近日，美國國家儀器(National Instruments，簡稱NI)，與思瑞浦微電子，簡稱3PEAK，宣布達成戰(zhàn)略合作，旨在借力NI高性能模塊化儀器實現(xiàn)實驗室自動化測試，提高實驗室驗證測試效率、加快產(chǎn)品開發(fā)速度。

據(jù)IC Insights預(yù)測，2018年集成電路的銷售額將增長8%左右，2017年的增長約為22%。而電源管理IC、專用模擬芯片和信號轉(zhuǎn)換器的強勁銷售預(yù)計將成為未來五年模擬增長的主要推動力。而在近年來中國模擬芯片市場上，智能終端設(shè)備、汽車電子等下游驅(qū)動力在近幾年推動了對模擬芯片的需求，一些優(yōu)秀的中國本土廠商也正在快馬加鞭迎頭趕上，在門檻極高的模擬領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)突破。

思瑞浦微電子科技(蘇州)股份有限公司，簡稱3PEAK。研發(fā)中心設(shè)在上海張江高科和蘇州工業(yè)園區(qū)，是國內(nèi)極少數(shù)聚焦高性能模擬信號鏈的IC設(shè)計公司，歷經(jīng)10年的發(fā)展與積累，在運算放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換、數(shù)模轉(zhuǎn)換、視頻濾波、音頻濾波、接口芯片、電源管理等領(lǐng)域，積累了大量正向研發(fā)IP,并持續(xù)實現(xiàn)大規(guī)模量產(chǎn)，同時公司產(chǎn)品被大量廣泛的應(yīng)用于國內(nèi)外一線品牌客戶，涵蓋工業(yè)領(lǐng)域、醫(yī)療設(shè)備、汽車電子、通信系統(tǒng)和信息安全等多種應(yīng)用領(lǐng)域。

模擬芯片由于其復(fù)雜性，在實驗室階段進行的驗證性測試尤為重要。在傳統(tǒng)的ADC/DAC測試中，均是采用的臺式儀器和分析軟件完成驗證測試，但是NI基于PXI的模塊化儀器在同步定時技術(shù)和多種儀表整合性上的優(yōu)勢大幅簡化了ADC與DAC產(chǎn)品測試難度，可將信號源、時鐘、數(shù)字Pattern Generator、源測量單元SMU、數(shù)字萬用表DMM等多種儀表整合在一個小型PXI機箱中，并結(jié)合圖形化編程軟件LabVIEW快速進行針對ADC/DAC的線性度和動態(tài)特性測試，降低實驗室自動化測試開發(fā)難度。

NI的開放性平臺在高集成度和高性能之間兼顧，在信號源上24-bit高精度和針對射頻的信號源滿足不同應(yīng)用場景的ADC的需求，同時NI是業(yè)界首個將傳統(tǒng)ATE平臺上的Pattern Generator整合到PXI平臺，在PXI平臺上實現(xiàn)ATE級的數(shù)字測試。

NI與3PEAK在ADC/DAC實驗室測試僅僅是一個開始，后面還將合作方向擴大到高精度ADC/DAC等產(chǎn)品線。正如NI亞太區(qū)半導(dǎo)體業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理何為女士所說的：“NI非常高興能夠和3PEAK這樣優(yōu)秀的本土模擬芯片設(shè)計公司進行合作。NI通過平臺化的解決方案幫助用戶在實驗室和量產(chǎn)測試中提升測試效率，幫助3PEAK及更多的中國本土優(yōu)秀模擬芯片設(shè)計公司提升產(chǎn)品競爭力。”

3PEAK產(chǎn)品與市場總監(jiān)宋浩然先生表示：“3PEAK非常高興能與NI進行合作。作為國內(nèi)極少數(shù)聚焦高性能模擬信號鏈的IC設(shè)計公司，高性能、高品質(zhì)、高性價比產(chǎn)品是3PEAK的核心競爭力，我們相信，借助于NI高性能模塊化儀器，3PEAK產(chǎn)品的測試效率將會提升，從而縮短產(chǎn)品研發(fā)周期。