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LED照明測(cè)試技術(shù)分析——驅(qū)動(dòng)電源可靠性和能效成關(guān)鍵
近幾年LED作為新型節(jié)能光源在全球和中國(guó)都贏得得了很高的投資熱情和極大關(guān)注，并由戶外向室內(nèi)照明應(yīng)用市場(chǎng)滲透，中國(guó)也涌現(xiàn)出大大小小上萬(wàn)家LED照明企業(yè)。讓LED照明大放異彩的最主要原因正是其宣揚(yáng)的具有節(jié)能、環(huán)保、
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DDR測(cè)試技術(shù)和工具是否跟上了時(shí)代步伐？
DDR是雙倍數(shù)據(jù)速率的SDRAM內(nèi)存，如今大多數(shù)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、服務(wù)器產(chǎn)品的主流存儲(chǔ)器技術(shù)，并且不斷向嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域滲透。孰不知，隨著iPhone等大牌智能手機(jī)的采納，DDR內(nèi)存儼然成為智能手機(jī)轉(zhuǎn)變的方向之一，例如韓國(guó)
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“混合動(dòng)力及燃料電池電動(dòng)汽車整車性能與排放測(cè)試技術(shù)研究”課題通過(guò)驗(yàn)收
近日，“十一五”國(guó)家863計(jì)劃“節(jié)能與新能源汽車”項(xiàng)目“混合動(dòng)力及燃料電池電動(dòng)汽車整車性能與排放測(cè)試技術(shù)研究”在天津通過(guò)了項(xiàng)目驗(yàn)收。在重型混合動(dòng)力電動(dòng)汽車測(cè)試技術(shù)方面，研究建
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LED照明測(cè)試技術(shù)分析——驅(qū)動(dòng)電源可靠性和能效成關(guān)鍵
近幾年LED作為新型節(jié)能光源在全球和中國(guó)都贏得得了很高的投資熱情和極大關(guān)注，并由戶外向室內(nèi)照明應(yīng)用市場(chǎng)滲透，中國(guó)也涌現(xiàn)出大大小小上萬(wàn)家LED照明企業(yè)。讓LED照明大放異彩的最主要原因正是其宣揚(yáng)的具有節(jié)能、環(huán)保、
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NI新興半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)研討會(huì)開跑
美商國(guó)家儀器(NI)將于今年4月10日在新竹科技生活館舉辦研討會(huì)，介紹如何將PXI平臺(tái)應(yīng)用在R&D的研發(fā)驗(yàn)證與產(chǎn)線的大量生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)，讓R&D端與產(chǎn)線端可以使用相同的測(cè)試系統(tǒng)，以大幅減少測(cè)試成本，并藉由PXI平臺(tái)同步測(cè)試
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新環(huán)境下如何應(yīng)對(duì)嚴(yán)峻的微波與射頻測(cè)試技術(shù)挑戰(zhàn)
由專注于微波、射頻、無(wú)線技術(shù)的行業(yè)門戶網(wǎng)站，微波射頻網(wǎng)與中國(guó)歷史最悠久、最權(quán)威的中國(guó)電子展聯(lián)合主辦的“2012微波\射頻測(cè)試與測(cè)量研討會(huì)”將于4月11日在深圳會(huì)展中心6樓正式啟動(dòng)，本次會(huì)議主題將圍繞&
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LTE測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí)
長(zhǎng)期演進(jìn)(LTE)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)給測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù)，在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù)，且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線配置以最大
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絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
近年來(lái)，隨著智能手機(jī)操作系統(tǒng)的快速發(fā)展，在技術(shù)和需求層面上為手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試提供了豐富土壤，手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試越發(fā)成為廣受矚目的熱門技術(shù)和重要研究領(lǐng)域。筆者在從事OPhone自動(dòng)化測(cè)試工作過(guò)程中，對(duì)業(yè)內(nèi)開展自動(dòng)化
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絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
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絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
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絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
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絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
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絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
絕非浮云——手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)漫談及OPhone自動(dòng)化測(cè)試概覽
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LTE測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí)
長(zhǎng)期演進(jìn)(LTE)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)給測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù)，在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù)，且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線配置以最大
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中小功率光伏陣列I-V特性測(cè)試技術(shù)研究
摘要：這里采用一種基于動(dòng)態(tài)電容充電方法，結(jié)合高速A／D采樣和數(shù)據(jù)處理，實(shí)現(xiàn)對(duì)光伏陣列的現(xiàn)場(chǎng)I-V特性測(cè)試。該方法具有安全性高、體積小、成本低、精度高等特點(diǎn)，并可用于更大功率的光伏陣列現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。詳細(xì)介紹了系統(tǒng)
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鍺化硅（SiGe）技術(shù)在測(cè)試技術(shù)中的應(yīng)用
鍺化硅技術(shù)(Silicon germanium)從20世紀(jì)80年代問(wèn)世以來(lái)，是一種高于普通硅器件的高頻半導(dǎo)體材料，應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛，尤其在新一代移動(dòng)設(shè)備中，是良好的高功率放大器，例如：下變頻器、低噪聲放大器（LNA）、前置放大
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板級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)方案介紹
1.引言 在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國(guó)防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專門的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過(guò)建立故障診斷模型
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下一代蜂窩測(cè)試技術(shù)
關(guān)鍵字：蜂窩測(cè)試 測(cè)試儀器 射頻本文主要介紹器件測(cè)試模式的功能對(duì)測(cè)試儀器的要求，設(shè)計(jì)人員需要專用的非信令測(cè)試設(shè)備解決方案，以便順利地引入新的非信令芯片組，最終提供全新的、更快速的測(cè)試技術(shù)。與此同時(shí)，本文
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我國(guó)儀器儀表的未來(lái)發(fā)展方向
工業(yè)自動(dòng)化儀表重點(diǎn)發(fā)展基于現(xiàn)場(chǎng)總線技術(shù)的主控系統(tǒng)裝置及智能化儀表、特種和專用自動(dòng)化儀表；全面擴(kuò)大服務(wù)領(lǐng)域，推進(jìn)儀器儀表系統(tǒng)的數(shù)字化、智能化、網(wǎng)絡(luò)化，完成自動(dòng)化儀表從模擬技術(shù)向數(shù)字技術(shù)的轉(zhuǎn)變，5年內(nèi)數(shù)字儀
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板級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)方案介紹
1.引言 在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國(guó)防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專門的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過(guò)建立故障診斷模型
