21ic訊 泰克公司日前宣布，推出業(yè)內(nèi)首款針對下一代移動內(nèi)存技術(shù)---JEDEC LPDDR4的完整物理層及一致性測試解決方案。將于2015年開始采用的LPDDR4技術(shù)基于目前的LPDDR3技術(shù)，其數(shù)據(jù)速率將增加到4.26 Gb/s，并使用超低電壓核心使功耗降低約35%，以提高智能手機、可穿戴設(shè)備和平板電腦等移動設(shè)備的性能。

由于僅有1.1V的低輸入/輸出電壓、高數(shù)據(jù)速率以及使得測試非常不方便的緊湊機械設(shè)計，LPDDR4帶來了新的測試和測量挑戰(zhàn)。另外，參考電壓 (Vref)、讀突發(fā) (read burst) 和寫突發(fā) (write burst) 方面的許多變化也使得進行JESD209-4規(guī)范所要求的測試變得更加復(fù)雜。泰克為設(shè)計工程師測試其LPDDR4設(shè)計提供最完善的工具集。通過自動化的設(shè)置及測試執(zhí)行，泰克解決方案能夠?qū)⑵錅y試周期從之前的1個星期或更長時間縮短到1小時。

“LPDDR4無疑顯著增加了(內(nèi)存)確認對整個移動內(nèi)存生態(tài)系統(tǒng)的復(fù)雜性和挑戰(zhàn)，無論是對硅芯片供應(yīng)商還是系統(tǒng)集成商都是如此”，泰克公司高性能示波器總經(jīng)理Brian Reich表示，“為了高效地將這一令人激動的新技術(shù)推向市場，我們提供涵蓋整個內(nèi)存驗證范疇的必要測試和測量工具——從高性能示波器和探頭到先進分析軟件。”

通過此次發(fā)布，泰克的DDR-LP4分析軟件現(xiàn)在提供針對LPDDR4新標準的綜合性物理層測試和調(diào)試。通過自動化測試設(shè)置和執(zhí)行，DDR-LP4使內(nèi)存設(shè)計工程師自信其設(shè)計能夠完全符合內(nèi)存標準。如果內(nèi)存系統(tǒng)在一致性測試中失敗，設(shè)計工程師能夠快速切換到調(diào)試模式，并使用泰克示波器的強大Visual Trigger(可視觸發(fā))功能等工具來隔離相關(guān)事件，以便利用DPOJET抖動和眼圖測量工具集進行更深入的根本原因分析。

LPDDR4插補器

泰克還與合作伙伴Nexus Technology聯(lián)合推出業(yè)內(nèi)首款具有兩項插補器設(shè)計專利的LPDDR4內(nèi)存器件插補器。EdgeProbe™插補器是為滿足移動設(shè)計的嚴格機械要求而設(shè)計的，而帶插座插補器具有使用簡便、可重復(fù)使用和器件可互換的特點。

定價與供貨信息

提供LPDDR4支持的選項DDR-LP4 現(xiàn)已供貨。