)大的單機(jī)解決方案。

半導(dǎo)體C-V測試技術(shù)和技巧

電容-電壓(C-V)測試廣泛用于測量半導(dǎo)體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外，利用C-V測量還可以對其他類型的半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析，包括雙極結(jié)型晶體管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機(jī)TFT顯示器、光電二極管、碳納米管(CNT)和多種其他半導(dǎo)體器件。吉時利在C-V測試方面有著豐富的經(jīng)驗，可以提供最完整的C-V測試庫。

納米器件、半導(dǎo)體參數(shù)、WLR晶圓級可靠性和存儲器測試

本主題將介紹納米器件測試、半導(dǎo)體參數(shù)測試，以及WLR晶圓級可靠性測試、存儲器測試。專家將現(xiàn)場分享如何提高測試系統(tǒng)對新材料、器件和工藝進(jìn)行特征分析的能力，輕松實現(xiàn)DC、I-V、C-V和脈沖測試測量以及微弱信號測量難點與應(yīng)對方案等。

吉時利2450 型觸摸屏數(shù)字源表

吉時利2450型觸摸屏數(shù)字源表是全球首款容性觸摸屏SMU，所以加電后立即就能直觀輕松地設(shè)置和使用。本次研討會上，吉時利的專家將現(xiàn)場介紹全新推出的SMU 2450，提供完美功能展示。嶄新的界面與操作，絕對令您耳目一新!

使用電源精確測量直流功耗優(yōu)化產(chǎn)品耗電特性

低功耗產(chǎn)品的電池耗電特性是研發(fā)工程師關(guān)注的重要問題，吉時利PMS 2280S精密測量電源為產(chǎn)品的直流耗電測量提供了全新的解決方案。在輸出更大功率的同時，仍然保持了高品質(zhì)的電源性能，以及媲美六位半萬用表的測量精度。為工程師了解產(chǎn)品直流耗電特性提供了強(qiáng)有力的工具。