2012TD-LTE測試技術研討會:TD-LTE發(fā)展及與FDD差距
近日,“2012TD-LTE測試技術研討會”舉辦,對TD-LTE的發(fā)展以及與FDD的差距等進行研討。該研討會由工信部電信研究院和TD技術論壇合辦。
近日,TDD頻譜根據工信部的新的劃分,將包括2.6GHz頻段的2500-2690Hz等頻譜,這意味著TD-LTE開始邁向商業(yè)化。隨著這份的調整,以及TD-LTE測試技術的穩(wěn)步發(fā)展,TD-LTE正在穩(wěn)步發(fā)展。TD-LTE首次終端招標結果也已經公布,涉及TD-LTE數據卡、手機等多類終端共3萬多終端的采購,16家企業(yè)中標。
不過TD-LTE的發(fā)展還需要進一步推進,要認識到目前存在的不足,尤其是與FDD相比還存在較大差距。TD-LTE的關鍵環(huán)節(jié)是終端芯片和測試儀表,但這同時也是其薄弱環(huán)節(jié)。目前在測試儀表方面,TD-LTE還無法與FDD相比,但值得慶幸的是TD-LTE終端芯片與FDD差距已經逐漸縮小了。