ASIC設計的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設計團隊將20%到50%的開發(fā)工作花費在與測試相關的問題上，以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規(guī)則被認為是好做法，但對嵌入式RAM、多時鐘域、復位線和嵌入式IP的測試處理將顯著影響設計進度。即使解決了上述所有問題，開發(fā)者也幾乎不可能達到100%的粘著性故障(stuck-at fault)覆蓋率。其結果是，ASIC設計常常在故障覆蓋率低于90%的情況下就投入生產(chǎn)，從而造成不必要的器件缺陷率和板級故障。

基于流程的方法

        為了在一個設計中插入掃描測試結構，第一個要做的步驟是用掃描觸發(fā)器替換所有的觸發(fā)器。有時候，這可以當成綜合過程的一部分來做，盡管它以往是在設計流程的后期完成。插入掃描觸發(fā)器允許更高程度地控制設計中的各個節(jié)點，從而提高故障覆蓋率。不過，傳統(tǒng)的掃描技術不能完全控制或觀測設計中的所有用戶網(wǎng)絡，因而會留下許多未測試的結構。

        最常見一類的掃描觸發(fā)器在數(shù)據(jù)輸入端的前面包含一個多路復用器。在測試模式中，這使得數(shù)據(jù)可以被移進觸發(fā)器；在用戶模式中，這允許一個正常的邏輯信號被存儲。

傳統(tǒng)的ASIC掃描測試通常需要以下步驟：

1、準備一個測試時鐘，而且測試電路必須允許該時鐘施加到所有掃描觸發(fā)器上。

2、在測試期間，所有觸發(fā)器均處于測試模式。

3、在用戶模式操作期間，所有觸發(fā)器均處于正常工作模式。

        值得注意的是，當采用基于多工器的掃描觸發(fā)器時，多路復用器通常被插在用戶時鐘的主路徑上，以便在測試模式下測試時鐘可以被傳遞給所有觸發(fā)器。所有觸發(fā)器將同時被設置為測試模式。

        為達到足夠的故障覆蓋率和可接受的器件缺陷率，傳統(tǒng)的測試技術需要許多DFT規(guī)則。不遵循DFT規(guī)則的后果是，許多故障無法采用傳統(tǒng)掃描方法進行測試，從而使總的故障覆蓋率受損。

        為了獲得合理的粘著性故障覆蓋率，一個設計通常必須是全同步的。因此，這成為第一個DFT規(guī)則。不幸的是，許多設計、特別是網(wǎng)絡和通信領域的設計需要多個異步時鐘，這就不可能不違反這條規(guī)則。而且，為了追求速度，綜合過程經(jīng)常會產(chǎn)生重收斂的冗余邏輯結構，這又是違反規(guī)則的。

公認的DFT規(guī)則包括：

1、設計必須以一個公共時鐘為準，保持完全同步。

2、在測試期間，存儲單元的異步輸入必須由一個外部引腳去使能。

3、只能使用專為支持自動測試模式生成(ATPG)而設計的連續(xù)庫單元。有時要禁止使用下降沿觸發(fā)的觸發(fā)器。

4、不允許有門控時鐘。它們在測試期間必須旁路掉。

5、不應使用內(nèi)部三態(tài)總線；首選是多路復用器。

6、不允許有組合邏輯環(huán)路；不允許有重收斂的冗余邏輯。

7、在測試期間，外部總線必須禁止使能。

8、包含不同測試方法的各個IP模塊之間的接口必須是完全可測試的。

自動測試

        實現(xiàn)自動測試的前提是：如果所有與測試相關的電路都嵌入在基礎陣列中，那么與測試相關的事情就可以從ASIC開發(fā)過程中去除。嵌入的自動測試電路不僅獨立于用戶設計，而且是在獲知用戶設計之前構建的。

        因為自動測試電路嵌入在ASIC的基礎結構中，所以它的工作方式與傳統(tǒng)的掃描測試非常不同。

        用于傳統(tǒng)ASIC的掃描測試方法要求設計中的所有掃描觸發(fā)器在同一時間內(nèi)處于測試模式，而自動測試的順序操作方式允許在任何特定的測試周期內(nèi)，一些模塊處于測試模式，而其它模塊仍處于正常模式。在自動測試ASIC內(nèi)的功能模塊具有“控制”和“觀測”能力。

        通過隔離單獨的模塊和網(wǎng)絡，這使得開發(fā)者可以對制造過程進行測試，以完全驗證硅片的完整性，而無需考慮用戶設計和DFT規(guī)則。

        為達到這個目的，開發(fā)者還需要一種新類型的模塊。這種模塊內(nèi)獨特的Q_Cell包含“控制”和“觀測”能力，并且能夠被配置成組合邏輯、觸發(fā)器或RAM。這意味著所有網(wǎng)絡都能夠被控制，而不論它們是代表時鐘還是置位/復位，也不論它們是否是冗余結構或組合邏輯環(huán)路的一部分。

        一種四輸入多工型單元(P_Cell)可以用來實現(xiàn)大多數(shù)組合功能，或者與Q_Cell組合在一起，以實現(xiàn)像全加器這樣的復雜功能。

        自動測試不僅能同時捕獲器件內(nèi)所有信號的狀態(tài)，而且還能恢復那些狀態(tài)，因此操作可以從任何指定的初始條件下開始。存儲器和觸發(fā)器可以被預置，以仿真故障或異常的功耗偏差。這個功能對于現(xiàn)場診斷問題很有用。

        自動測試是一種軟硬件結合的測試方法，它取消了所有的DFT規(guī)則，并且總能提供100%的粘著性故障覆蓋率。隨著質(zhì)量要求和器件復雜度的增高，這種覆蓋率變得越來越重要。自動測試已經(jīng)成功地用于100多個結構化ASIC設計中，但它也可以應用于標準單元ASIC設計。