本文介紹了LED視角對顯示屏亮度均勻性的視覺影響,并沒有考慮到其它LED封裝形式以及全彩色LED顯示屏的色燈排列,模塊發(fā)光分布的不均勻性以及混色效果等更為復(fù)雜的情況,由于篇幅所限,以后再撰文詳述。
7月29日,國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會決定對2011年第一批擬立項國家標(biāo)準(zhǔn)項目公開征求意見。征求意見截止時間為2011年8月29日。 此次國標(biāo)委公布的2011年第一批擬立項國家標(biāo)準(zhǔn)項目中,包括led相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)23項,涉及外延芯片、封
為了發(fā)展照明led技術(shù),發(fā)達(dá)國家都非常重視LED測試方法及標(biāo)準(zhǔn)的研究。例如美國國家標(biāo)準(zhǔn)檢測研究所(NIST)組織國際知名測試專家開展LED測試的研究,重點(diǎn)研究LED發(fā)光特性、溫度特性和光衰特性等測試方法,試圖建立整套的
本文結(jié)合國防軍工電子標(biāo)準(zhǔn)化研究項目“直流電子負(fù)載測試方法研究”,提出了直流電子負(fù)載測試方法標(biāo)準(zhǔn)草案。草案中,提出了規(guī)范的直流電子負(fù)載名詞術(shù)語,在直流電子負(fù)載試驗驗證平臺試驗驗證的基礎(chǔ)上,提出了參數(shù)的測試方法。
一、主體思路: 因為發(fā)光二極體具有單向?qū)щ娦?,所以我們使?R × 10k 檔可測出其正、反向電阻。一般正向電阻應(yīng)小於 30k 歐姆,反向電阻應(yīng)大於 1M 歐姆。若正、反向電阻均為零,說明內(nèi)部擊穿短路。若正、反向
一、主體思路: 因為發(fā)光二極體具有單向?qū)щ娦?,所以我們使?R × 10k 檔可測出其正、反向電阻。一般正向電阻應(yīng)小於 30k 歐姆,反向電阻應(yīng)大於 1M 歐姆。若正、反向電阻均為零,說明內(nèi)部擊穿短路。若正、反向
21ic訊 SEMI于7月12日發(fā)布了一項用于光伏 (PV)制造的硅原料新標(biāo)準(zhǔn)SEMI PV17-0611。該標(biāo)準(zhǔn)涉及到利用多種工藝方法生產(chǎn)的多晶硅材料詳細(xì)規(guī)范,包括化學(xué)氣相沉積(CVD)法、冶金還原法和其他工藝方法。CVD工藝中包括了所
我們往往需要對這個反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進(jìn)行測量,以便對它的開環(huán)特性建立模型。但這樣的測試通??偸呛芾щy的。例如,積分器的低頻增益可以非常高,一般會超出常用測試儀的測量范圍。所以,這些測試的目的是,使用現(xiàn)有的工具和少量的專用電路,以最小的工作量,快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。
ASIC設(shè)計的平均門數(shù)不斷增加,這迫使設(shè)計團(tuán)隊將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測試相關(guān)的問題上,以達(dá)到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設(shè)計(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法,但對嵌入式RAM、多時鐘域、復(fù)位線和嵌入式IP的測
計算機(jī)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)化綜合布線系統(tǒng)(StructuredCablingSystem,SCS)是美國貝爾實驗室專家們經(jīng)過多年研究推出的基于星形拓樸結(jié)構(gòu)的模塊系統(tǒng),也是目前局域網(wǎng)建設(shè)首選的系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有實用、靈活、經(jīng)濟(jì)、可模塊化和可擴(kuò)充
摘要:在應(yīng)用安防監(jiān)控攝像機(jī)時,經(jīng)常會出現(xiàn)明暗反差較大或逆光的場景,使得圖像中明亮的區(qū)域曝光過度、較暗的區(qū)域欠曝光,而不能看清圖像最亮與最暗部分。因此,各攝像機(jī)廠家競相開發(fā)了寬動態(tài)攝像機(jī)。但如何檢測其
摘要:在應(yīng)用安防監(jiān)控攝像機(jī)時,經(jīng)常會出現(xiàn)明暗反差較大或逆光的場景,使得圖像中明亮的區(qū)域曝光過度、較暗的區(qū)域欠曝光,而不能看清圖像最亮與最暗部分。因此,各攝像機(jī)廠家競相開發(fā)了寬動態(tài)攝像機(jī)。但如何檢測其
信號完整性的測試手段很多,涉及的儀器也很多,因此熟悉各種測試手段的特點(diǎn),以及根據(jù)測試對象的特性和要求,選用適當(dāng)?shù)臏y試手段,對于選擇方案、驗證效果、解決問題等硬件開發(fā)活動,都能夠大大提高效率,起到事半功
現(xiàn)在,不少求職者會遇到這樣的情況:在面試之前,你會被領(lǐng)到一臺電腦前,做一堆稀奇古怪的問題,然后會出來一張分析結(jié)果,上面還有不少圖表等顯示你在某方面的分值,還有一些分析的文字或者建議。 不僅企業(yè)在招聘
人才測試,知己知彼的最新途徑
摘要:針對Altera公司現(xiàn)有FPGA在線測試方法無法適應(yīng)大批量測試/激勵數(shù)據(jù)自動傳輸?shù)那闆r,論文提出了一種基于SoPC的FPGA在線測試方法,該方法采用Nios II控制數(shù)據(jù)傳輸過程、DMA協(xié)助數(shù)據(jù)傳輸、FIFO作為數(shù)據(jù)暫存,采用
一、接地電阻測試要求: a. 交流工作接地,接地電阻不應(yīng)大于4Ω; b. 安全工作接地,接地電阻不應(yīng)大于4Ω; c. 直流工作接地,接地電阻應(yīng)按計算機(jī)系統(tǒng)具體要求確定; d. 防雷保護(hù)地的接地電阻不應(yīng)大于
一種基于SoPC的FPGA在線測試方法
摘要:根據(jù)原電子工業(yè)部批準(zhǔn)發(fā)布實施的SJ/T10542標(biāo)準(zhǔn),介紹交流穩(wěn)壓電源幾項主要動態(tài)指標(biāo)及其測試方法。關(guān)鍵詞:標(biāo)準(zhǔn)動態(tài)指標(biāo)測試方法Test of Dynamic Index about AC Regulated Power Supply Abstract: According t
摘要:EMC性能是交流穩(wěn)壓電源的一項重要指標(biāo)要求?;趯涣鞣€(wěn)壓電源使用價值的要求,其EMC性能應(yīng)當(dāng)是除了本身能達(dá)到較高嚴(yán)酷度等級的抗擾度指標(biāo)及合格的電磁干擾限制外,更重要的是要為其負(fù)載(對EMI敏感的電子設(shè)備